產品(pin)名稱(cheng):ANSI/ESD,ANSI/ASTM D257,GB標準體積電阻(zu)率(lv)
產品(pin)型號(hao):
更新時(shi)間:2025-06-11
產品(pin)簡介(jie):
專業為(wei)中(zhong)國(guo)區用(yong)戶提(ti)供ANSI/ESD,ANSI/ASTM D257,GB標準體積電阻(zu)率(lv)測(ce)試方(fang)案服務(wu),為(wei)上(shang)海華東(dong)地區壹家以技(ji)術為(wei)導(dao)向(xiang)的儀器設備(bei)綜(zong)合(he)服務商(shang)。
專業儀器設備(bei)與(yu)測(ce)試方(fang)案供應(ying)商(shang)——上(shang)海堅融實業有限公(gong)司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(上海)測(ce)量(liang)儀器有(you)限公(gong)司(si)JETYOO INSTRUMENTS,為(wei)原(yuan)安捷倫(lun)Agilent【現是(shi)德KEYSIGHT】品(pin)牌(pai)技術經理-堅JET與(yu)吉時利KEITHLEY【現泰(tai)克Tektronix】品(pin)牌(pai)產品(pin)經(jing)理-融YOO共同創辦(ban),專註(zhu)工業測(ce)試領(ling)域十(shi)六年(nian),精(jing)耕細作(zuo)於進口(kou)品(pin)牌(pai)儀器設備(bei)市場開拓、測(ce)試應用(yong)及(ji)技術服務。堅融實業——壹家致力於為(wei)祖(zu)國(guo)用戶(hu)提(ti)供ANSI/ESD,ANSI/ASTM D257,GB標準體積電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀器設備(bei)、測(ce)試方(fang)案、技術培訓(xun)、維(wei)修(xiu)計量(liang)全面(mian)服(fu)務的(de)儀器設備(bei)綜(zong)合(he)服務商(shang)。
公司(si)潛(qian)心研究(jiu)十(shi)年(nian),開(kai)發(fa)PCB印刷(shua)電路(lu)板油墨(mo)絕緣電阻(zu),橡(xiang)膠(jiao)薄(bo)膜(mo),石(shi)墨(mo)烯,納米材料(liao),塑料(liao),絕緣材料(liao),化學材(cai)料(liao)ANSI/ESD,ANSI/ASTM D257,GB標準體積電阻(zu)率(lv)測(ce)試方(fang)案。5 ½ 位顯示(shi)分辨(bian)率(lv),電壓(ya)輸(shu)出(chu)源(yuan)0~1000V/2000V,電流(liu)測(ce)量(liang)1fA(即(ji)10-15A)~20mA,電阻(zu)測(ce)量(liang)10Ω~1019Ω(有12次(ci)方(fang)型號(hao),16次(ci)方(fang)型號(hao))。
我(wo)們潛(qian)心研究(jiu)十(shi)年(nian),開(kai)發(fa)了各(ge)種(zhong)應(ying)用:生物材料(liao)、陶瓷、橡(xiang)膠(jiao)、絕緣材料(liao)、薄膜(mo)、介(jie)質(zhi)材料(liao)、電化學材(cai)料(liao)、鐵電材(cai)料(liao)、石(shi)墨(mo)烯、有(you)機(ji)材(cai)料(liao)、納米材料(liao)、納米發電機(ji)實(shi)驗、聚(ju)合(he)物、半導(dao)體、電容(rong)器(qi)泄漏電流(liu)、電池(chi)薄(bo)膜(mo)、噪聲(sheng)濾波器(qi)、設備(bei)絕緣、塗層塗料(liao)、外殼(ke)電鍍(du)、微(wei)小(xiao)泄漏電流(liu)、光(guang)電耦合(he)器初級/次(ci)級絕緣、打印機(ji)墨(mo)粉(fen)輥軸(zhou)、絕緣密封(feng)件(jian)、印刷(shua)電路(lu)板、薄膜(mo)電容(rong)、絕緣油、異(yi)丙(bing)醇(chun)、電線(xian)電纜(lan)、無紡(fang)布(bu)紡(fang)織(zhi)布紙(zhi)、藥丸(wan)藥粉(fen)、食(shi)品(pin)醫藥用樹脂(zhi)、防(fang)靜(jing)電地(di)坪(ping)/臺(tai)面/工鞋工衣、靜(jing)電消(xiao)散(san)包(bao)裝材(cai)料(liao)/工具(ju)等,符(fu)合(he)ANSI/ESD-S20.20,GB/T 1410、GB 12014、GB/T 20991、GB 4385、GB 12158、GB 