基(ji)礎(chu)信息Product information

產品(pin)名(ming)稱(cheng)：上(shang)海江(jiang)蘇浙(zhe)江(jiang)介電常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-06-11

產(chan)品簡(jian)介：

堅(jian)融(rong)實(shi)業——壹(yi)家(jia)致力(li)於(yu)為祖國(guo)用(yong)戶(hu)提(ti)供上海江(jiang)蘇浙(zhe)江(jiang)介電常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)、測(ce)試(shi)方案(an)、技術培訓(xun)、維(wei)修計量全面(mian)服(fu)務(wu)的儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)綜合服(fu)務(wu)商。

產(chan)品(pin)特性Product characteristics

專業儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)與(yu)測試(shi)方案(an)供應商——上(shang)海堅融(rong)實(shi)業有(you)限公(gong)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上(shang)海）測量儀(yi)器有(you)限公(gong)司JETYOO INSTRUMENTS，為原安(an)捷(jie)倫(lun)Agilent【現(xian)是德KEYSIGHT】品(pin)牌(pai)技術經(jing)理-堅JET與(yu)吉(ji)時(shi)利KEITHLEY【現(xian)泰克(ke)Tektronix】品(pin)牌(pai)產品(pin)經理-融(rong)YOO共同(tong)創(chuang)辦，專註(zhu)工業測(ce)試(shi)領(ling)域十六年，誌(zhi)在(zai)破舊(jiu)立(li)新(xin)！*進(jin)口儀器設備(bei)大(da)多數廠(chang)家僅(jin)在(zai)國(guo)內設(she)銷(xiao)售點(dian)，但技術支(zhi)持(chi)薄弱(ruo)甚至(zhi)沒(mei)有(you)，而代理經銷(xiao)商也(ye)只(zhi)做商務(wu)，不做售(shou)前(qian)技術支(zhi)持(chi)/測試(shi)方案(an)和(he)售後(hou)使(shi)用(yong)培訓(xun)/維(wei)修校準的空白。我(wo)們(men)的技術型(xing)銷(xiao)售均為本科(ke)以上(shang)學歷，且均(jun)有(you)10年以上測試(shi)行業經(jing)驗(yan)，以(yi)我(wo)們(men)*進(jin)*的(de)經營(ying)理念(nian)，與(yu)客(ke)戶(hu)互(hu)惠互(hu)利合(he)作雙(shuang)贏，重在(zai)協(xie)助用(yong)戶(hu)采(cai)購與技(ji)術工(gong)程(cheng)師(shi)的工(gong)作，提(ti)供較有(you)競爭(zheng)力(li)的(de)供應鏈管理與售(shou)前(qian)售後技術支(zhi)持(chi)。堅融(rong)實(shi)業——壹(yi)家(jia)致力(li)於(yu)為祖國(guo)用(yong)戶(hu)提(ti)供儀器(qi)設備(bei)、測(ce)試(shi)方案(an)、技術培訓(xun)、維(wei)修計量全面(mian)服(fu)務(wu)的儀(yi)器(qi)設(she)備(bei)綜合服(fu)務(wu)商。

上海江(jiang)蘇浙(zhe)江(jiang)介電常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀

主機(ji)：TH2839/TH2838/TH2829等系(xi)列阻(zu)抗(kang)分析儀(yi)/LCR數(shu)字電橋

夾(jia)具：TH26077介電測試(shi)夾(jia)具

上位(wei)機軟件：介電分析軟件

材料如果在(zai)受到外部(bu)電場(chang)作用(yong)時能夠(gou)儲(chu)存電能，就稱(cheng)為 "電介質(zhi)"。當(dang)給平行板電容(rong)器施加(jia)直流(liu)電壓時，如果兩(liang)板(ban)之間存(cun)在(zai)介電材料，那麽(me)可以(yi)儲(chu)存比沒有(you)介電材料 (真空) 時(shi)更(geng)多(duo)的電荷(he)。介電材料可以(yi)通過(guo)中(zhong)和(he)電極上的電荷(he)，使(shi)電容(rong)器儲(chu)存更(geng)多(duo)電荷(he)，而通常(chang)情(qing)況(kuang)下，這些(xie)電荷(he)將流向外部(bu)電場(chang)。介電材料的電容(rong)與介電常(chang)數(shu)有(you)關。當(dang)在(zai)平行板電容(rong)器上並(bing)聯(lian)直流電壓源(yuan) v 時 (圖 1)，兩(liang)板(ban)之間有(you)介電材料的配(pei)置(zhi)可(ke)以(yi)比沒有(you)介電材料 (真空) 的(de)配置(zhi)儲(chu)存更(geng)多(duo)的電荷(he)。

