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        1. 產品(pin)中(zhong)心您當(dang)前(qian)的(de)位置(zhi):首(shou)頁 > 產品中心 > > 晶圓(yuan)、芯片(pian)、屏幕Particle > 屏幕,液晶屏(ping)UV燈紫外(wai)磁(ci)粉檢測MT Particle

          基礎(chu)信息Product information

          產(chan)品名(ming)稱(cheng):屏(ping)幕,液晶屏(ping)UV燈紫外(wai)磁(ci)粉檢測MT Particle

          產品(pin)型號:

          更新時間:2025-06-11

          產品簡(jian)介:

          堅融實(shi)業(ye)——壹(yi)家致(zhi)力(li)於(yu)為(wei)祖(zu)國(guo)用(yong)戶(hu)提(ti)供屏幕,液晶屏(ping)UV燈紫外(wai)磁(ci)粉檢測MT Particle儀器(qi)設備、測試(shi)方(fang)案、技術培訓、維修計(ji)量全面(mian)服務的(de)儀器(qi)設備綜合服務(wu)商。

          產品(pin)特性(xing)Product characteristics

          專業(ye)儀器(qi)設備與測試方(fang)案供應商——上海(hai)堅融實(shi)業(ye)有(you)限(xian)公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(上(shang)海)測(ce)量(liang)儀器(qi)有(you)限(xian)公司JETYOO INSTRUMENTS,為(wei)原(yuan)安(an)捷(jie)倫(lun)Agilent【現是德KEYSIGHT】品牌技術經(jing)理-堅JET與吉(ji)時利KEITHLEY【現泰(tai)克(ke)Tektronix】品(pin)牌(pai)產(chan)品(pin)經理-融YOO共(gong)同(tong)創(chuang)辦(ban),專註(zhu)工業(ye)測試(shi)領域(yu)十(shi)六年(nian),誌(zhi)在(zai)破舊立(li)新(xin)!*進(jin)口儀器(qi)設備大(da)多(duo)數廠(chang)家僅在(zai)國(guo)內(nei)設銷售(shou)點,但技術支(zhi)持薄(bo)弱甚至(zhi)沒有(you),而代理經銷商也(ye)只(zhi)做(zuo)商務,不(bu)做(zuo)售(shou)前(qian)技術支(zhi)持/測(ce)試方(fang)案和售(shou)後使用(yong)培訓/維修校準的(de)空白。我(wo)們(men)的(de)技術型銷售(shou)均(jun)為(wei)本(ben)科以上學(xue)歷(li),且均(jun)有(you)10年(nian)以上測(ce)試(shi)行(xing)業(ye)經驗(yan),以我們(men)*進(jin)*的(de)經營(ying)理念,與客戶(hu)互(hu)惠(hui)互(hu)利合作雙(shuang)贏,重(zhong)在協助(zhu)用(yong)戶(hu)采購(gou)與技術工程師的(de)工作(zuo),提(ti)供較有(you)競爭力(li)的(de)供應鏈(lian)管理與售(shou)前(qian)售(shou)後技術支(zhi)持。十(shi)六年(nian)精(jing)耕細(xi)作於(yu)進(jin)口品(pin)牌(pai)儀器(qi)設備市(shi)場(chang)開拓、測(ce)試應(ying)用(yong)及(ji)技術服(fu)務。堅融實(shi)業(ye)——壹(yi)家致(zhi)力(li)於(yu)為(wei)祖(zu)國(guo)用(yong)戶(hu)提(ti)供儀器(qi)設備、測試(shi)方(fang)案、技術培訓、維修計(ji)量全面(mian)服務的(de)儀器(qi)設備綜合服務(wu)商。


          UV燈可用(yong)於(yu)磁(ci)粉檢測:磁(ci)粉檢測(Magnetic Particle Testing,縮(suo)寫符(fu)號為(wei)MT),又(you)稱(cheng)磁(ci)粉檢驗或磁(ci)粉探傷(shang),屬於(yu)無損檢測五(wu)大(da)常(chang)規(gui)方(fang)法(fa)之壹(yi)


          屏(ping)幕,液晶屏(ping)UV燈紫外(wai)磁(ci)粉檢測MT Particle平行(xing)光(guang)檢測燈的(de)應用(yong)範圍