4655、GB/T 12703、GB 13348、GB/T 15738、GB/T 18044、GB/T 18864、GB/T 22042、GB/T 22043、GB/T 24249、GB 26539、GB/T 26825、GB 50515、GB 50611、GJB 105、GJB 3007A、GJB 5104、GB/T 15662、GB/T 2439、GB/T 1692、ANSI/ASTM D257,JIS C217,IEC61340,DIN1149,DIN54345等標準規範,進行(xing)方(fang)阻(zu)、電荷、防靜(jing)電電阻(zu)、表面電阻(zu)/率(lv)和體積電阻(zu)/率(lv)測(ce)試。按(an)不(bu)同(tong)標準測(ce)試時,須配相(xiang)應(ying)標準的測(ce)試電極(ji),我(wo)們有符(fu)合(he)各(ge)國際(ji)測(ce)試標準規範的體積電阻(zu)率(lv)夾具(ju),表面電阻(zu)率(lv)夾具(ju),液(ye)體電阻(zu)率(lv)夾具(ju),同心(xin)圓(yuan)電極(ji),兩(liang)點(dian)電極(ji),底盤電極(ji),鉗形電極(ji),法(fa)拉(la)第桶,屏蔽盒/箱等,詳(xiang)細可與(yu)我(wo)們咨詢(xun)。
符(fu)合(he)以下標準規範:
ANSI,ASTM D257絕緣材料(liao)的直(zhi)流電阻(zu)或電導(dao)系(xi)數用(yong)試驗方(fang)法
GB/T 34520.6-2017 連(lian)續(xu)碳化矽纖維(wei)測(ce)試方(fang)法 第6部(bu)分:電阻(zu)率(lv)
GB/T 1410-2006 固體絕緣材料(liao)體積電阻(zu)率(lv)和表面電阻(zu)率(lv)試驗方(fang)法
GB/T 1692-2008 硫(liu)化橡(xiang)膠(jiao) 絕緣電阻(zu)率(lv)的測(ce)定
GB/T 2439-2001,ISO1853硫(liu)化橡(xiang)膠(jiao)導(dao)電,耗(hao)散(san)性能(neng)電阻(zu)率(lv)測(ce)定
GB/T 15662-1995 導(dao)電、防(fang)靜(jing)電塑(su)料(liao)體積電阻(zu)率(lv)測(ce)試方(fang)法
絕緣材料(liao)電氣(qi)強(qiang)度(du)試驗方(fang)法IEC60243-1
ANSI ESD S20.20靜(jing)電電阻(zu)測(ce)試,靜(jing)電放(fang)電標準
ANSI ESD S541-2003標準大綱(gang)(英(ying)文(wen))
ANSI ESD STM5.1-2001標準大綱(gang)(英(ying)文(wen))
ANSI_ESD S20.20:靜(jing)電放(fang)電控制(zhi)大綱(gang)
ANSI_ESD STM3.1:靜(jing)電消(xiao)除器規(gui)範
ANSI_ESD SP3.3:定期(qi)檢(jian)測(ce)靜(jing)電消(xiao)除器規(gui)範
EIA-541:防靜(jing)電包(bao)裝材(cai)料(liao)規範
ESD TR53-01-06:防靜(jing)電設備(bei)和用品(pin)符(fu)合(he)性檢測(ce)規範(fan)
GB 19082:醫用壹次(ci)性防*服技術要求
GB_T 1410(IEC 60093):絕緣材料(liao)表面電阻(zu)_體積電阻(zu)測(ce)試規範(fan)-三(san)電極(ji)法(fa)
GB_T 12703.1:紡(fang)織(zhi)品(pin)靜(jing)電壓(ya)半衰(shuai)期(qi)測(ce)試規範(fan)
GB_T 12703.2:紡(fang)織(zhi)品(pin)靜(jing)電荷面密(mi)度(du)測(ce)試規範(fan)
GB_T 12703.3:紡(fang)織(zhi)品(pin)靜(jing)電荷量(liang)測(ce)試規範(fan)
GB_T 12703.4:紡(fang)織(zhi)品(pin)電阻(zu)率(lv)測(ce)試規範(fan)
GB_T 12703.5:紡(fang)織(zhi)品(pin)摩擦(ca)起電測(ce)試規範(fan)
IEC 61340-2-1:靜(jing)電衰(shuai)減(jian)測(ce)試規範(fan)-測(ce)試方(fang)法CPM374 Charge Plate Monitor充(chong)電板衰減(jian)監(jian)測(ce)儀
IEC 61340-2-1-2000靜(jing)電衰(shuai)減(jian)測(ce)試規範(fan)