其(qi)中(zhong)，C 和(he) C0 分別是(shi)有(you)和(he)沒有(you)電介質(zhi)時(shi)的電容(rong)；k' = ε'r 是實際介電常(chang)數(shu)或介電常(chang)數(shu)，A 和(he) t 分別是(shi)電容(rong)器平板的面(mian)積(ji)和(he)間距(ju) (圖 1)。介電材料可以(yi)通過(guo)中(zhong)和(he)電極上的電荷(he)，使(shi)電容(rong)器儲(chu)存更(geng)多(duo)電荷(he)，而通常(chang)情(qing)況(kuang)下，這些(xie)電荷(he)將流向外部(bu)電場(chang)。根據(ju)上面(mian)的(de)方程(cheng)式(shi)可知(zhi)，介電材料的電容(rong)與介電常(chang)數(shu)有(you)關

如果在(zai)同壹(yi)個電容(rong)器上並(bing)聯(lian)交流正(zheng)弦(xian)電壓源(yuan) (圖 2)，得到的電流將包(bao)括(kuo)充(chong)電電流 I_C 和(he)與介電常(chang)數(shu)有(you)關的損(sun)耗電流 I_I 。材料中(zhong)的損(sun)耗可以(yi)用(yong)與電容(rong)器 (C) 並(bing)聯(lian)的電導(dao) (G) 表示(shi)。

復(fu)數介電常(chang)數(shu) 𝑘 由實(shi)部𝑘^𝐼 (表示(shi)儲(chu)存電荷(he)) 和(he)虛部(bu)𝑘^𝐼𝐼 (表示(shi)損(sun)耗電荷(he)) 組成(cheng)。

下面(mian)的(de)符號(hao)可(ke)以(yi)互(hu)換(huan)表(biao)示(shi)復(fu)數介電常(chang)數(shu)

𝑘=𝑘^∗=𝜀𝑟=𝜀^∗ 𝑟  。

根據(ju)電磁(ci)理論，電位移 (電通量密(mi)度(du)) 𝐷_𝑓的(de)定義是(shi):  

𝐷_𝑓=𝜖𝐸

其(qi)中(zhong)，𝜀=𝜀^∗=𝜀_0 𝜀_𝑟是絕(jue)對介電常(chang)數(shu)， 𝜀_𝑟是(shi)相(xiang)對介電常(chang)數(shu),𝜀_0≈1/36𝜋×10^(−9)是(shi)自(zi)由空間(jian)介電常(chang)數(shu)，E 是(shi)電場(chang)。

介電常(chang)數(shu)描述(shu)的(de)是(shi)材(cai)料與電場(chang) E 的相(xiang)互(hu)作用(yong)，是壹(yi)個復(fu)數。

𝑘=𝜀/𝜀_0 =𝜀_𝑟=𝜀_𝑟−𝑗〖𝜀_𝑟〗^"

      介電常(chang)數(shu) (k) 等(deng)於(yu)相(xiang)對介電常(chang)數(shu) (𝜀_𝑟 )，或絕對介電常(chang)數(shu) ( 𝜀 )與(yu)自(zi)由空間(jian)介電常(chang)數(shu) (𝜀_0) 之(zhi)比。介電常(chang)數(shu)的(de)實(shi)部(bu) ( 𝜀_r^′) 表(biao)示(shi)外部電場(chang)有(you)多少電能儲(chu)存到材料中(zhong)。介電常(chang)數(shu)的(de)虛(xu)部(bu) (𝜀_𝑟^" ) 稱(cheng)為損(sun)耗因(yin)子，表(biao)示(shi)材料中(zhong)有(you)多少電能耗散到外部(bu)電場(chang)。介電常(chang)數(shu)的(de)虛(xu)部(bu) (𝜀_𝑟^" ) 始(shi)終(zhong)大於 0，通常(chang)遠(yuan)遠(yuan)小於(yu) (𝜀_r^′ )。損(sun)耗因(yin)子同(tong)時包(bao)括(kuo)電介質(zhi)損(sun)耗和(he)電導(dao)率的(de)效(xiao)應。

      如果用(yong)簡(jian)單的矢量圖 (圖 3) 表示(shi)復(fu)數介電常(chang)數(shu)，實(shi)部(bu)和(he)虛部(bu)的相(xiang)位將會相(xiang)差 90°。其(qi)矢量和(he)與實(shi)軸( 𝜀_r^′ ) 形(xing)成(cheng)夾(jia)角δ 。材(cai)料的相(xiang)對 "損(sun)耗" 等於(yu)損(sun)耗電量與(yu)儲(chu)存電量的(de)比值(zhi)。

