基(ji)礎信(xin)息Product information

產品(pin)名稱(cheng)：碳化矽SiC、氮化鎵GaN、IGBT曲(qu)線參數測試(shi)儀(yi)

產品(pin)型(xing)號(hao)：

更(geng)新時(shi)間：2025-06-11

產品(pin)簡(jian)介：

碳化矽SiC、氮化鎵GaN、IGBT曲(qu)線參數測試(shi)儀(yi)，適(shi)用於MOSFET、CMOS，IGBT，三極(ji)管，二極(ji)管等(deng)材(cai)料(liao)、工(gong)藝(yi)和半導(dao)體(ti)器件(jian)電(dian)流(liu)-電(dian)壓(ya) (I-V)、電容(rong)-電(dian)壓(ya) (C-V) 特性(xing)測(ce)試(shi)。日(ri)本(ben)巖(yan)崎IWATSU半導(dao)體(ti)特(te)性(xing)曲(qu)線圖(tu)示(shi)儀3KV-15KV，400A-8000A；CS-3300，CS-3200，CS-5400，CS-5300，CS-5200，CS-10800

產品(pin)特(te)性(xing)Product characteristics

專(zhuan)業儀器設備與測試(shi)方案(an)供應商(shang)——上海(hai)堅融(rong)實(shi)業有(you)限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(you)（上海(hai)）測量(liang)儀器有(you)限公司JETYOO INSTRUMENTS，為(wei)原(yuan)安(an)捷(jie)倫Agilent【現(xian)是德(de)KEYSIGHT】品(pin)牌(pai)技(ji)術經(jing)理(li)-堅JET與(yu)吉(ji)時(shi)利KEITHLEY【現(xian)泰(tai)克Tektronix】品(pin)牌(pai)產品(pin)經(jing)理(li)-融(rong)YOO共同創(chuang)辦，專(zhuan)註(zhu)工業測試(shi)領(ling)域(yu)十(shi)六(liu)年，誌(zhi)在(zai)破(po)舊立(li)新(xin)！*進(jin)口(kou)儀器設備大(da)多(duo)數廠家僅(jin)在國(guo)內設銷(xiao)售(shou)點(dian)，但技(ji)術支(zhi)持薄(bo)弱(ruo)甚至沒(mei)有(you)，而代理經(jing)銷(xiao)商也(ye)只做商務(wu)，不做售(shou)前技(ji)術支(zhi)持/測(ce)試(shi)方案(an)和售(shou)後使用培訓/維(wei)修(xiu)校(xiao)準的(de)空(kong)白(bai)。我(wo)們(men)的(de)技(ji)術型(xing)銷(xiao)售(shou)均為(wei)本科以(yi)上學歷，且均有(you)10年以(yi)上測試(shi)行業經(jing)驗，與(yu)客(ke)戶互(hu)惠(hui)互(hu)利合(he)作雙贏(ying)，重在協(xie)助(zhu)用戶采(cai)購(gou)與技(ji)術工(gong)程(cheng)師的(de)工(gong)作(zuo)，提(ti)供較有(you)競(jing)爭力的(de)供應鏈管理與售(shou)前售(shou)後技術支(zhi)持。堅融(rong)實(shi)業——壹(yi)家致力於為祖(zu)國(guo)用戶提(ti)供儀器設備、測試(shi)方案(an)、技(ji)術培訓、維(wei)修(xiu)計(ji)量(liang)全面(mian)服(fu)務的(de)儀(yi)器設備綜(zong)合(he)服(fu)務商(shang)。

  碳(tan)化矽SiC、氮化鎵GaN、IGBT曲(qu)線參數測試(shi)儀(yi)，適(shi)用於MOSFET、CMOS，IGBT，三極(ji)管，二極(ji)管等(deng)材(cai)料(liao)、工(gong)藝(yi)和半導(dao)體(ti)器件(jian)電(dian)流(liu)-電(dian)壓(ya) (I-V)、電容(rong)-電(dian)壓(ya) (C-V) 特性(xing)測(ce)試(shi)。