IEC 61340-2-3:表面靜(jing)電電阻(zu)及(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)試規範(fan)
IEC 61340-2-3-2000材料(liao)靜(jing)電電阻(zu)測(ce)試規範(fan)
IEC 61340-4-5:人(ren)體行(xing)走(zou)靜(jing)電位(wei)測(ce)試規範(fan)-評(ping)估地(di)板_工鞋系(xi)統靜(jing)電消(xiao)散(san)能(neng)力
IEC 61340-4-5-2004人(ren)體行(xing)走(zou)靜(jing)電位(wei)及(ji)防靜(jing)電鞋(xie)地(di)板綜合(he)電阻(zu)測(ce)試規範(fan)
IEC 61340-5-1:靜(jing)電放(fang)電控制(zhi)大綱(gang)
IEC61000-4-2:模擬(ni)靜(jing)電放(fang)電測(ce)試
ANSI/ESD S4.1 標準防靜(jing)電工作臺(tai)面電阻(zu)
ANSI/ESD S7.1 標準防靜(jing)電地(di)板電阻(zu)
ANSI/ESD S9.1 標準防靜(jing)電鞋(xie)電阻(zu)
ANSI/ESD STM 2.1 標準防靜(jing)電工作服(fu)電阻(zu)
ANSI/ESD STM 2.1 標準防靜(jing)電工作椅(yi)電阻(zu)
ANSI/ESD STM 97.1 標準人(ren)體通過(guo)防(fang)靜(jing)電鞋(xie)和地板的接地(di)電阻(zu)
ANSI/ESD-ADV 53.1 標準防靜(jing)電工作臺(tai)接地(di)電阻(zu)
符(fu)合(he) EOS/ESD-S 4.1,EOS/ESD-S7.1、EN 100015 Teil1、IEC 93、IEC 61340-5-1、DIN IEC 1340-4-1 規範要求測(ce)試體積電阻(zu)和體積電阻(zu)率(lv)
符(fu)合(he) ESD-S 11.11-19931、EN 61340-5-1、DIN EN 61340-2-3:2000 規範要求測(ce)試表面電阻(zu)及(ji)表面電阻(zu)率(lv)
符(fu)合(he) SAE J1645 規範要求,用(yong)於測(ce)試管材(cai)、線(xian)材(cai)及(ji)其(qi)他不(bu)規(gui)則形狀的(de)物體點(dian)到(dao)點(dian)電阻(zu)、接地(di)電阻(zu)、體積電阻(zu)、靜(jing)電衰(shuai)減(jian)時間(jian)
符(fu)合(he) ANSI/ESD STM11.11/STM11.12、D257、IEC 61340-2-3 規範測(ce)試表面電阻(zu)和體積電阻(zu),並轉(zhuan)換為(wei)表面電阻(zu)率(lv)和體積電阻(zu)率(lv)。
符(fu)合(he) DIN IEC 61340-4-1 規範測(ce)試體積電阻(zu),並轉(zhuan)換為(wei)體積電阻(zu)率(lv)
符(fu)合(he)相關的 DIN、EN、IEC、ASTM 規範兩(liang)條平行(xing)的(de)膠(jiao)條(tiao)用(yong)於測(ce)試表面電阻(zu)
ANSI/ESD S20.20:靜(jing)電放(fang)電控制(zhi)大綱(gang)-2014年(nian)中(zhong)文(wen)版(ban)
IEC 61340-2-3:表面靜(jing)電電阻(zu)及(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)試規範(fan)
IEC 61340-4-5:人(ren)體行(xing)走(zou)靜(jing)電位(wei)測(ce)試規範(fan)-評(ping)估地(di)板/工鞋系(xi)統靜(jing)電消(xiao)散(san)能(neng)力
ANSI/ESD STM11.11:表面靜(jing)電電阻(zu)測(ce)試規範(fan)-同心(xin)圓(yuan)重錘(chui)電極(ji)
ANSI/ESD STM11.12:三(san)電極(ji)法(fa)測(ce)試體積電阻(zu)規(gui)範
ANSI/ESD STM11.13:兩(liang)點(dian)間(jian)電阻(zu)測(ce)試規範(fan)-2點(dian)小(xiao)電極(ji)
DIN IEC 1149-1:靜(jing)電防(fang)*服(fu)表面電阻(zu)/電阻(zu)率(lv)測(ce)試規範(fan)-三(san)電極(ji)法(fa)
GB/T 1410(IEC 60093):絕緣材料(liao)表面電阻(zu)/體積電阻(zu)測(ce)試規範(fan)-三(san)電極(ji)法(fa)
