基(ji)礎(chu)信(xin)息Product information

產(chan)品名稱(cheng)：上海(hai)蘇(su)州南(nan)京常州(zhou)杭(hang)州寧(ning)波嘉興介(jie)電常數(shu)測(ce)試(shi)

產(chan)品型(xing)號：

更新(xin)時(shi)間(jian)：2025-06-11

產(chan)品簡介(jie)：

堅(jian)融實業——壹(yi)家致力於為(wei)祖國(guo)用戶提供上海(hai)蘇(su)州南(nan)京常州(zhou)杭(hang)州寧(ning)波嘉興介(jie)電常數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)儀(yi)器(qi)設(she)備、測(ce)試(shi)方(fang)案(an)、技(ji)術(shu)培訓(xun)、維修計(ji)量全面服(fu)務(wu)的儀器(qi)設(she)備綜合(he)服(fu)務(wu)商(shang)。

產(chan)品特性(xing)Product characteristics

專業儀(yi)器設(she)備與(yu)測試(shi)方(fang)案(an)供應(ying)商(shang)——上海(hai)堅(jian)融實業有(you)限(xian)公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友（上海(hai)）測(ce)量儀(yi)器有(you)限(xian)公司JETYOO INSTRUMENTS，為(wei)原安捷(jie)倫Agilent【現(xian)是德(de)KEYSIGHT】品牌(pai)技(ji)術(shu)經(jing)理-堅(jian)JET與(yu)吉時(shi)利KEITHLEY【現(xian)泰克Tektronix】品牌(pai)產(chan)品經(jing)理-融(rong)YOO共同創辦(ban)，專註(zhu)工業測(ce)試(shi)領域(yu)十六(liu)年(nian)，壹家致力於為(wei)祖國(guo)用戶提供儀器(qi)設(she)備、測(ce)試(shi)方(fang)案(an)、技(ji)術(shu)培訓(xun)、維修計(ji)量全面服(fu)務(wu)的儀器(qi)設(she)備綜合(he)服(fu)務(wu)商(shang)。

上海(hai)蘇(su)州南(nan)京常州(zhou)杭(hang)州寧(ning)波嘉興介(jie)電常數(shu)測(ce)試(shi)

主機(ji)：TH2839阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀/LCR數(shu)字(zi)電(dian)橋

夾具(ju)：TH26077介(jie)電測(ce)試(shi)夾具(ju)

上位機(ji)軟(ruan)件(jian)：介(jie)電分(fen)析軟件(jian)

材料(liao)如(ru)果(guo)在(zai)受到外部(bu)電場作(zuo)用時能(neng)夠儲(chu)存電(dian)能，就(jiu)稱(cheng)為(wei) "電介(jie)質(zhi)"。當給平行板電(dian)容(rong)器(qi)施(shi)加直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)時，如(ru)果(guo)兩板之(zhi)間(jian)存(cun)在(zai)介(jie)電材(cai)料，那麽可(ke)以(yi)儲(chu)存比(bi)沒有(you)介(jie)電材(cai)料 (真空) 時更多的電荷。介(jie)電材(cai)料可以通(tong)過(guo)中(zhong)和電(dian)極(ji)上的電荷，使電容(rong)器(qi)儲(chu)存更多電荷，而(er)通(tong)常情況下，這(zhe)些電(dian)荷將流(liu)向(xiang)外(wai)部電場。介(jie)電材(cai)料的電容(rong)與(yu)介(jie)電常數(shu)有(you)關(guan)。當在(zai)平行板電(dian)容(rong)器(qi)上並聯直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)源(yuan) v 時 (圖 1)，兩板之(zhi)間(jian)有(you)介(jie)電材(cai)料的配置(zhi)可(ke)以比(bi)沒有(you)介(jie)電材(cai)料 (真空) 的配置(zhi)儲(chu)存更多的電荷。

其中(zhong)，C 和 C0 分(fen)別(bie)是有(you)和(he)沒有(you)電(dian)介(jie)質(zhi)時的電容(rong)；k' = ε'r 是實際(ji)介(jie)電常數(shu)或(huo)介(jie)電常數(shu)，A 和(he) t 分別(bie)是電(dian)容(rong)器(qi)平板的面積(ji)和間(jian)距(ju) (圖 1)。介(jie)電材(cai)料可以通(tong)過(guo)中(zhong)和電(dian)極(ji)上的電荷，使電容(rong)器(qi)儲(chu)存更多電荷，而(er)通(tong)常情況下，這(zhe)些電(dian)荷將流(liu)向(xiang)外(wai)部電場。根據(ju)上面(mian)的方(fang)程式可知，介(jie)電材(cai)料的電容(rong)與(yu)介(jie)電常數(shu)有(you)關(guan)