日(ri)本(ben)巖(yan)崎IWATSU半導(dao)體(ti)特(te)性(xing)曲(qu)線圖(tu)示(shi)儀3KV-15KV，400A-8000A；CS-3300，CS-3200，CS-5400，CS-5300，CS-5200，CS-10800適(shi)用於碳化矽SiC、氮化鎵GaN、IGBT、二極(ji)管，晶體(ti)管(guan)，場效(xiao)應管(guan) MOS-FET， 可(ke)控矽 SCR，達林頓(dun)陣(zhen)列(lie)，光(guang)電(dian)耦(ou)合(he)，壓(ya)變電阻(zu) VARISTOR，繼電(dian)器 RELAY 等(deng)半導(dao)體(ti)器件(jian)反(fan)向(xiang) 恢(hui)復(fu)特(te)性(xing)，短路(lu)特(te)性(xing)，雪(xue)崩測試(shi)，結(jie)電(dian)容(rong)/電(dian)阻(zu)測試(shi)，漏(lou)電(dian)參數，擊穿參數，增(zeng)益參數，導(dao) 通(tong)參數，混合參數，電流-電壓(ya) (I-V)、電容(rong)-電(dian)壓(ya) (C-V) 特性(xing)測(ce)試(shi)。

日(ri)本(ben)IWATSU Curve Tracer CS-3300圖(tu)示(shi)儀是曲(qu)線圖(tu)示(shi)儀, 可(ke)以(yi)支(zhi)持Z大(da)峰值從(cong)3,000V/400A至15,000V/8,000A. CS系(xi)列不僅(jin)適(shi)用於高電(dian)壓(ya)或(huo)高電(dian)流(liu)功率(lv)器件(jian) (如 IGBT 和功率(lv) MOSFET) 的(de)特(te)性(xing)測(ce)試(shi), 還(hai)可(ke)用於各種(zhong)半導(dao)體(ti)器件(jian) (如晶體(ti)管(guan), 二極(ji)管和 LED) 的(de)特(te)性(xing)測(ce)試(shi), 及電力(li)電子(zi)器件(jian) (如 SiC 和 GaN) 的(de)電(dian)容(rong)測(ce)試(shi) (選件(jian) CS-603A/CS-605A).  測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)可(ke)以(yi)存(cun)儲在(zai)內存中, 或(huo)通(tong)過(guo)標(biao)配(pei)的(de)USB 端口和 LAN 接口(kou)被(bei)發送到 PC.

產品(pin)特(te)點(dian)

顯示(shi)屏: 8.4″ 彩色TFT液晶顯示(shi)屏

正(zheng)確測(ce)試(shi)半導(dao)體(ti)如IGBTs, MOSFETs, 晶體(ti)管(guan)和二極(ji)管的(de)Z佳(jia)解(jie)決方案(an)

采(cai)用電(dian)路(lu)圖(tu)模(mo)式(shi)顯示(shi)內部的(de)配(pei)線(xian)狀(zhuang)態(tai) (CONFIGURATION), 更(geng)好地(di)避(bi)免(mian)模(mo)塊測試(shi)時(shi)的(de)誤(wu)操(cao)作(zuo)(附圖(tu))

WAVE模(mo)式(shi): 能確認(ren)實(shi)際(ji)印(yin)加(jia)電(dian)流(liu)和電壓(ya)波(bo)形的(de)監(jian)察模(mo)式(shi) (附圖(tu))

可(ke)以(yi)像(xiang)示(shi)波(bo)器壹樣(yang)通(tong)過(guo)觀(guan)察模(mo)塊上實際印加(jia)電(dian)流(liu)和電壓(ya)的(de)波(bo)形來(lai)確定脈(mai)寬和實際(ji)測(ce)試(shi)點(dian) (Timing)

可(ke)通(tong)關(guan)確認(ren)實(shi)際(ji)波(bo)形, 適(shi)時調整脈(mai)寬和測試(shi)點(dian)

避(bi)免(mian)示(shi)波(bo)器的(de)探(tan)棒(bang)影(ying)響(xiang), 可(ke)確認(ren)實(shi)時(shi)的(de)異(yi)常(chang)信(xin)號(hao)