GB/T 12703.4:紡(fang)織(zhi)品(pin)電阻(zu)率(lv)測(ce)試規範(fan)
GB 12014 防靜(jing)電工作服(fu)
GB/T 20991-2007 個體防*裝(zhuang)備(bei) 鞋(xie)的測(ce)試方(fang)法
GB 4385-1995 防靜(jing)電鞋(xie)、導(dao)電鞋(xie)技(ji)術要求
GB 12158-2006 防止(zhi)靜(jing)電事(shi)故(gu)通用導(dao)則(ze)
GB 4655-2003 橡(xiang)膠(jiao)工業靜(jing)電安(an)全規(gui)程
GB/T 12703.4-2010 紡(fang)織(zhi)品(pin) 靜(jing)電性能(neng)的評(ping)定 第4部(bu)分 電阻(zu)率(lv)
GB/T 12703.6-2010 紡(fang)織(zhi)品(pin) 靜(jing)電性能(neng)的評(ping)定 第6部(bu)分 纖(xian)維(wei)泄漏電阻(zu)
GB 13348-2009 液(ye)體石(shi)油產品(pin)靜(jing)電安(an)全規(gui)程
GB/T 15738-2008 導(dao)電和抗靜(jing)電纖(xian)維(wei)增強(qiang)塑料(liao)電阻(zu)率(lv)試驗方(fang)法
GB/T 18044-2008 地毯 靜(jing)電習(xi)性評(ping)價法 行(xing)走(zou)試驗
GB/T 18864-2002 硫(liu)化橡(xiang)膠(jiao) 工業用(yong)抗靜(jing)電和導(dao)電產(chan)品(pin) 電阻(zu)極(ji)限範(fan)圍(wei)
GB/T 22042-2008 服裝(zhuang) 防(fang)靜(jing)電性能(neng) 表面電阻(zu)率(lv)試驗方(fang)法
GB/T 22043-2008 服裝(zhuang) 防(fang)靜(jing)電性能(neng) 通過(guo)材(cai)料(liao)的電阻(zu)(垂直(zhi)電阻(zu))試驗方(fang)法
GB/T 24249-2009 防靜(jing)電潔(jie)凈織(zhi)物
GB 26539-2011 防靜(jing)電陶瓷磚(zhuan) Antistatic ceramic tiles
GB/T 26825-2011 抗靜(jing)電防(fang)腐(fu)膠(jiao)
GB 50515-2010 導(dao)(防(fang))靜(jing)電地(di)面(mian)設計(ji)規(gui)範
GB 50611-2010 電子(zi)工程防靜(jing)電設計(ji)規(gui)範
GJB 105-1998-Z 電子(zi)產(chan)品(pin)防(fang)靜(jing)電放(fang)電控制(zhi)手冊(ce)
GJB 3007A-2009 防靜(jing)電工作區(qu)技術要求
GJB 5104-2004 無線(xian)電引信風帽用(yong)防(fang)靜(jing)電塗(tu)料(liao)及(ji)風帽靜(jing)電性能(neng)通用要求
方(fang)案壹,日本愛(ai)德萬(wan)ADCMT5451高(gao)阻(zu)表:
5450/5451數顯超高電阻(zu)/微(wei)安表
高分辨(bian)率(lv) 5½ 位顯示(shi)
微電流(liu)測(ce)量(liang):1 fA 至 19.9999 mA
高阻(zu)測(ce)量(liang):3 x 1017 Ω(帶電流(liu)功能(neng))
電壓(ya)產(chan)生:± 1000 V,最(zui)小(xiao)值 ± 1 mV
高速測(ce)量(liang):高達(da) 1000 次(ci)采(cai)樣/秒(miao)
具(ju)有如(ru)此高性能(neng)的5450/5451用(yong)於測(ce)試二次(ci)電池(chi)和半導(dao)體中使(shi)用的(de)材料(liao),測(ce)試電容(rong)器(qi)和印刷(shua)電路(lu)板等電氣(qi)和電子(zi)元(yuan)件(jian),以及(ji)各(ge)種(zhong)合(he)成(cheng)樹脂和橡(xiang)膠(jiao)材(cai)料(liao)等絕緣材料(liao)。廣泛應(ying)用於從研發(fa)到(dao)制(zhi)造(zao)和質(zhi)量(liang)檢測(ce)的廣(guang)泛領(ling)域。
測(ce)量(liang)印刷(shua)電路(lu)板絕緣電阻(zu)
用於太陽(yang)能(neng)電池(chi)漏電流(liu) (PID) 測(ce)試