如(ru)果(guo)在(zai)同壹(yi)個電(dian)容(rong)器(qi)上並聯交(jiao)流(liu)正(zheng)弦(xian)電壓(ya)源(yuan) (圖 2)，得到的電流(liu)將包括(kuo)充(chong)電電流(liu) I_C 和(he)與(yu)介(jie)電常數(shu)有(you)關(guan)的損(sun)耗電流(liu) I_I 。材(cai)料(liao)中(zhong)的損(sun)耗可以(yi)用與(yu)電容(rong)器(qi) (C) 並聯的電導(dao) (G) 表示(shi)。

復(fu)數(shu)介(jie)電常數(shu) 𝑘 由(you)實部𝑘^𝐼 (表示(shi)儲(chu)存電(dian)荷) 和虛部(bu)𝑘^𝐼𝐼 (表示(shi)損(sun)耗電荷) 組成。

下面(mian)的符(fu)號可(ke)以互換表示(shi)復(fu)數(shu)介(jie)電常數(shu)

𝑘=𝑘^∗=𝜀𝑟=𝜀^∗ 𝑟  。

根據(ju)電(dian)磁理論，電位移(yi) (電(dian)通量密度(du)) 𝐷_𝑓的定義是:  

𝐷_𝑓=𝜖𝐸

其中(zhong)，𝜀=𝜀^∗=𝜀_0 𝜀_𝑟是絕(jue)對介(jie)電常數(shu)， 𝜀_𝑟是相對介(jie)電常數(shu),𝜀_0≈1/36𝜋×10^(−9)是自(zi)由空間(jian)介(jie)電常數(shu)，E 是電(dian)場。

介(jie)電常數(shu)描(miao)述(shu)的是材(cai)料(liao)與(yu)電場 E 的相互作(zuo)用，是壹(yi)個復(fu)數(shu)。

𝑘=𝜀/𝜀_0 =𝜀_𝑟=𝜀_𝑟−𝑗〖𝜀_𝑟〗^"

     介(jie)電常數(shu) (k) 等於相對介(jie)電常數(shu) (𝜀_𝑟 )，或(huo)絕對介(jie)電常數(shu) ( 𝜀 )與(yu)自(zi)由空間(jian)介(jie)電常數(shu) (𝜀_0) 之(zhi)比。介(jie)電常數(shu)的實部 ( 𝜀_r^′) 表示(shi)外部(bu)電場有(you)多少(shao)電(dian)能儲(chu)存到材料(liao)中(zhong)。介(jie)電常數(shu)的虛部(bu) (𝜀_𝑟^" ) 稱(cheng)為(wei)損(sun)耗因子，表示(shi)材料(liao)中(zhong)有(you)多少(shao)電(dian)能耗散到外部(bu)電場。介(jie)電常數(shu)的虛部(bu) (𝜀_𝑟^" ) 始終大(da)於(yu) 0，通常遠遠小(xiao)於(yu) (𝜀_r^′ )。損(sun)耗因子同時(shi)包括(kuo)電介(jie)質(zhi)損(sun)耗和電(dian)導(dao)率的效應(ying)。

     如(ru)果(guo)用簡單(dan)的矢(shi)量圖 (圖 3) 表示(shi)復(fu)數(shu)介(jie)電常數(shu)，實部和(he)虛部(bu)的相位將會(hui)相差 90°。其矢(shi)量和(he)與(yu)實軸( 𝜀_r^′ ) 形成夾角δ 。材(cai)料(liao)的相對 "損(sun)耗" 等於損(sun)耗電量(liang)與(yu)儲(chu)存電(dian)量的比值(zhi)。

損(sun)耗正切(qie)或(huo) 𝑡𝑎𝑛𝛿定義為(wei)介(jie)電常數(shu)的虛部(bu)與(yu)實部之(zhi)比。 D 表示(shi)耗散因子， Q 表示(shi)品質(zhi)因數(shu)。 損(sun)耗正切(qie)𝑡𝑎𝑛𝛿可(ke)以(yi)讀(du)成tan delta、 損(sun)耗正切(qie)角(jiao)或(huo)耗散因子。 有(you)時(shi)， "品質(zhi)因數(shu)或(huo)Q因數(shu)" 也用來描(miao)述(shu)電(dian)子微(wei)波材(cai)料(liao)的特性(xing)， 等於損(sun)耗正切(qie)的倒(dao)數。 對於損(sun)耗非(fei)常低(di)的材料(liao)，  𝑡𝑎𝑛𝛿≈𝛿， 所以(yi)損(sun)耗正切(qie)可(ke)以(yi)用(yong)角度單位毫(hao)弧(hu)度或(huo)微弧度(du)來表示(shi)。