可(ke)非(fei)常容(rong)易地(di)確認(ren)模(mo)塊發熱等(deng)引(yin)起的(de)振蕩等(deng)熱異(yi)常(chang)情(qing)況

可(ke)實現(xian)SiC和GaN等(deng)器件(jian)的(de)電(dian)容(rong)測(ce)試(shi) (選件(jian)CS-603A/CS-605A)

可(ke)實現(xian)晶圓(yuan)和芯片上的(de)電(dian)容(rong)測(ce)試(shi) (探(tan)針(zhen)臺和選件(jian)CS-603A/CS-605A)

標(biao)配(pei)LAN和USB接口(kou)

日(ri)本(ben)IWATSU Curve Tracer CS-3300圖(tu)示(shi)儀產品(pin)應(ying)用

適(shi)用於高電(dian)壓(ya)或(huo)高電(dian)流(liu)功率(lv)器件(jian) (如IGBT和功率(lv)MOSFET) 及半導(dao)體(ti)器件(jian) (如晶體(ti)管(guan), 二極(ji)管和 LED) 的(de)特(te)性(xing)測(ce)試(shi)

電(dian)力(li)電(dian)子(zi)器件(jian) (如 SiC和GaN) 的(de)電(dian)容(rong)測(ce)量(liang) (選件(jian)CS-603A/CS-605A)

可(ke)實行晶圓(yuan)和芯片上的(de)電(dian)容(rong)測(ce)試(shi) (探(tan)針(zhen)臺和選件(jian)CS-603A/CS-605A)

靜(jing)態(tai)特(te)性(xing)測(ce)試(shi)包(bao)括(kuo)漏(lou)電(dian)流(liu), 飽和電壓(ya), VF和Vth (附圖(tu))

傳輸(shu)特(te)性(xing) (Vge-Ic/Vge-Vce) 和電路(lu)模(mo)塊的(de)測(ce)試(shi)功能

器件(jian)測(ce)試(shi)

可(ke)以(yi)在(zai)短時間內執(zhi)行多個(ge)器件(jian)的(de)測(ce)試(shi)和記(ji)錄. 操(cao)作(zuo)員只(zhi)需(xu)根據(ju)器件(jian)替換(huan)和連(lian)接(jie)更(geng)改來(lai)輸入(ru)樣(yang)本(ben)名稱(cheng), 以(yi)重復相同的(de)測(ce)試(shi).  在(zai)既(ji)定條件(jian)下(xia)判斷(duan) (通(tong)過(guo)/失(shi)敗(bai)) 將顯示(shi)每個(ge)測試(shi)與(yu)圖(tu)像(xiang)和波(bo)形數據(ju)也(ye)將自(zi)動(dong)存(cun)儲(附圖(tu))

半導(dao)體(ti)溫度特(te)性(xing)測(ce)試(shi)評(ping)估(gu)

CS-810控(kong)制(zhi)加(jia)熱(re)板. 儘(儘)管測(ce)試(shi)需(xu)要(yao)很(hen)長的(de)時(shi)間(jian) (如溫度測(ce)試(shi)), 仍可(ke)自(zi)動(dong)執(zhi)行 (附圖(tu))

痠勞(lao)測(ce)試(shi)

在(zai)痠勞(lao)測(ce)試(shi)中可(ke)以(yi)包(bao)含各種(zhong)各樣(yang)的(de)參數. CS-810 軟(ruan)件(jian)支(zhi)持長(chang)時(shi)間(jian)可(ke)靠性(xing)測(ce)試(shi).  通(tong)過(guo)曲(qu)線圖(tu)示(shi)CS-810監察電壓(ya)和電流(liu), 那(na)些(xie)曲(qu)線的(de)區(qu)別能被記(ji)錄下(xia)來(lai).  痠勞(lao)測(ce)試(shi)可(ke)以(yi)實(shi)現(xian)多種(zhong)參數的(de)自(zi)動(dong)測(ce)量(liang).  偏置會停止(zhi)超越(yue)電(dian)流(liu)或(huo)電(dian)壓(ya)的(de)限(xian)制(zhi)值並以(yi)此(ci)設定為(wei)下(xia)限和上限的(de)極(ji)限值.  CS-810 軟(ruan)件(jian)測(ce)量(liang) Ic 或(huo) Vce (區(qu)間(jian): 10s 至 2h) 和保(bao)持(chi)壹定的(de)電(dian)壓(ya)或(huo)電(dian)流(liu) (10s 至 1,000h) (附圖(tu))