損(sun)耗正(zheng)切(qie)或 𝑡𝑎𝑛𝛿定義為介電常(chang)數(shu)的(de)虛(xu)部(bu)與(yu)實部之比。 D 表示(shi)耗散因(yin)子， Q 表(biao)示(shi)品質因(yin)數。 損(sun)耗正(zheng)切(qie)𝑡𝑎𝑛𝛿可(ke)以(yi)讀(du)成(cheng)tan delta、 損(sun)耗正(zheng)切(qie)角(jiao)或耗散因(yin)子。 有(you)時， "品質因(yin)數或Q因(yin)數" 也(ye)用(yong)來描述(shu)電子微波材料的特(te)性， 等(deng)於(yu)損(sun)耗正(zheng)切(qie)的(de)倒數(shu)。 對於損(sun)耗非(fei)常(chang)低(di)的材(cai)料，  𝑡𝑎𝑛𝛿≈𝛿， 所以(yi)損(sun)耗正(zheng)切(qie)可(ke)以(yi)用(yong)角度單位毫弧(hu)度(du)或微弧(hu)度(du)來(lai)表示(shi)。

上海江(jiang)蘇浙(zhe)江(jiang)介電常(chang)數(shu)測(ce)試(shi)儀，元(yuan)器(qi)件參數(shu)測(ce)試(shi)儀TH2851精(jing)密(mi)阻(zu)抗(kang)分析儀(yi) 5個型(xing)號(hao)可(ke)選(xuan)(10Hz-130MHz)應用(yong)領(ling)域

無(wu)源(yuan)元件：

電容(rong)器、電感器、磁(ci)芯(xin)、電阻(zu)器(qi)、壓電器件、變壓器、芯(xin)片組件和(he)網絡(luo)元(yuan)件等的(de)阻(zu)抗(kang)參數評(ping)估和(he)性能分(fen)析。

半導(dao)體元件：

LED驅動集(ji)成(cheng)電路(lu)寄生(sheng)參(can)數測(ce)試(shi)分析；變容(rong)二極管的(de)C-VDC特性；晶(jing)體管或集(ji)成(cheng)電路(lu)的寄生(sheng)參(can)數分(fen)析

其(qi)它(ta)元件：

印制電路(lu)板、繼電器、開關、電纜(lan)、電池(chi)等(deng)阻(zu)抗(kang)評估

介質(zhi)材(cai)料：

塑料、陶瓷(ci)和(he)其(qi)它(ta)材料的介電常(chang)數(shu)和(he)損(sun)耗角評(ping)估

磁(ci)性材(cai)料：

鐵氧(yang)體、非(fei)晶體和(he)其(qi)它(ta)磁(ci)性材(cai)料的導(dao)磁(ci)率(lv)和(he)損(sun)耗角評(ping)估

半導(dao)體材料：

半導(dao)體材料的介電常(chang)數(shu)、導(dao)電率和(he)C-V特性液(ye)晶(jing)材料：液晶(jing)單元的介電常(chang)數(shu)、彈(dan)性常(chang)數(shu)等(deng)C-V特(te)性

技術參(can)數(shu)

產品(pin)型號(hao) TH2851-015 ，TH2851-030， TH2851-050， TH2851-080 ，TH2851-130

顯示(shi) 10.1英寸TFTLCD顯示(shi)器1280×RGB×800，電容(rong)式觸摸(mo)屏(ping)

AC測量參(can)數 Cp/Cs、 Lp/Ls、 Rp/Rs、 |Z|、 |Y|、 R、 X、 G、 B、 θ 、 D、 Q、 VAC、 IAC

DC測量參(can)數 VDC、 IDC、 DCR

測試(shi)頻(pin)率

範圍 10Hz - 15MHz， 10Hz - 30MHz， 10Hz - 50MHz， 10Hz - 80MHz， 10Hz - 130MHz

最高(gao)分(fen)辨率(lv) 1mHz

頻(pin)率相(xiang)對誤差(cha) ≤± 0.0007%

測試(shi)電平

AC電壓 5mV - 2Vrms

分辨(bian)率 1mV

AC電流 50uA - 20mArms

分辨(bian)率 10uA

DC偏置(zhi)