          表(biao)面(mian)瑕(xia)疵(ci)檢(jian)查(zha)燈,利用(yong)適(shi)合的(de)光纖(xian)燈源,在工件(jian)表(biao)面(mian)折射(she)出(chu)光(guang)路(lu),使(shi)得操作(zuo)員(yuan)肉眼可識(shi)別(bie)出工件(jian)表(biao)面(mian)的(de)灰塵(chen)、刮(gua)痕(hen)、毛刺、凹凸、油墨等瑕(xia)疵(ci)點(dian),取(qu)代傳統的(de)照明(ming)設備 和光(guang)學(xue)系統機臺,直接通過(guo)照(zhao)明(ming)光(guang)線和(he)肉眼,觀測出壹(yi)般(ban)玻璃(li)表(biao)面(mian)、部(bu)件(jian)表(biao)面(mian)的(de)瑕(xia)疵(ci),極(ji)大(da)的(de)節省了壹(yi)般(ban)工廠(chang)的(de)采購(gou)成本(ben)。產品主(zhu)要用(yong)於(yu)鏡(jing)片(pian)、液晶(jing)玻璃(li)、手(shou)機玻 璃(li)、模(mo)具、汽(qi)車、手機保護膜(mo)、柔(rou)性(xing)基板(ban)、網版絲(si)印(yin)等行(xing)業(ye)。 觸(chu)控面(mian)板(ban)、太陽(yang)能基板(ban)、LED 基板(ban)、LCD 基板(ban)、貼(tie)合玻璃(li)、光(guang)學(xue)鏡(jing)頭(tou)表(biao)面(mian)、矽(gui)晶(jing)圓拋(pao)光面(mian)、擴散板(ban)…等刮(gua)傷(shang)與粉塵(chen)檢查(zha)。

          布(bu)匹(pi)檢(jian)測(ce)、印(yin)刷(shua)字符檢(jian)測、玻璃(li)劃(hua)痕(hen)檢測(ce)、標簽(qian)汙點、字符檢(jian)測、手(shou)機外(wai)殼表(biao)面(mian)劃(hua)痕(hen)、汙點檢測、茶(cha)葉(ye)顏色(se)分(fen)揀、鋼板(ban)檢測(ce)、液晶(jing)屏劃(hua)痕(hen)、汙點檢測、灰(hui)塵(chen)檢測(ce)、灰(hui)塵(chen)檢測(ce)儀、表(biao)面(mian)灰(hui)塵(chen)檢測(ce)、劃(hua)痕(hen)檢測(ce)、表(biao)面(mian)劃(hua)痕(hen)檢測(ce)技術、玻璃(li)劃(hua)痕(hen)檢測(ce)、表(biao)面(mian)劃(hua)傷(shang)檢測、平行(xing)光(guang)燈、布(bu)匹(pi)瑕(xia)疵(ci)檢(jian)測(ce)、手機外(wai)殼檢(jian)測、手(shou)機外(wai)殼表(biao)面(mian)檢(jian)測(ce)、手機汙點檢測、玻璃(li)汙點檢測、玻璃(li)臟(zang)汙檢測、液晶(jing)屏(ping)檢(jian)測、液(ye)晶屏(ping)劃(hua)痕(hen)檢測(ce)、觸(chu)摸屏劃(hua)痕(hen)檢測(ce)、液(ye)晶(jing)屏汙點檢測。


          平行(xing)光(guang)檢測燈產(chan)品(pin)采用(yong)高亮(liang)度(du)LED經(jing)過(guo)陣(zhen)列(lie)優化設計(ji)而成的(de)光源,具有(you)照射(she)面(mian)積大(da)、亮(liang)度(du)高、壽(shou)命長等(deng)特點(dian)。可用(yong)於(yu)對液(ye)晶(jing)屏(ping)、觸(chu)摸屏、鈑金(jin)、塑料(liao)等(deng)的(de)劃(hua)痕(hen)、臟汙及平整度(du)進(jin)行(xing)檢(jian)測,茶(cha)葉(ye)顏色(se)分(fen)揀和對印(yin)刷(shua)臟汙、字符檢(jian)測。針對不(bu)同(tong)應(ying)用(yong)可選(xuan)擇正白、暖(nuan)白和(he)藍色(se)的(de)光源。