與(yu)探(tan)針(zhen)臺共用時(shi), 可(ke)實現(xian)晶圓(yuan)測(ce)試(shi) (附圖(tu))

碳(tan)化矽SiC、氮化鎵GaN、IGBT曲(qu)線參數測試(shi)儀(yi)產品(pin)功能

電(dian)子(zi)電(dian)力(li)元件(jian)或(huo)器件(jian)測(ce)試(shi)波(bo)形特性(xing)的(de)功能顯示(shi) (附圖(tu))

配(pei)備選件(jian) CS-603A (3kV) 或(huo) CS-605A (5kV), 可(ke)實現(xian)電子(zi)電力器件(jian)如SiC和GaN等(deng)的(de)電(dian)容(rong)測(ce)試(shi)

在(zai)3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作(zuo)自(zi)動(dong)與(yu)掃(sao)描(miao)電容(rong)測(ce)試(shi)

曲(qu)線圖(tu)示(shi)儀的(de)測(ce)試(shi)適(shi)配器可(ke)用於各種(zhong)器件(jian)封(feng)裝(zhuang)類型

測(ce)試(shi)參數包括:

Cies, Ciss (輸(shu)入(ru)電(dian)容(rong))

Coss (輸(shu)出電容(rong))

Cres, Crss (反(fan)向(xiang)傳輸(shu)電(dian)容(rong))

Ct (端子間的(de)電(dian)容(rong))

Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已計(ji)算(suan))

Rg (柵(zha)極(ji)電阻(zu))

可(ke)實行晶圓(yuan)和芯片上的(de)電(dian)容(rong)測(ce)試(shi) (探(tan)針(zhen)臺和選件(jian)CS-603A/CS-605A)

具(ju)有(you)外(wai)部聯(lian)鎖功能的(de)恒(heng)溫箱(xiang)高低(di)溫試(shi)驗

與(yu)電(dian)腦(nao)全(quan)自(zi)動(dong)化結(jie)合(he)

CS-810半導(dao)體(ti)參數測試(shi)軟(ruan)件(jian) (選件(jian))

通(tong)過(guo)對(dui)主(zhu)機(ji)的(de)遠(yuan)程(cheng)控(kong)制(zhi), 可(ke)實現(xian)各種(zhong)自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)的(de)軟(ruan)件(jian). 傳統(tong)上通(tong)過(guo)曲(qu)線圖(tu)示(shi)儀難以(yi)進(jin)行的(de)疲(pi)勞(lao)測(ce)試(shi). 加(jia)熱(re)實(shi)驗或(huo)同時(shi)控制(zhi)恒(heng)溫箱(xiang)進(jin)行多溫度點(dian)實驗都(dou)可(ke)使用本(ben)軟(ruan)件(jian)來(lai)實現(xian) (附圖(tu))

USB 存(cun)儲器

圖(tu)像(xiang): 數據(ju)和設置條件(jian)

格(ge)式(shi): TIFF, BMP, PNG保(bao)存(cun)格式(shi) (背(bei)景(jing)可(ke)選擇(ze)為(wei)黑(hei)色(se)或(huo)白(bai)色(se), 彩色或(huo)單(dan)色(se))

波(bo)形數據(ju): 文本(ben)文件(jian)和二進制(zhi)文件(jian)

遠(yuan)程(cheng)控(kong)制(zhi)工具(ju)

如因保(bao)密(mi)需(xu)要(yao)而冇法使(shi)用USB存(cun)儲器時, 可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)安(an)裝(zhuang)在(zai)PC的(de)遠(yuan)程(cheng)控(kong)制(zhi)工具(ju)進行數據(ju)存(cun)取

以(yi)太(tai)網

標(biao)準(準)配(pei)置 (主機(ji)背(bei)面(mian))