電壓 0V - ± 40V

電壓分辨率 1mV

電流 0mA - ± 100mA

電流分辨率(lv) 40μA

測試(shi)端(duan)配置(zhi) 四(si)端(duan)對

輸出(chu)阻(zu)抗(kang) 25Ω/100Ω

典型(xing)測量時(shi)間（速度(du)）

五檔(dang)： 1(快速) - 5(精(jing)確)1:2.5ms 2:10ms 3:40ms 4:80ms 5:400ms（不(bu)包(bao)括(kuo)通訊(xun)時(shi)間的(de)算(suan)數(shu)平均值(zhi)，每個頻(pin)率測(ce)試(shi)速度(du)會略(lve)有(you)不同）

最高(gao)準確度(du)

1kHz： 0.08%

1MHz： 0.08%

2MHz： 0.5%

10MHz： 1%

130MHz： 5.0%

測量顯示(shi)範圍 a 1×10-18； E 1×1018

Cs、 Cp ± 1.00000 aF - 999.999 EF

Ls、 Lp ± 1.00000 aH - 999.999 EH

D ± 0.00001 - 9.99999

Q ± 0.01 - 9999.99

R、 Rs、 Rp、 X、 Z ± 1.00000 aΩ - 999.999 EΩ

G、 B、 Y ± 1. 00000 aS - 999.999 ES

Vdc ± 1.00000 aV - 999.999 EV

Idc ± 1.00000 aA - 999.999 EA

θr ± 1.00000 a rad - 3.14159 rad

θd ± 0.0001 deg - 180.000 deg

Δ% ± 0.0001% - 999.999%

多功能參(can)數列(lie)表掃(sao)描 1601點(dian)，每個點(dian)可(ke)設置(zhi)平均數，每個點(dian)可(ke)單獨分(fen)選(xuan)

掃描參(can)數：測量參(can)數、測(ce)試(shi)頻(pin)率、 AC電壓、 AC電流、 DC BIAS電壓、 DC BIAS電流

圖形掃描

參數(shu) 頻(pin)率、 ACV、 ACI、 DCV、 DCI

類(lei)型(xing) 對數、線性、頻(pin)率分(fen)段

點數(shu) 2-1601

通道(dao)數(shu) 4

曲線數 4條(tiao)/通道(dao)

分屏(ping)顯示(shi) 16種(zhong)（通道(dao)和(he)曲線）

等效(xiao)電路(lu)分析 3元(yuan)件模(mo)型： 4個、 4元(yuan)件模(mo)型： 3個

晶體振蕩(dang)器分(fen)析 有(you)

曲線軌跡(ji)比對 有(you)

分選(xuan) LCR模(mo)式10檔(dang)分選(xuan)；掃描模(mo)式每條(tiao)曲線單獨分(fen)選(xuan)

接口 RS232C， USB HOST、 USB DEVICE、 LAN、 GPIB、 HANDLER、 VGA、 HDMI

開機(ji)預熱時間(jian) 60分鐘(zhong)

輸入(ru)電壓 100-120VAC/198-242VAC可選擇， 47-63Hz

功耗 最大(da)150VA

尺(chi)寸（WxHxD） mm3 428x220x325

重量 14.5kg

隨(sui)機(ji)附(fu)件：

TH26047A 四端(duan)測試(shi)夾(jia)具

TH26005D 四端(duan)測試(shi)夾(jia)具

TH26082A 100Ω 標準件

TH26010 鍍(du)金(jin)短(duan)路(lu)板

TH26061D_P1 校準套件

AR05TTS1000N 貼片(pian)電阻(zu)

選配(pei)件：

TH26007A 磁(ci)環(huan)測試(shi)夾(jia)具

TH26008A SMD元件測試(shi)夾(jia)具

TH26009B SMD元件測試(shi)鉗(qian)

TH26048 四端(duan)測試(shi)夾(jia)具

TH26062A 四端(duan)測試(shi)夾(jia)具

TH26063 四端(duan)測試(shi)夾(jia)具

TH26108C 四端(duan)對貼片(pian)測(ce)試(shi)夾(jia)具

TH26077 電介質(zhi)測(ce)試(shi)夾(jia)具

體積(ji)（mm）： 428 (W)×220(H)×325(D)

凈重： 14.5kg

TH2851系(xi)列阻(zu)抗(kang)分析儀(yi)是(shi)常(chang)州(zhou)同(tong)惠(hui)電子采用(yong)自(zi)動平衡(heng)電橋原理研制成(cheng)功的新(xin)壹(yi)代(dai)阻(zu)抗(kang)測試(shi)儀器(qi)，為國(guo)產阻(zu)抗(kang)測試(shi)儀器(qi)的(de)最(zui)新(xin)高(gao)度(du)。