          平行(xing)光(guang)檢測燈,利(li)用(yong)適(shi)合的(de)光纖(xian)燈源,在工件(jian)表(biao)面(mian)折射(she)出(chu)光(guang)路(lu),使(shi)得操作(zuo)員(yuan)肉眼可識(shi)別(bie)出工件(jian)表(biao)面(mian)的(de)灰塵(chen)、刮(gua)痕(hen)、毛刺、凹凸、油墨等瑕(xia)疵(ci)點(dian),取(qu)代傳統的(de)照明(ming)設備和光(guang)學(xue)系統機臺,直接通過(guo)照(zhao)明(ming)光(guang)線和(he)肉眼,觀測出壹(yi)般(ban)玻璃(li)表(biao)面(mian)、部(bu)件(jian)表(biao)面(mian)的(de)瑕(xia)疵(ci),極(ji)大(da)的(de)節省了壹(yi)般(ban)工廠(chang)的(de)采購(gou)成本(ben)。


          平行(xing)光(guang)表(biao)面(mian)檢(jian)查(zha)燈光源的(de)選(xuan)擇:

          白光(guang):刮(gua)傷(shang)以及對不(bu)同(tong)層(ceng)次的(de)鍍膜(mo)均(jun)勻(yun)或(huo)微(wei)汙染(ran)有(you)很好(hao)的(de)效果。

          綠光:微(wei)刮(gua)傷(shang)、粉塵(chen)異物、Mura,,70%以上的(de)表(biao)面(mian)不(bu)良(liang)都可以被檢(jian)出。尤(you)其(qi)是表(biao)面(mian)的(de)微(wei)刮(gua)傷(shang)。

          黃光:微(wei)刻(ke)模具(ju)、半(ban)導(dao)體晶(jing)圓、藍寶石。模(mo)擬(ni)全波(bo)段的(de)鹵(lu)素(su)光(guang)源,對鍍(du)膜(mo)檢(jian)查效果不(bu)錯(cuo)。


          屏(ping)幕,液晶屏(ping)UV燈紫外(wai)磁(ci)粉檢測MT Particle規(gui)格(ge)

          型 號: 平行(xing)光(guang)表(biao)面(mian)檢(jian)查(zha)燈

          電 源: 24v電源適配(pei)器(qi)

          燈(deng) 源: LED

          外(wai)觀尺(chi)寸(cun): 330X65X90MM

          調(tiao)光(guang)方(fang)式(shi): 無段調(tiao)光(guang) – 從0% ~ 100%

          消耗功率:35W

          燈源壽命(ming): 30000 小(xiao)時以上

          重(zhong) 量: 1.0 kg

          冷卻方(fang)式(shi): 風(feng)扇(shan)式(shi)強制(zhi)冷卻

          照 度(du):

          距離20cm → 8000 lux

          距離50cm → 3600 lux

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          平行(xing)光(guang)表(biao)面(mian)檢(jian)查(zha)燈主要(yao)特性(xing)

          1.高照(zhao)度(du):采用(yong)亮(liang)度(du)為(wei)10顆大(da)功率led光(guang)源,窄角(jiao)度(du)直(zhi)射(she)透鏡(jing)。

          2.長壽命(ming): 比(bi)鹵(lu)素(su)燈(deng)泡(pao)更長之壽(shou)命(ming),長達(da)30000 小(xiao)時以上。

          3.可選(xuan)擇多(duo)波段光(guang)源: 白光(guang)、特殊(shu)綠光、黃光。


          LED平行(xing)光(guang)表(biao)面(mian)檢(jian)查(zha)燈可以檢測(ce)1μ的(de)表(biao)面(mian)臟(zang)汙,比(bi)傳統的(de)檢查(zha)燈,效用(yong)增(zeng)強10倍左(zuo)右(you)。 同(tong)時,表(biao)面(mian)瑕(xia)疵(ci)檢(jian)查(zha)燈,可選(xuan)配(pei)電池包(bao)、燈(deng)源遮光(guang)罩、活(huo)動(dong)手(shou)臂(bi)、支(zhi)撐架、調(tiao)光(guang)裝置(zhi)等(deng)附件(jian),以配(pei)合人(ren)員(yuan)的(de)固定場(chang)所或者(zhe)流動(dong)場(chang)所的(de)使用(yong)。

          留(liu)言(yan)框(kuang)

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