上海(hai)蘇(su)州南(nan)京常州(zhou)杭(hang)州寧(ning)波嘉興介(jie)電常數(shu)測(ce)試(shi)應(ying)用(yong)領域(yu)

無源(yuan)元件(jian)：

電容(rong)器(qi)、電(dian)感(gan)器、磁芯(xin)、電(dian)阻器、壓電器(qi)件(jian)、變壓器、芯(xin)片(pian)組件(jian)和(he)網絡元件(jian)等的阻抗參數評估和性(xing)能分(fen)析。

半(ban)導(dao)體(ti)元件(jian)：

LED驅動(dong)集(ji)成電路(lu)寄(ji)生(sheng)參數測試(shi)分(fen)析(xi)；變容(rong)二(er)極(ji)管(guan)的C-VDC特性(xing)；晶(jing)體(ti)管或(huo)集(ji)成電路(lu)的寄(ji)生(sheng)參數分析

其它(ta)元(yuan)件(jian)：

印制電路(lu)板(ban)、繼電(dian)器(qi)、開(kai)關、電纜、電池(chi)等阻抗評估

介(jie)質(zhi)材料：

塑料(liao)、陶瓷(ci)和(he)其它材料(liao)的介(jie)電常數(shu)和(he)損(sun)耗角評估

磁性(xing)材料(liao)：

鐵(tie)氧(yang)體(ti)、非(fei)晶(jing)體(ti)和其(qi)它(ta)磁性(xing)材料(liao)的導(dao)磁率和(he)損(sun)耗角評估

半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)：

半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)的介(jie)電常數(shu)、導(dao)電(dian)率和(he)C-V特性(xing)液晶(jing)材(cai)料：液(ye)晶(jing)單(dan)元的介(jie)電常數(shu)、彈(dan)性(xing)常數(shu)等C-V特性(xing)

單測(ce)顯(xian)示(shi) 列(lie)表掃(sao)描(miao)顯示(shi)

液晶(jing)CV特性(xing)曲線 頻響分析(xi)（換(huan)能(neng)器找(zhao)諧(xie)振(zhen)點）

阻抗掃(sao)描(miao)曲線

Cs Rs掃描(miao)曲線

A.高精度(du)

自(zi)動平衡電橋與(yu)普通(tong)LCR電橋相比， 它(ta)能(neng)在(zai)更寬的頻率範圍內(nei)保(bao)證(zheng)更高(gao)的頻率精度(du)！ 下(xia)圖以同惠(hui)電橋為(wei)例， 對比了(le)自(zi)動平衡電橋與(yu)普通(tong)電橋在(zai)0-10MHz頻率範圍內(nei)的精度(du)差別(bie)。 目(mu)前(qian)同惠(hui)的自(zi)動平衡電橋有(you)TH2839系列(lie)、 TH2838系列(lie)和(he)TH2828系列(lie)。

D.功能(neng)與(yu)界(jie)面

B.高穩(wen)定性(xing)和高(gao)壹致性(xing) C.高速度(du)

功能(neng)特點(dian)圖F-1 電容(rong)串(chuan)聯等效模型(xing) 圖F-2 電容(rong)器(qi)的阻抗頻(pin)率

F.選配附件(jian)

E.材料(liao)介(jie)電常數(shu)測(ce)試(shi)

TH2839系列(lie)配合(he)專用(yong)材料(liao)測試(shi)夾具(ju)TH26077以(yi)及上位機(ji)軟(ruan)件(jian)可(ke)方(fang)便(bian)、 精確(que)的測量(liang)材料(liao)在(zai)不同頻(pin)率下(xia)的介(jie)電常數(shu)。

由於(yu)於(yu)自(zi)然界(jie)中(zhong)不存(cun)在(zai)純凈(jing)的電容(rong)， 會(hui)包(bao)含寄(ji)生(sheng)參數， 我(wo)們壹(yi)般(ban)認為(wei)實際(ji)電容(rong)是由(you)本(ben)身電(dian)容(rong) Cs、 引(yin)線電阻 Rs(ESR)， 引線電感(gan) Ls (ESL)串(chuan)聯構(gou)成， 等效電(dian)路如(ru)圖F-1所示(shi)。