TH2851系(xi)列阻(zu)抗(kang)分析儀(yi)摒(bing)棄了傳(chuan)統國(guo)產儀器(qi)復(fu)雜繁(fan)瑣的操(cao)作界(jie)面(mian)，基(ji)於(yu)Windows10操(cao)作系(xi)統，實(shi)現(xian)了全電腦(nao)化操(cao)作界(jie)面(mian)，讓(rang)測(ce)試(shi)更(geng)智(zhi)能、更(geng)簡(jian)便(bian)。

TH2851系(xi)列阻(zu)抗(kang)分析儀(yi)也(ye)*超(chao)越了(le)國(guo)外同類(lei)儀(yi)器120MHz的頻(pin)率瓶(ping)頸(jing)；解決了(le)國(guo)外同類(lei)儀(yi)器只能分(fen)析、無(wu)法(fa)單獨測(ce)試(shi)的缺(que)陷(xian)；中(zhong)英文(wen)操(cao)作界(jie)面(mian)也(ye)解決了(le)國(guo)外儀器(qi)僅(jin)有(you)英文(wen)界(jie)面(mian)的(de)尷(gan)尬(ga)；采用(yong)單測和(he)分析兩(liang)種(zhong)界(jie)面(mian)，讓(rang)測(ce)試(shi)更(geng)簡(jian)單。

快達2.5ms的測試(shi)速度(du)、及(ji)高(gao)達100MΩ的阻(zu)抗(kang)測試(shi)範圍可以(yi)滿(man)足元件與材(cai)料的測(ce)量要(yao)求，特(te)別有(you)利於低(di)損(sun)耗(D)電容(rong)器和(he)高(gao)品(pin)質因(yin)數(Q)電感器的測(ce)量。四(si)端(duan)對的端(duan)口配置(zhi)方式(shi)可有(you)效(xiao)消除(chu)測試(shi)線電磁(ci)耦合的影(ying)響(xiang)，將低(di)阻(zu)抗(kang)測試(shi)能力(li)的(de)下限比常(chang)規(gui)五端(duan)配置(zhi)的(de)儀(yi)器(qi)向下擴展了(le)十倍(bei)。

簡(jian)要(yao)介紹(shao)

測試(shi)頻(pin)率： 10Hz-130MHz

高(gao)精(jing)度：采(cai)用(yong)自(zi)動平衡(heng)電橋技術，四(si)端(duan)對測試(shi)配置(zhi)

高(gao)穩(wen)定性和(he)壹(yi)致(zhi)性

高(gao)速度(du)：最(zui)快達2.5ms的測試(shi)速度(du)

高(gao)分(fen)辨： 10.1英(ying)寸電容(rong)式觸摸(mo)屏(ping)，分辨(bian)率1280*800

點測(ce)、列表(biao)掃(sao)描、圖形掃描、等(deng)效(xiao)電路(lu)、晶體振蕩(dang)器分(fen)析五(wu)種(zhong)測試(shi)方式(shi)

1601點多(duo)參數(shu)列(lie)表(biao)掃(sao)描功能

四參(can)數測(ce)量

自(zi)動電平控制（ALC）功能

4通道(dao)圖形掃描功能，每通道(dao)可(ke)顯示(shi)4條(tiao)曲線，通道(dao)和(he)曲線有(you)14種(zhong)分屏(ping)顯示(shi)方式(shi)

強(qiang)大的分選： LCR模(mo)式10檔(dang)分選(xuan)

圖形掃描模(mo)式每條(tiao)曲線單獨分(fen)選(xuan)，頻(pin)率分(fen)段掃(sao)描並(bing)分(fen)選

高(gao)兼容(rong)性：支(zhi)持(chi)SCPI指令(ling)集(ji)，兼容(rong)KEYSIGHT E4990A、E4980A、 E4980AL、 HP4284A

RS232

HANDLER HMDI

GPIB

USB HOST

VGA

LAN

USB DEVICE

SCPI

TH2851系(xi)列阻(zu)抗(kang)分析儀(yi)包(bao)括(kuo)以下幾種(zhong)類(lei)型(xing)：

TH2851- 015

TH2851- 030

TH2851- 050

TH2851- 080

TH2851- 130

測試(shi)頻(pin)率

10Hz-15MHz

10Hz-30MHz

10Hz-50MHz

10Hz-80MHz

10Hz-130MHz

基(ji)本(ben)精(jing)度 0.08%

AC信號(hao)源(yuan)

電壓 5mVrms - 2Vrms

電流 200uA - 20mArms

DC偏置(zhi)