測(ce)試(shi)點(dian)數可(ke)調整.可(ke)根據(ju)需(xu)要(yao)的(de)掃(sao)描(miao)速度(du)及分(fen)辨(bian)率(lv)來(lai)設置. 根據(ju)不同用途可(ke)改變(bian)掃(sao)描(miao)方向(xiang).  同時(shi)具有(you)客(ke)戶功能, 可(ke)以(yi)僅(jin)對(dui)某(mou)壹(yi)段(duan)進行掃(sao)描(miao), 特別是(shi)在(zai)自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)時(shi)可(ke)以(yi)實(shi)現(xian)高速(su)且高分(fen)辨(bian)率(lv)的(de)測(ce)試(shi)(附圖(tu))

用戶友(you)好(hao)的(de)測(ce)量(liang)屏幕(mu)

圖(tu)形配置屏幕(mu)    晶體(ti)管(guan)V-I特(te)性(xing)示(shi)例（跟(gen)蹤(zong)模(mo)式(shi)）

圖(tu)形配置選擇(ze)    晶體(ti)管(guan)I-V特(te)性(xing)示(shi)例（Trace模(mo)式(shi)）

大(da)電(dian)流脈(mai)沖模(mo)式(shi)（波(bo)模(mo)式(shi)）下的(de)Vbe和Ic波(bo)形

高電(dian)流(liu)脈(mai)沖模(mo)式(shi)（波(bo)模(mo)式(shi)）下的(de)Vbe和Ic波(bo)形

IWATSU半導(dao)體(ti)特(te)性(xing)曲(qu)線圖(tu)示(shi)儀CS-3100，CS-3200，CS-3300規格參數指標

CS-3100，CS-3200，CS-3300功能

觀(guan)察I-V曲(qu)線以(yi)及電壓(ya)和電流(liu)的(de)應(ying)用波(bo)形

電(dian)流(liu)和電壓(ya)脈(mai)沖在(zai)高電(dian)流(liu)模(mo)式(shi)下的(de)應(ying)用

應(ying)用電(dian)流和電壓(ya)的(de)脈(mai)沖寬度以(yi)及測量(liang)點(dian)額(e)定可(ke)設定為(wei)50 - 400 μs之間(jian)（CS-3200和CS-3300）。

MOSFET“電(dian)流(liu)"和“電壓(ya)"特性(xing)測(ce)量(liang)示(shi)例

可(ke)選擇(ze)“掃(sao)描(miao)類別"(SWEEP TYPE)

“掃(sao)描(miao)類別"包(bao)括(kuo)“下"(DOWN)、“上"(UP)和“定制(zhi)"(CUSTOM)（所有(you)模(mo)式(shi)）。

如“定制(zhi)"模(mo)式(shi)，可(ke)以(yi)掃(sao)描(miao)值之間(jian)的(de)範(fan)圍。

CS-800半導(dao)體(ti)參數搜索（可(ke)選）

該(gai)主控(kong)裝(zhuang)置軟(ruan)件(jian)選項支(zhi)持電(dian)壓(ya)和電流(liu)限(xian)制(zhi)功能，以(yi)及自(zi)動(dong)Vth測(ce)量(liang)功能。

限(xian)制(zhi)掃(sao)描(miao)(LIMIT SWEEP)

如果(guo)在“掃(sao)描(miao)"操(cao)作(zuo)前了(le)電(dian)壓(ya)和電流(liu)限(xian)值，操(cao)作(zuo)會在(zai)超過(guo)限(xian)值後的(de)下(xia)壹(yi)個(ge)測量(liang)點(dian)停止(zhi)執(zhi)行。

Vth和hFE設置

Vth和hFE可(ke)以(yi)自(zi)動(dong)測(ce)量(liang)。

Vth自(zi)動(dong)測(ce)量(liang)示(shi)例。

遠(yuan)程(cheng)工(gong)具

如果(guo)因安全(quan)原(yuan)因不允(yun)許使用USB存(cun)儲器，可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)局(ju)LAN將屏幕(mu)截(jie)圖(tu)、CSV格式(shi)測量(liang)結(jie)果(guo)及其他(ta)數據(ju)直(zhi)接傳輸(shu)到個(ge)人電(dian)腦(nao)上。