根據(ju)阻(zu)抗頻(pin)率圖大家可(ke)以看(kan)到， 在(zai)頻率遠小(xiao)於(yu)諧(xie)振(zhen)頻率時(shi)， Ls造成的影(ying)響忽(hu)略(lve)不(bu)計(ji)， 可(ke)以等效為(wei)只(zhi)有(you)Cs和(he)Rs串(chuan)聯。 當(dang)頻(pin)率接(jie)近(jin)諧(xie)振(zhen)點時(shi)， Ls的作(zuo)用就不(bu)能(neng)忽略(lve)不(bu)計(ji)， 對我(wo)們的測量(liang)結果(guo)影(ying)響很大， 當頻(pin)率遠大(da)於(yu)諧(xie)振(zhen)頻率時(shi)， Cs的作(zuo)用降低(di)， 可(ke)以近(jin)似(si)認為(wei)是Rs和(he)Ls的串(chuan)聯。

以前(qian)大容(rong)量(liang)電(dian)容(rong)壹(yi)般(ban)應(ying)用在(zai)低(di)頻(pin)領域(yu)， 所以(yi)客戶(hu)對Ls漠不(bu)關(guan)心， 只(zhi)關(guan)註(zhu)Cs、 Rs， 隨著新(xin)能(neng)源(yuan)汽車(che)的發(fa)展(zhan)， 越來越(yue)多的大容(rong)量(liang)電(dian)容(rong)應(ying)用(yong)在(zai)新(xin)能(neng)源(yuan)裏面， 實際(ji)使用的頻率越(yue)來越(yue)高， 這時候引(yin)線電感(gan)Ls的大小(xiao)直接(jie)能(neng)影(ying)響電(dian)容(rong)的質(zhi)量評定， 所以(yi)需(xu)要精確(que)測(ce)量。

客戶(hu)測試(shi)大(da)電(dian)容(rong)的常見(jian)方(fang)法(fa)壹(yi)般(ban)有(you)兩(liang)種：

高低(di)頻(pin)測試(shi)法(fa)： 先(xian)用(yong)低(di)頻(pin)去(qu)測(ce)試(shi)Cs、 Rs， 然(ran)後(hou)用高(gao)頻(pin)測(ce)試(shi)Ls， Rs。 這(zhe)種測試(shi)方(fang)法(fa)要(yao)求高(gao)低(di)兩(liang)種測試(shi)頻(pin)率必須遠離(li)諧(xie)振(zhen)點，才(cai)能降(jiang)低(di)Ls， Cs造成的誤差影(ying)響。 所(suo)以經(jing)常有(you)客戶(hu)用1MHz去(qu)測(ce)試(shi)大(da)電(dian)容(rong)來得到Ls值， 但(dan)是因為(wei)Cs的存在(zai)， 同時(shi)1MHz這個頻(pin)率

離(li)諧(xie)振(zhen)點並不足(zu)夠遠， 所(suo)以(yi)這種方(fang)法(fa)測(ce)試(shi)得到的Cs， Ls這兩(liang)個值(zhi)都只(zhi)能(neng)算(suan)是近(jin)似(si)值(zhi)， 精度(du)有(you)限(xian)。

諧(xie)振(zhen)法(fa)： 根(gen)據(ju)阻(zu)抗頻(pin)率圖大家可(ke)以看(kan)到大電(dian)容(rong)的諧(xie)振(zhen)點阻(zu)抗低(di)， 所(suo)以用掃(sao)頻儀產(chan)生(sheng)信(xin)號源(yuan)， 同時(shi)測試(shi)電(dian)容(rong)的阻抗， 尋(xun)找(zhao)諧(xie)振(zhen)點， 然(ran)後(hou)通過(guo)計(ji)算(suan)就能算(suan)出Cs和(he)Ls。

若上述(shu)兩(liang)種方(fang)法(fa)仍(reng)無(wu)法(fa)滿(man)足(zu)客戶(hu)測試(shi)需(xu)求， 建(jian)議(yi)采用同惠(hui)TH2638A雙頻(pin)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)來測(ce)試(shi)大(da)電(dian)容(rong)， 其(qi)測(ce)試(shi)準(zhun)確(que)度(du)與(yu)速度(du)遠遠高(gao)於(yu)上述(shu)兩(liang)種方(fang)法(fa)。