電壓 0V - ±40V

電流 0mA - ±100mA

A.高(gao)精(jing)度

寬帶(dai)自(zi)動調零型自(zi)動平衡(heng)電橋技術的(de)應用(yong)，得以(yi)在(zai)10Hz-130MHz頻(pin)率、 1mΩ-100MΩ的(de)阻(zu)抗(kang)範圍內都能達到理想的(de)測量精(jing)度，其(qi)中(zhong)最高(gao)精(jing)度達0.08%，遠(yuan)遠(yuan)高(gao)於(yu)射頻(pin)反(fan)射(she)測(ce)量法(fa)的阻(zu)抗(kang)分析儀(yi)、網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)的(de)精度。

下圖是在(zai)速度(du)5、測(ce)試(shi)頻(pin)率1MHz，測(ce)量100Ω電阻(zu)的(de)曲線，由下圖可見其(qi)軌跡(ji)噪聲≦ 0.003%（≦± 0.0015Ω ）

B.高(gao)穩(wen)定性和(he)高(gao)壹(yi)致(zhi)性 

C.高(gao)速度(du)

D.10.1寸大(da)屏(ping)，四種(zhong)測量參(can)數，讓(rang)細(xi)節(jie)壹(yi)覽(lan)無(wu)遺 

E.增強(qiang)的列表掃描功能

F.強(qiang)大的分析圖形界(jie)面(mian)

G.分段掃(sao)描功能

最多(duo)可以(yi)4通道(dao)同(tong)時顯示(shi)，每個通道(dao)可(ke)以最(zui)多(duo)顯示(shi)4條(tiao)曲線。通道(dao)和(he)曲線各(ge)有(you)十四(si)種(zhong)分屏(ping)顯示(shi)方法(fa)。

分段掃(sao)描是(shi)在(zai)壹(yi)個掃(sao)描周(zhou)期(qi)內，設(she)置(zhi)不(bu)同(tong)的(de)頻(pin)率分(fen)段進(jin)行掃描，掃(sao)描時(shi)可設置(zhi)不(bu)同(tong)的(de)電平及偏置(zhi)，掃(sao)描結(jie)果直接圖形顯示(shi)，用(yong)於需要快速篩選多個頻(pin)率段參(can)數的(de)掃描需(xu)求。

如晶體諧振(zhen)器需(xu)要(yao)測(ce)試(shi)標稱(cheng)諧(xie)振(zhen)/抗(kang)諧(xie)振頻(pin)率以(yi)及其(qi)他雜散頻(pin)率，通過(guo)分段掃(sao)描共呢(ne)個可(ke)在(zai)特定頻(pin)率範圍內掃(sao)描測(ce)量，無(wu)需(xu)掃(sao)描不(bu)相(xiang)關頻(pin)率

單通道(dao)四(si)曲線顯示(shi)

雙通道(dao)雙(shuang)曲線顯示(shi)

單通道(dao)單曲線

四通道(dao)四(si)曲線

10.1寸觸摸(mo)屏(ping)、 1280*800分辨(bian)率， Windows10系(xi)統、中(zhong)英文(wen)操(cao)作界(jie)面(mian)，支(zhi)持(chi)鍵(jian)盤(pan)、鼠標(biao)、 LAN、 VGA/HDMI接口，帶(dai)來(lai)的是無(wu)以(yi)倫(lun)比的操(cao)作便(bian)捷(jie)性。

大屏(ping)幕帶(dai)來(lai)更(geng)多(duo)的好處是(shi)，可(ke)以把所有(you)測試(shi)參數(shu)及(ji)分(fen)選參數(shu)、分選(xuan)結(jie)果、功能選(xuan)擇等(deng)參數(shu)放(fang)置(zhi)在(zai)同壹(yi)屏(ping)幕，而(er)且(qie)看起(qi)來絕不擁擠(ji)和(he)雜亂(luan)，同時(shi)可以顯示(shi)四種(zhong)測量參(can)數，四(si)種(zhong)測量參(can)數任(ren)意(yi)可(ke)調。屏(ping)幕左(zuo)邊(bian)的按(an)鈕(niu)可以(yi)快捷(jie)選(xuan)擇(ze)8套測試(shi)參數(shu)

可以(yi)最多(duo)設(she)置(zhi)1601點(dian)的(de)列(lie)表掃(sao)描，每個點(dian)可(ke)以單獨設(she)置(zhi)測(ce)試(shi)頻(pin)率、測(ce)試(shi)電壓、直流偏置(zhi)等(deng)測(ce)試(shi)條(tiao)件。