方(fang)案二,美(mei)國吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY 6517B高(gao)阻(zu)表:
測(ce)量(liang)高達(da) 1018 Ω的電阻(zu)
10 aA (10×10-18 A) 電流(liu)測(ce)量(liang)分辨(bian)率(lv)
6517B、8009 電阻(zu)率(lv)測(ce)試夾具(ju)和 KickStart 高電阻(zu)率(lv)應用(yong)相結合(he),為(wei) ASTM D257 高(gao)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)提(ti)供完(wan)整(zheng)的(de)硬(ying)件和軟件(jian)解(jie)決(jue)方(fang)案
<3 fA 輸入(ru)偏置(zhi)電流(liu)
6 位半高(gao)準確度(du)測(ce)量(liang)模式(shi)
電流(liu)範(fan)圍上(shang)<20μV 壓(ya)降(jiang)
高達(da) 200 V 電壓(ya)測(ce)量(liang),>200TΩ 輸入(ru)阻(zu)抗(kang)
內置(zhi) ±1000 V 電壓(ya)源(yuan)
寬(kuan)測(ce)量(liang)範圍(wei)
6517B 在電流(liu)、電阻(zu)、電壓(ya)和電荷測(ce)量(liang)量(liang)程的整(zheng)個頻寬(kuan)上提(ti)供了(le)自(zi)動量(liang)程功能(neng)。6517B 融合(he)了以下測(ce)量(liang)功能(neng):
超靈敏電流(liu)表,可測(ce)量(liang) 10 aA ~ 20 mA 電流(liu)
阻(zu)抗(kang)最(zui)高的(de)電壓(ya)表,可測(ce)量(liang) 1mV ~ 200 V 電壓(ya)
超高範(fan)圍(wei)電阻(zu)表,可測(ce)量(liang) 1Ω ~ 1018 Ω 電阻(zu)
靈敏的(de)電量(liang)計,可測(ce)量(liang) 1 fC ~ 2μC 電荷
完(wan)整(zheng)的(de)高(gao)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)解決(jue)方(fang)案
可以使(shi)用以下套(tao)件(jian),采(cai)用(yong)標準 ASTM D-257 “絕緣材料(liao)的DC 電阻(zu)或電導(dao)"規(gui)定的(de)方(fang)法執(zhi)行(xing)高(gao)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang):
內部(bu)測(ce)試序列(lie)擴展(zhan)並簡化應用(yong)
6517B 擁有大量(liang)的內(nei)部(bu)測(ce)試序列(lie),協助(zhu)簡便(bian)地(di)設置(zhi)和執行(xing) 各(ge)種(zhong)測(ce)試。器件(jian)表征序(xu)列包(bao)括(kuo)二極(ji)管漏流測(ce)量(liang)、電容(rong)器(qi)漏流 測(ce)量(liang)、電纜(lan)絕緣電阻(zu)測(ce)量(liang)和電阻(zu)器(qi)電壓(ya)系(xi)數測(ce)量(liang)。電阻(zu)率(lv)和 電阻(zu)測(ce)試包(bao)括(kuo)體電阻(zu)率(lv)、表面電阻(zu)率(lv)和表面絕緣電阻(zu)測(ce)試。 可以使(shi)用方(fang)波和樓梯(ti)測(ce)試序列(lie),表征參(can)數與(yu)電壓(ya)的(de)關(guan)系(xi)。
除內置(zhi)測(ce)試外,6517B 還(hai)擅長(chang)在物理學、光(guang)學和材料(liao)科學 等(deng)科研領(ling)域進行(xing)低(di)電流(liu)、高(gao)阻(zu)抗(kang)電壓(ya)、電阻(zu)和電荷測(ce)量(liang)。靜(jing) 電計(ji)的(de)超低壓(ya)降(jiang),使(shi)其(qi)特(te)別適(shi)合(he)太陽能(neng)表征應(ying)用,其(qi)內(nei)置(zhi)電 壓(ya)源(yuan)和低電流(liu)靈(ling)敏度(du)則使(shi)其(qi)特(te)別適(shi)合(he)納米材料(liao)高阻(zu)測(ce)量(liang),如 基(ji)於聚合(he)物的納米線(xian)、其(qi)他納米材料(liao)、陶瓷、介(jie)電膜(mo)和生物 材料(liao)。