引線電阻R 引線電感(gan)Ls

Cs Rs Ls文(wen)件(jian)保(bao)存：

硬(ying)件(jian)連(lian)接(jie)方(fang)式(shi)： RS232C、 USB、 GPIB、 LAN

數據(ju)圖像保(bao)存格(ge)式(shi)： TXT、 XLS、 MDB、 CSV、 BMP、 JPG、 PNG

其它(ta)功(gong)能(neng)： 自(zi)動記(ji)錄(lu)、 設(she)置(zhi)文(wen)件(jian)保(bao)存、 用戶(hu)管理等

保(bao)存格(ge)式(shi) 單(dan)次(ci)自(zi)動保(bao)存 列(lie)表自(zi)動保(bao)存結果(guo)

單次(ci) 列(lie)表 掃(sao)描(miao)

G.選配附件(jian)

H.上位機(ji)軟(ruan)件(jian)

1).通用(yong)上位機(ji)軟(ruan)件(jian)

測試(shi)方(fang)式(shi)：

·工作(zuo)頻率： DC-40 MHz

·最大(da)偏(pian)置(zhi)： ±42 V

·應用(yong)： SMD器(qi)件(jian)， 尤(you)其(qi)高(gao)頻小(xiao)電容(rong)≤3pF或(huo)小電感(gan)≤1µH， 測試(shi)頻(pin)率≥100kHz,且對D和Q要(yao)求高(gao)的器件(jian)

·工作(zuo)頻率： DC-120MHz

·最大(da)直(zhi)流(liu)偏(pian)置(zhi): ±42V

·應用(yong)： 小(xiao)型(xing)磁環單匝電感(gan)量測(ce)試(shi)， 尺(chi)寸(cun)大小(xiao)可(ke)定制

·工作(zuo)頻率: DC-100kHz

·最大(da)直(zhi)流(liu)偏(pian)置(zhi)： ±42V

·應用(yong)： 測(ce)試(shi)螺(luo)栓電(dian)容(rong)器(qi)，DC_LINK電(dian)容(rong)

·工作(zuo)頻率： DC-120 MHz

·最大(da)直(zhi)流(liu)偏(pian)置(zhi): ±42 V

·應用(yong)： 用(yong)於(yu)導(dao)線類器件(jian)的阻抗測(ce)試(shi)， 帶(dai)屏(ping)蔽(bi)接地端

·工作(zuo)頻率： DC-120MHz

·最大(da)直(zhi)流(liu)偏(pian)置(zhi): ±42V

·應用(yong)： SMD 器(qi)件(jian)， 尤(you)其(qi)高(gao)頻小(xiao)電容(rong)≤3pF或(huo)小電感(gan)≤1µH。 測試(shi) 頻(pin)率≥100kHz

·工作(zuo)頻率： DC-15MHz

·最大(da)直(zhi)流(liu)偏(pian)置(zhi)： ±42V

·應用(yong)： 用(yong)於(yu)各種 SMD 器件(jian)測(ce)試(shi)

·工作(zuo)頻率: DC-100kHz

·最大(da)直(zhi)流(liu)偏(pian)置(zhi)： ±42V

·應用(yong)： 測(ce)試(shi)電(dian)動(dong)汽(qi)車(che)用薄(bo)膜大容(rong)量(liang)DC_LINK電(dian)容(rong)

·工作(zuo)頻率： DC-120 MHz

·DUT尺(chi)寸(cun)： 10mm – 56mm

·DUT厚度(du)： ≤10mm

·應用(yong)： 固(gu)體(ti)材料(liao)的介(jie)電分(fen)析

·工作(zuo)頻率： DC-13 MHz

·最大(da)直(zhi)流(liu)偏(pian)置(zhi)： ±42 V

·應用(yong)： 用(yong)於(yu)各種直插(cha)式(shi)軸(zhou)向(xiang)和(he)徑(jing)

向阻(zu)抗器(qi)件(jian)2).壓(ya)電(dian)陶瓷(ci)上位機(ji)軟(ruan)件(jian)

3).阻抗分(fen)析(xi)軟件(jian)（等效電(dian)路分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)）