H.強(qiang)大的光標分(fen)析能力(li)

G.強(qiang)大的圖形分析功能

TH2851系(xi)列精(jing)密(mi)阻(zu)抗(kang)分析儀(yi)具(ju)有(you)強(qiang)大的光標分(fen)析能力(li)，可(ke)以(yi)通過(guo)光標(biao)實(shi)現(xian)如下功能：

1. 讀(du)取測量結(jie)果的(de)數(shu)值(zhi)（作為絕對數值(zhi)或者相(xiang)對於參(can)考(kao)點的(de)相(xiang)對值(zhi)）

2. 查找(zhao)曲線上的特定點（光(guang)標查找(zhao)）

3. 分析曲線測量結(jie)果，計算(suan)統計數據(ju)

4. 使(shi)用(yong)光標值(zhi)修改(gai)掃描範圍以及(ji)縱坐(zuo)標(biao)縮(suo)放(fang)

TH2851 可以(yi)在(zai)每條(tiao)曲線上顯示(shi) 10 個光(guang)標(biao)，包(bao)括(kuo)了參(can)考(kao)光(guang)標(biao)。

每個光(guang)標(biao)有(you)壹(yi)個激(ji)勵值(zhi)（坐標(biao)系(xi) X 軸對應的數值(zhi)）和(he)響應值(zhi)（坐標(biao)系(xi) Y 軸對應的數值(zhi)）。

光標(biao)查找(zhao)功能允許搜索下列條(tiao)件測量點(dian)：

最大(da)值(zhi)、最小值(zhi)

峰谷(gu)值(zhi)： 峰值(zhi)（極大(da)值(zhi)）、谷值(zhi)（極小值(zhi)）、光標(biao)左(zuo)側最(zui)近(jin)的(de)峰(feng)谷(gu)值(zhi)、光標(biao)右(you)側最(zui)近(jin)的(de)峰(feng)谷(gu)值(zhi)、多重峰谷(gu)值(zhi)

目標(biao)值(zhi)： 距離(li)光(guang)標(biao)最近(jin)的(de)目(mu)標(biao)值(zhi)、光標(biao)左(zuo)側最(zui)近(jin)的(de)目(mu)標(biao)值(zhi)、光標(biao)右(you)側最(zui)近(jin)的(de)目(mu)標(biao)值(zhi)、多重目標(biao)值(zhi)

1） 曲線分選功能

可以(yi)對掃描曲線全部(bu)或者部(bu)分(fen)區(qu)域的測(ce)試(shi)值(zhi)進(jin)行合格(ge)/不合(he)格判斷(duan)，常(chang)用(yong)於諧振曲線刷選如壓電元件等諧(xie)振(zhen)頻(pin)率篩選。

2） 等效(xiao)電路(lu)分析測(ce)試(shi)

現(xian)實生(sheng)活(huo)中(zhong)不同(tong)類(lei)型(xing)的器件可以(yi)被(bei)等(deng)效(xiao)成(cheng)簡(jian)單的三(san)參(can)數(shu)四(si)種(zhong)模(mo)型、四(si)參數(shu)三(san)種(zhong)模(mo)型的(de)阻(zu)抗(kang)器件，等效(xiao)電路(lu)分析測(ce)試(shi)功能提(ti)供了7種(zhong)基(ji)本(ben)的(de)電路(lu)模(mo)型用(yong)於等效(xiao)這些(xie)器(qi)件。

可以(yi)通過(guo)仿真的等(deng)效(xiao)電路(lu)參數值(zhi)的阻(zu)抗(kang)擬合曲線與實際測(ce)量的(de)阻(zu)抗(kang)曲線進(jin)行對比，還可以(yi)通過(guo)您輸(shu)入(ru)的參數(shu)按(an)照所選(xuan)擇的(de)模(mo)型進(jin)行擬合(he)。

等效(xiao)的電路(lu)模(mo)型可(ke)以直(zhi)接輸出(chu)成(cheng)TXT文(wen)檔方便(bian)用(yong)戶(hu)保(bao)存(cun)使(shi)用(yong)

3） 晶體振蕩(dang)器分(fen)析

對壓電陶瓷(ci)等晶(jing)體進(jin)行測量以(yi)及性能分(fen)析，測(ce)量計算(suan)後(hou)獲取晶體的諧(xie)振頻(pin)率、反(fan)諧(xie)振(zhen)頻(pin)率、品(pin)質因(yin)數等(deng)重要參(can)數(shu)。