由於快速響(xiang)應測(ce)量(liang)和類似(si) DMM 的(de)操(cao)作(zuo)方(fang)式,6517B 特(te)別適 合(he)涉及(ji)漏流、擊穿和電阻(zu)測(ce)試的品(pin)控工程設計(ji)和生產(chan)測(ce)試應 用(yong)。6517B 的電壓(ya)反(fan)轉(zhuan)方(fang)法專門加強(qiang)了非(fei)導(dao)電材(cai)料(liao)上的體 積和表面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)。6517B 還(hai)特(te)別(bie)適(shi)合(he)電化學應(ying)用,如 高阻(zu)抗(kang)、離子(zi)選(xuan)擇(ze)電極(ji)和 pH 測(ce)量(liang)、電導(dao)池(chi)和電勢分析(xi)。
典型應用
納米材料(liao)表征
聚合(he)物電氣(qi)表征
波束(shu)測(ce)量(liang)
劑量(liang)測(ce)定
器件(jian)漏流測(ce)量(liang)
絕緣電阻(zu)測(ce)量(liang)
光(guang)電檢(jian)測(ce)器表征
體積和表面電阻(zu)率(lv)
方(fang)案三(san),美國(guo)是德KEYSIGHT B2985B高阻(zu)表:
B2985B 靜(jing)電計(ji)/高(gao)阻(zu)表是壹(yi)款(kuan)圖(tu)形界面(mian)靜(jing)電計(ji),具(ju)有 0.01 fA(10 x 10-18 A)分辨(bian)率(lv),可測(ce)量(liang)小(xiao)電流(liu)和最(zui)高 10 PΩ(1x 1016 Ω)的(de)大電阻(zu)。 它(ta)擁有 4.3 英(ying)寸(cun) LCD 彩色顯示(shi)屏(ping)和圖(tu)形用戶界面(mian),不(bu)僅可顯示(shi)數(shu)值信(xin)息(xi),還(hai)可提(ti)供趨(qu)勢圖(tu)和直(zhi)方(fang)圖(tu)格式的數(shu)據顯示(shi)。
方(fang)案四(si),日本日置(zhi)HIOKI SM7110,SM7120高(gao)阻(zu)表:
使(shi)用方(fang)法多種(zhong)多樣(yang),最(zui)大1000V(其(qi)中(zhong)SM7120型號(hao)可以0-2000V輸(shu)出),最(zui)快6.4ms高阻(zu)計(ji)
實現了(le)是(shi)以往產(chan)品(pin)300倍的抗(kang)幹擾功能(neng)
作為(wei)皮(pi)安(an)表使(shi)用進(jin)行(xing)低(di)電容(rong)檢(jian)查
最(zui)高2×10^19 Ω顯示(shi),最(zui)小(xiao)0.1fA分辨(bian)率(lv)
標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB
靜(jing)電計(ji)、皮(pi)安表、IR表,可以自(zi)由安排(pai)
產品(pin)使(shi)用例(li)
用於陶瓷元(yuan)件(jian)的(de)絶縁(縁)劣化試驗
貼片(pian)電容(rong)的(de)IR測(ce)量(liang)
MLCC(多層陶瓷電容(rong)器(qi))的絕緣測(ce)量(liang)
光(guang)伏(fu)電池(chi)薄(bo)膜(mo)的絕緣測(ce)量(liang)
噪音(yin)濾(lv)波器(qi)的(de)絕緣(高阻(zu))測(ce)量(liang)
液(ye)晶(jing)設備(bei)的(de)絕緣測(ce)量(liang)
塗層(塗料(liao))的表面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)
外殼(ke)的(de)帶電度(du)的測(ce)量(liang)
二極(ji)管的(de)微笑(xiao)泄(xie)漏電流(liu)測(ce)量(liang)
光(guang)電耦合(he)器的初級/次(ci)級絕緣(高電阻(zu))測(ce)量(liang)
打印機(ji)墨(mo)粉(fen)輥軸(zhou)的(de)絕緣測(ce)量(liang)
用於針對(dui)半導(dao)體廠家的絕緣密封(feng)件(jian)的評(ping)估試驗
用於組(zu)裝(zhuang)在(zai)貼(tie)片機、分選(xuan)機、自(zi)動化設備(bei)中(zhong)
方(fang)案五,美國(guo)DESCO Digital Surface Resistance Meter表面電阻(zu)測(ce)試儀,德國KLEINWACHTER TOM610 Tera Ohmmeter :價格實惠,但(dan)電阻(zu)率(lv)需要(yao)手動換算!!!