分析(xi)設(she)置(zhi)：

現(xian)實生活(huo)中(zhong)不同類(lei)型(xing)的器件(jian)可(ke)以(yi)被(bei)等效成簡單(dan)的3-4個器(qi)件(jian)組成的電路(lu)模型(xing)。 阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀上位機(ji)提供了7種基(ji)本(ben)的電路(lu)模型(xing)用(yong)於(yu)等效這(zhe)些器(qi)件(jian)。 本(ben)軟件(jian)還(hai)提供了自(zi)動匹(pi)配功能(neng)， 即(ji)如(ru)果(guo)被測件(jian)為(wei)黑(hei)盒時(shi)， 本(ben)軟件(jian)自(zi)動匹(pi)配與(yu)符(fu)合(he)的模型(xing)並進行(xing)參數的計算(suan)。 您可(ke)以(yi)通(tong)過仿(fang)真的等效電(dian)路參數值的阻抗擬(ni)合(he)曲線與(yu)實際(ji)測量(liang)的阻抗曲線進行(xing)對比， 還(hai)可(ke)以(yi)通過您輸(shu)入的參數按照您選(xuan)擇(ze)的模型(xing)進行(xing)擬(ni)合(he)。 此(ci)功(gong)能(neng)等效的電路(lu)模型(xing)可(ke)以(yi)直接輸出成TXT文(wen)檔(dang)方(fang)便(bian)用戶保(bao)存使用。

分析(xi)結(jie)果(guo)：

主要(yao)參數圖

圖壹：計算(suan)中(zhong) 圖二：擬(ni)合(he)完成 圖二：擬(ni)合(he)完成

主副參數（導(dao)納(na)圓(yuan)）技(ji)術(shu)參數

產(chan)品型(xing)號 TH2839 TH2839A

測試(shi)信(xin)號源(yuan)

信號源(yuan)輸出(chu)阻(zu)抗 100Ω ， ±1% @1kHz

測試(shi)頻(pin)率

範圍 20Hz-10MHz 20Hz-5MHz

分辨率

20.0000Hz - 99.9999Hz 1mHz

100.000Hz - 999.999Hz 10mHz

1.00000kHz - 9.99999kHz 100mHz

10.0000kHz - 99.9999kHz 1Hz

100.000kHz - 999.999kHz 10Hz

1.00000MHz - 10.00000MHz 100Hz

AC測試(shi)信(xin)號模式(shi)

額定值(ALC OFF)： 設(she)定電壓(ya)為(wei)測試(shi)端開路(lu)時(shi)Hcur電壓

設(she)定電流(liu)為(wei)測試(shi)端短路(lu)時(shi)從Hcur流(liu)出(chu)電(dian)流(liu)

恒定值(ALC ON)： 保(bao)持(chi)DUT上電(dian)壓(ya)與(yu)設(she)定值相同

保(bao)持(chi)DUT上電(dian)流(liu)與(yu)設(she)定值相同

AC信號

電壓(ya)範圍 F≤2MHz 5mVrms-- 2Vrms

F >2MHz 5mVrms -- 1Vrms

分辨率

5mVrms -- 0.2Vrms 100μ Vrms

0.2Vrms -- 0.5Vrms 200μ Vrms

0.5Vrms -- 1Vrms 500μ Vrms

1Vrms -- 2Vrms 1mVrms

電流(liu)範圍 50μ Arms -- 20mArms

分辨率

50μ Arms -- 2mArms 1 μ Arms

2mArms -- 5mArms 2 μ Arms

5mArms -- 10mArms 5 μ Arms

10mArms -- 20mArms 10μ Arms

Rdc測試(shi)

電壓(ya)範圍 100mV — 2V

分辨率 100μ V

電流(liu)範圍 0mA— 20mA

分辨率 1μ A

DC偏置(zhi)

電壓(ya)範圍 0V — ± 40V

分辨率

0V -- 5V 100μ V

5V -- 10V 1mV

10V -- 20V 2mV

20V -- 40V 5mV

電流(liu)範圍 0mA— ± 100mA

分辨率

0 A -- 50mA 1μ A

50mA -- 100mA 10μ A

電壓(ya)源(yuan)

電壓(ya)範圍 -10V -- 10V

分辨率 s1mV

電流(liu)範圍 -45mA -- +45mA

輸出(chu)阻(zu)抗 100Ω

顯示(shi)器

尺(chi)寸(cun)/類型(xing) 7英寸(cun) (對角線)TFT LCD顯示(shi)器

比例 16： 9

分辨率 800×RGB×480測(ce)量(liang)功能(neng)