F.標配(pei)附件

F.選配(pei)附件

TH26007A磁(ci)環(huan)測試(shi)夾(jia)具 

TH26108C四端(duan)對貼片(pian)測(ce)試(shi)夾(jia)具

TH26063四端(duan)測試(shi)夾(jia)具

TH26047A四端(duan)測試(shi)夾(jia)具 

TH26082A 100Ω標準件 

TH26010 鍍(du)金(jin)短(duan)路(lu)板

TH26061D_P1 校準套件

AR05TTS1000N 貼片(pian)電阻(zu)

TH26005D四端(duan)測試(shi)夾(jia)具

TH26008ASMD 元件測試(shi)夾(jia)具 

TH26009B SMD元件測試(shi)鉗(qian) 

TH26062A四端(duan)測試(shi)夾(jia)具

TH26048四端(duan)測試(shi)夾(jia)具 

TH26077電介質(zhi)測(ce)試(shi)夾(jia)具

·工作頻(pin)率： DC-40 MHz

·最大(da)偏置(zhi)： ± 42 V

·應用(yong)： SMD器件，尤其(qi)高(gao)頻(pin)小電容(rong)≤3pF或小電感≤1µH，測試(shi)頻(pin)率≥100kHz,且(qie)對D和(he)Q要求高(gao)的(de)器件

·工作頻(pin)率： DC-120MHz

·最大(da)直流(liu)偏(pian)置(zhi): ± 42V

·應用(yong)：小型(xing)磁(ci)環(huan)單匝電感量測(ce)試(shi)，尺(chi)寸大(da)小可(ke)定制

·工作頻(pin)率: DC-100kHz

·最大(da)直流(liu)偏(pian)置(zhi)： ± 42V

·應用(yong)：測試(shi)螺栓電容(rong)器，DC_LINK電容(rong)

·工作頻(pin)率： DC-120 MHz

·最大(da)直流(liu)偏(pian)置(zhi): ± 42 V

·應用(yong)：用(yong)於導(dao)線類(lei)器(qi)件的阻(zu)抗(kang)測試(shi)，帶(dai)屏(ping)蔽接(jie)地端(duan)

·工作頻(pin)率： DC-120 MHz

·最大(da)直流(liu)偏(pian)置(zhi): ± 42 V

·工作頻(pin)率： DC-120MHz

·最大(da)直流(liu)偏(pian)置(zhi): ± 42V

·應用(yong)： SMD 器件，尤其(qi)高(gao)頻(pin)小電容(rong)≤3pF或小電感≤1µH。測試(shi) 頻(pin)率≥100kHz

·工作頻(pin)率： DC-15 MHz

·最大(da)直流(liu)偏(pian)置(zhi)： ± 42V

·應用(yong)： 用(yong)於各(ge)種(zhong) SMD 器件測試(shi)

·工作頻(pin)率: DC-100kHz

·最大(da)直流(liu)偏(pian)置(zhi)： ± 42V

·應用(yong)：測試(shi)電動汽(qi)車(che)用(yong)薄膜(mo)大容(rong)

量DC_LINK電容(rong)

·工作頻(pin)率： DC-120 MHz

·DUT尺(chi)寸： 10mm – 56mm

·DUT厚(hou)度(du)： ≤10mm

·應用(yong)：固體材料的介電分析

·工作頻(pin)率： DC-13 MHz

·最大(da)直流(liu)偏(pian)置(zhi)： ± 42 V

·應用(yong)：用(yong)於各(ge)種(zhong)直插式(shi)軸(zhou)向和(he)徑向阻(zu)抗(kang)器件

4） 曲線軌跡(ji)對比

曲線軌跡(ji)對比用(yong)於對被測(ce)件進(jin)行連續(xu)測量，所有(you)曲線顯示(shi)在(zai)同壹(yi)個坐(zuo)標(biao)系(xi)中(zhong)。由下列兩(liang)種(zhong)應用(yong)：

a) 針對多種(zhong)不同(tong)被測(ce)件

對比不同測(ce)量條(tiao)件下的曲線軌跡(ji)

設置(zhi)不(bu)同(tong)的(de)頻(pin)率點(dian)，計算(suan)出(chu)所有(you)曲線在(zai)該頻(pin)率點(dian)的測(ce)量值(zhi)

b) 針對同壹(yi)個被(bei)測(ce)件

對比同壹(yi)個條(tiao)件下測量的(de)多次(ci)測(ce)量結(jie)果重復(fu)性

設置(zhi)不(bu)同(tong)頻(pin)率點(dian)，計算(suan)出(chu)所有(you)曲線在(zai)該頻(pin)率點(dian)的測(ce)量值(zhi)