免(mian)費(fei)提(ti)供遠程(cheng)操(cao)作(zuo)軟(ruan)件(jian)。但使(shi)用該(gai)軟(ruan)件(jian)時(shi)必(bi)須(xu)安(an)裝(zhuang)NI VISA庫(ku)（需(xu)要(yao)收費）。    

CS-810半導(dao)體(ti)參數測量(liang)（選件(jian)）

這(zhe)是(shi)壹(yi)款(kuan)電腦(nao)應(ying)用程(cheng)序(xu)，用於通(tong)過(guo)局(ju)域(yu)網將配有(you)CS-800的(de)主(zhu)控(kong)裝(zhuang)置連(lian)接(jie)到個(ge)人電(dian)腦(nao)上（可(ke)選）。該(gai)應用程(cheng)序(xu)可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)個(ge)人電(dian)腦(nao)的(de)測(ce)量(liang)條件(jian)進(jin)行自(zi)動(dong)測(ce)量(liang)，並確定數據(ju)的(de)正(zheng)確性(xing)。

CS-3100，CS-3200，CS-3300面(mian)板介紹

1顯示(shi)屏

8.4英寸亮麗(li)屏可(ke)以(yi)顯示(shi)詳細的(de)波(bo)形情(qing)況。采(cai)用大(da)尺(chi)寸屏幕(mu)，可(ke)以(yi)顯示(shi)菜單(dan)和參數而不影(ying)響(xiang)波(bo)形網格。

2連(lian)接(jie)性(xing)

CS-3000系(xi)列前面(mian)板上配有(you)USB端口，方便(bian)生(sheng)成報(bao)告。按(an)下復制(zhi)（Copy）按鈕(niu)即(ji)可(ke)將屏幕(mu)截(jie)圖(tu)保(bao)存(cun)到USB設備。

3讀出顯示(shi)屏

讀出顯示(shi)屏采(cai)用不同顏(yan)色代表(biao)不同功能，操(cao)作(zuo)設置壹目(mu)了(le)然(ran)。

4斷(duan)路(lu)器

前面(mian)板上分(fen)別提(ti)供高電(dian)壓(ya)（所有(you)型號(hao)）和高電(dian)流(liu)（CS-3200/3300）斷(duan)路(lu)器。

5菜(cai)單(dan)操(cao)作(zuo)

使(shi)用功能旋(xuan)鈕(niu)和功能鍵(jian)來(lai)操(cao)作(zuo)菜(cai)單(dan)。

6復(fu)制(zhi)(COPY)按鈕(niu)

7配(pei)置(CONFIGURATION)按鈕(niu)

用於顯示(shi)連(lian)接(jie)和信(xin)號(hao)應(ying)用狀(zhuang)態(tai)。

8階(jie)梯(ti)發(fa)生(sheng)器

使(shi)用該(gai)旋(xuan)鈕(niu)可(ke)以(yi)設置步(bu)進和偏移。

9查(zha)看/脈(mai)沖(VIEW/PULSE)按(an)鈕(niu)

用於切(qie)換(huan)跟(gen)蹤(zong)(TRACE)與(yu)波(bo)形(WAVE)視圖(tu)。

在(zai)波(bo)形視圖(tu)下，屏蔽(bi)顯示(shi)應用電(dian)壓(ya)和電流(liu)的(de)時(shi)間(jian)軸波(bo)形，常規(gui)曲(qu)線跟(gen)蹤(zong)器無法觀察到這(zhe)種(zhong)波(bo)形。

10垂(chui)直(zhi)(VERTICAL)和水平(ping)(HORIZONTAL)旋(xuan)鈕(niu)

這(zhe)些(xie)旋(xuan)鈕(niu)安裝(zhuang)在(zai)易於操(cao)作(zuo)的(de)地(di)方。

11變(bian)量(liang)(VARIABLE)旋(xuan)鈕(niu)

用於調節(jie)集(ji)電(dian)極(ji)電源(yuan)的(de)輸(shu)出電壓(ya)。

采(cai)用耐(nai)用型(xing)旋(xuan)鈕(niu)適(shi)合頻(pin)繁(fan)使(shi)用。