測試(shi)參數

Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-Rp

Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs

Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc

Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, Rdc

R-X, Z-θ d, Z-θ r

G-B, Y-θ d, Y-θ r

Vdc-Idc

數學(xue)功(gong)能(neng) A(X+B)+C， X為(wei)測試(shi)參數， A、 B、 C為(wei)輸入參數

等效電(dian)路 串(chuan)聯、 並聯

偏差測量(liang) 與(yu)標稱(cheng)值的絕對偏差Δ ， 與(yu)標稱(cheng)值的百分(fen)比偏(pian)差Δ %

校準功(gong)能 開(kai)路OPEN、 短路(lu)SHORT、 負(fu)載(zai)LOAD

量程選擇(ze) 自(zi)動AUTO、 手(shou)動(dong)HOLD

量程

LCR 100mΩ 、 1Ω 、 10Ω 、 20Ω 、 50Ω 、 100Ω 、 200Ω 、 500Ω 、 1kΩ 、 2kΩ 、 5kΩ 、 10kΩ 、20kΩ 、 50kΩ 、 100kΩ ， 共15檔

Rdc 1Ω 、 10Ω 、 20Ω 、 50Ω 、 100Ω 、 200Ω 、 500Ω 、 1kΩ 、 2kΩ 、 5kΩ 、 10kΩ 、 20kΩ 、 50kΩ 、100kΩ ， 共15檔

觸(chu)發(fa)模式(shi) INT、 MAN、 EXT、 BUS

觸(chu)發(fa)延遲(chi) 0 s -- 999 s， 分辨率100us

測試(shi)端配置(zhi) 四(si)端對

測試(shi)電(dian)纜長(chang)度(du) 0m, 1m, 2m

測量(liang)平均(jun) 1-255次(ci)

測量(liang)時(shi)間(jian)(ms)

速度(du)模式(shi) 20Hz 100Hz 1kHz 10kHz 100kHz 1MHz 10MHz

FAST 330 100 20 7.7 5.7 5.6 5.6

MED 380 180 110 92 89 88 88

LONG 480 300 240 230 220 220 220

測量(liang)顯(xian)示(shi)範圍 a 1×10-18； E 1×1018

Cs, Cp ±1.00000 aF -- 999.999 EF

Ls,Lp ±1.00000 aH -- 999.999 EH

D ±0.00001 -- 9.99999

Q ±0.01 -- 9999.99

R, Rs, Rp, X, Z, Rdc ±1.00000 aΩ -- 999.999 EΩ

G,B,Y ±1. 00000 aS -- 999.999 ES

Vdc ±1.00000 aV -- 999.999 EV

Idc ±1.00000 aA -- 999.999 EA

θ r ±1.00000 a rad -- 3.14159 rad

θ d ±0.0001 deg -- 180.000 deg

Δ % ±0.0001% -- 999.999%

t -99.99℃ -- 1000.00℃

Turn Ratio (待(dai)擴(kuo)展(zhan)) ±0.00000 -- 1000.00

基(ji)本(ben)測量(liang)準確(que)度(du) 0.05%(詳(xiang)見(jian)說明(ming)書(shu))

列(lie)表掃(sao)描(miao)

掃描(miao)點(dian)數(shu) 最多201點

掃描(miao)參數 測試(shi)頻(pin)率、 AC電(dian)壓(ya)、 AC電流(liu)、 DC BIAS電(dian)壓(ya)、 DC BIAS電流(liu)

第二(er)掃(sao)描(miao)參數 無、 量程方(fang)式(shi)、 測試(shi)頻(pin)率、 AC電(dian)壓(ya)、 AC電流(liu)、 DC BIAS電(dian)壓(ya)、 DC BIAS電流(liu)、 直(zhi)流(liu)源(yuan)電壓(ya)。

註(zhu)： 已(yi)選擇(ze)的第壹(yi)掃描(miao)參數參數不能再選(xuan)為(wei)第二(er)掃描參數。

觸(chu)發(fa)模式(shi)

順(shun)序(xu)SEQ 當壹(yi)次(ci)觸(chu)發(fa)後(hou)， 在(zai)所有(you)掃(sao)描點測(ce)量。 /EOM/INDEX只(zhi)輸(shu)出(chu)壹(yi)次。

步進STEP 每(mei)次觸(chu)發(fa)執行(xing)壹個掃(sao)描點(dian)測量(liang)。 每(mei)點均(jun)輸(shu)出/EOM/INDEX， 但(dan)列(lie)表掃(sao)描(miao)比較(jiao)器結(jie)果(guo)只(zhi)在(zai)最後(hou)的/EOM才輸(shu)出。

列(lie)表掃(sao)描(miao)比較(jiao)器 可(ke)為(wei)每(mei)個掃(sao)描點(dian)設(she)置(zhi)壹(yi)對下限(xian)和上限(xian)。