美國(guo)DESCO Digital Surface Resistance Meter表面電阻(zu)測(ce)試儀測(ce)試點(dian)到(dao)點(dian)電阻(zu),表面電阻(zu),接地(di)電阻(zu),符(fu)合(he)IEC61340-2-3,ESD TR53,ANSI/ESD S4.1/7.1,ANSI/ESD STM2.1/12.1/97.1, ESD SP9.2,,,,,,等規範
測(ce)試電壓(ya):10V/100V(自(zi)動,小(xiao)於1MΩ采用(yong)10V,大於等於1MΩ采用(yong)100V)
測(ce)試時間(jian):15秒(miao)/快速(可選(xuan))
測(ce)試量(liang)程:1KΩ~1TΩ(12次(ci)方(fang)歐姆);103Ω ~ 1012Ω 就是(shi)12次(ci)方(fang), 電阻(zu)率(lv)需根據電極(ji)尺(chi)寸(cun)和被測(ce)物厚度(du)進行(xing)換算, 最(zui)大可達(da)10^18Ω.cm(也就是(shi)18次(ci)方(fang))
測(ce)試精(jing)度(du):±10%(小(xiao)於1TΩ),±20%(大於等於1TΩ)
讀數(shu)顯示(shi):OLED數(shu)顯和LED指示(shi)燈,指(zhi)數(shu)表達方(fang)式
測(ce)試環境(jing)溫(wen)濕(shi)度(du),溫(wen)度(du)測(ce)試精(jing)度(du)+/-10%,濕(shi)度(du)測(ce)試精(jing)度(du)+/-10字
可保(bao)存100組(zu)測(ce)試數據(保(bao)存在儀器內(nei)存(cun)中,不(bu)能(neng)導(dao)出(chu))
4節AA電池(chi),使(shi)用壽命(ming)1500次(ci)測(ce)試
標配2個5磅(bang)重(zhong)錘(chui)電極(ji)(貨(huo)號(hao)50003)
選(xuan)配同(tong)心圓(yuan)重錘(chui)電極(ji)測(ce)試表面電阻(zu)/表面電阻(zu)率(lv)(ANSI/ESD STM11.11規範(fan))
選(xuan)配兩(liang)點(dian)電極(ji)測(ce)試小(xiao)件物品(pin)靜(jing)電電阻(zu)
選(xuan)配鉗形電極(ji)測(ce)試管材(cai)或不(bu)規(gui)則物品(pin)靜(jing)電電阻(zu)
選(xuan)配金(jin)屬握柄測(ce)試手腕帶和人(ren)體+鞋+地(di)板綜合(he)電阻(zu)
選(xuan)配懸(xuan)掛(gua)電極(ji)測(ce)試手套(tao)和指套(tao)靜(jing)電電阻(zu)
德國KLEINWACHTER TOM610 Tera Ohmmeter靜(jing)電電阻(zu)測(ce)試:點(dian)到(dao)點(dian)電阻(zu)、表面電阻(zu)、體積電阻(zu)、接地(di)電阻(zu),10~1000VDC擊穿測(ce)試:擊穿電壓(ya)、擊穿前電阻(zu)、擊穿後(hou)電阻(zu)、1000VDC耐(nai)壓(ya)測(ce)試
測(ce)試電壓(ya):10VDC、100VDC、500VDC、1000VDC
電阻(zu)量(liang)程:1KΩ~10TΩ(13次(ci)方(fang)歐姆);103Ω ~ 1013Ω 就是(shi)13次(ci)方(fang), 電阻(zu)率(lv)需根據電極(ji)尺(chi)寸(cun)和被測(ce)物厚度(du)進行(xing)換算, 最(zui)大可達(da)10^18Ω.cm(也就是(shi)18次(ci)方(fang))
測(ce)試精(jing)度(du):+/-5%,+/-10%(小(xiao)於10KΩ量(liang)程和大於等於1TΩ量(liang)程)
讀數(shu)分辨(bian)率(lv):2位小(xiao)數點(dian)(顯示(shi)0~9)
測(ce)試環境(jing)溫(wen)度(du):0~60℃,精(jing)度(du)+/-3℃
測(ce)試環境(jing)濕(shi)度(du):20%~80%,精(jing)度(du)+/-5%
50mmx75mm觸控屏
儀器內(nei)存(cun)保存(cun)99組(zu)測(ce)試數據
通過(guo)USB線(xian)連(lian)接電腦(nao),可以遠(yuan)端(duan)操(cao)作(zuo),數(shu)據輸(shu)出
標配REM002單(dan)面(mian)重錘(chui)和REM003雙面(mian)重(zhong)錘(chui),無需額(e)外的(de)同心(xin)圓(yuan)電極(ji)即(ji)可測(ce)試表面電阻(zu)(ANSI/ESD STM11.11, IEC61340-2-3規(gui)範)和體積電阻(zu)(ANSI/ESD STM11.12規(gui)範)
方(fang)案六,國產堅融JETYOO JR6517高阻(zu)表:
測(ce)量(liang)橡(xiang)膠(jiao)、塑(su)膠(jiao)、粉(fen)末(mo)、顆(ke)粒(li)物、電子(zi)元(yuan)器(qi)件(jian)、介(jie)質(zhi)材料(liao)、電線(xian)電纜(lan)、如(ru)防靜(jing)電鞋(xie)、防(fang)靜(jing)電塑(su)料(liao)橡(xiang)膠(jiao)制(zhi)品(pin)、計(ji)算機(ji)房防(fang)靜(jing)電活(huo)動地(di)板等電阻(zu)值(zhi)等絕緣性能(neng)的檢(jian)驗(yan)和電子(zi)電器(qi)產(chan)品(pin)的(de)絕緣電阻(zu)測(ce)量(liang)。
指標參數(shu)
1、電阻(zu)測(ce)量(liang)範圍(wei):10^4Ω~1×10^16Ω;
電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)範圍(wei):10^4~2.0×10^16Ω·m;
電流(liu)測(ce)量(liang)範圍(wei):1fA(即(ji)10^-15)~20mA
2、液(ye)晶(jing)顯示(shi): 電阻(zu)率(lv)、壓(ya)強(qiang)、溫(wen)度(du)、電導(dao)率(lv)、電流(liu)電壓(ya)、可輸(shu)入測(ce)試樣品(pin)數(shu)據(圓(yuan)柱:直(zhi)徑,高度(du);方(fang)體:長(chang)*寬(kuan)*高)單位(wei)可以切(qie)換(mm、cm、m)
3、內置(zhi)測(ce)試電壓(ya):0-1000V
4、基本準確度(du):<1GΩ,±1%;≥1GΩ,±3%;≥1TΩ,±10%;≥10TΩ,±20% (標準電阻(zu))
5、使(shi)用環(huan)境(jing): 溫(wen)度(du)0℃~40℃,相對(dui)濕(shi)度(du)<80%
6、測(ce)試電壓(ya): 10/50/100/250/500/1000V
7、供電形式: AC 220V,50Hz,功耗約5W
8、測(ce)量(liang)模式(shi):手動/自(zi)動量(liang)程。PC測(ce)試軟件(jian)(選(xuan)購),USB通訊接口(kou),軟件(jian)界面(mian)同(tong)步(bu)顯示(shi)、分析(xi)、保存和打印數(shu)據。
9、選(xuan)購電極(ji)/夾(jia)具(ju):三(san)電極(ji)(中(zhong)環(huan)直(zhi)徑50mm,外環(huan)內(nei)直(zhi)徑60mm,外環(huan)外(wai)直(zhi)徑80mm,底環直(zhi)徑100mm)、重錘(chui)電極(ji)、法(fa)拉(la)第桶、同心(xin)圓(yuan)電極(ji)、絕緣板/底盤電極(ji)
10.標準電阻(zu):1MΩ、10MΩ、1GΩ、100GΩ、1TΩ、10TΩ規(gui)格
三(san)電極(ji):測(ce)試薄膜(mo)或片(pian)狀材(cai)料(liao)表體電阻(zu)率(lv),體積電阻(zu)率(lv)
兩(liang)點(dian)電極(ji):測(ce)量(liang)小(xiao)材料(liao)電阻(zu)
鉗形電極(ji):測(ce)量(liang)不(bu)規(gui)則材(cai)料(liao)電阻(zu)
同心(xin)圓(yuan)電極(ji):測(ce)量(liang)薄膜(mo)或片(pian)狀平整材(cai)料(liao)表面電阻(zu)率(lv)
重錘(chui)電極(ji):測(ce)量(liang)點(dian)到(dao)點(dian)電阻(zu),或與(yu)右圖(tu)的(de)絕緣板底盤電極(ji)搭(da)配(pei)測(ce)薄膜(mo)或片(pian)狀材(cai)料(liao)體積電阻(zu)率(lv)
液(ye)體電阻(zu)率(lv)測(ce)試法拉(la)第桶