可選(xuan)擇(ze)： 通過(guo)第壹掃描參數判斷/通(tong)過(guo)第(di)二參數判斷/不(bu)用(yong)於(yu)每(mei)壹極限(xian)。列(lie)表掃(sao)描(miao)時間(jian)標記(ji) 在(zai)順(shun)序(xu)模式(shi)中(zhong)， 將觸(chu)發(fa)點設(she)定為(wei)0時， 通(tong)過定義時間(jian)就(jiu)可(ke)在(zai)每(mei)個測(ce)量點(dian)記錄(lu)測(ce)量(liang)開始的時間(jian)。

圖形掃(sao)描分析

掃描(miao)點(dian)數(shu) 51、 101、 201、 401、 801點可選(xuan)

掃描(miao)軌(gui)跡(ji) 主/副參數可選擇(ze)

顯示(shi)範圍 自(zi)動、 鎖(suo)定

坐標標尺(chi) 對數、 線性(xing)

掃描(miao)參數 頻率、 ACV、 ACI、 DCV BIAS/DCI BIAS、 直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)源(yuan)

掃描(miao)結(jie)果(guo)顯示(shi) 主/副參數最大值(zhi)/最(zui)小(xiao)值(zhi)、 設(she)定點主(zhu)/副參數值

掃描(miao)圖形存(cun)儲(chu) 掃描(miao)圖形可(ke)存儲(chu)於儀(yi)器內(nei)部FLASH、 外部(bu)USB存(cun)儲(chu)器或(huo)上傳(chuan)上位機(ji)。

比較(jiao)器(qi)

Bin分檔(dang)

主參數 9 BIN、 OUT_OF_BINS、 AUX_BIN和LOW_C_REJECT

副參數 HIGH、 IN、 LOW

Bin極限(xian)設(she)置(zhi) 絕(jue)對值、 偏(pian)差值、 百(bai)分(fen)偏差值

Bin計數(shu) 0 -- 999999

PASS/FAIL指(zhi)示(shi) 滿(man)足(zu)主參數為(wei)9 BIN之(zhi)壹、 副參數為(wei)IN， 前(qian)面板(ban)PASS燈ON， 否則FAIL ON

測量(liang)輔(fu)助(zhu)功能(neng)

數據(ju)緩(huan)沖(chong)存儲(chu)功能(neng) 201個測(ce)量結(jie)果(guo)可分批(pi)讀(du)取(qu)

保(bao)存/調(tiao)用(yong)功(gong)能(neng) 40組儀器內置(zhi)非(fei)易失(shi)存(cun)儲(chu)器測(ce)試(shi)設(she)定文(wen)件(jian)

500組儀器USB存儲(chu)器測(ce)試(shi)設(she)定文(wen)件(jian)/截(jie)屏圖形/記(ji)錄文(wen)件(jian)

鍵盤(pan)鎖(suo)定功能(neng) 可(ke)鎖(suo)定前(qian)面板(ban)按鍵

接口

USB HOST端口 通用(yong)串(chuan)行(xing)總(zong)線插(cha)座(zuo)， A類(lei)； FAT16/FAT32格(ge)式(shi)。 U盤(pan)存儲(chu)或(huo)條(tiao)形碼掃描

USB DEVICE端口 通用(yong)串(chuan)行(xing)總(zong)線插(cha)座(zuo)， 小(xiao)型(xing)B類(lei)（4個接(jie)觸(chu)位置(zhi)） ； 與(yu)USBTMC-USB488和USB 2.0相符(fu)合(he)， 陰接(jie)頭(tou)用於(yu)連接外部控(kong)制器。

LAN 10/100BaseT以太(tai)網， 8引腳(jiao)， 兩(liang)種速度(du)選擇(ze)

HANDLER接口 用於(yu)Bin分檔信號輸(shu)出

外部(bu)DC BIAS控(kong)制 控(kong)制TH1778/TH1778S偏置(zhi)電(dian)流(liu)源(yuan)， 最多壹臺TH1778+5臺TH1778S (120A MAX)

RS232C 標準(zhun)9針， 交(jiao)叉

GPIB (選件(jian)) 24針D-Sub端口（D-24 類） ， 陰接(jie)頭(tou)與(yu)IEEE488.1、 2和SCPI兼(jian)容(rong)。

SCANNER(選件(jian)) 與(yu)TH2819X、 TH2829X SCANNER接口兼(jian)容(rong)

基(ji)本(ben)準確(que)度因子曲線：

註(zhu)：測試(shi)信(xin)號電(dian)平： 0.3Vrms – 1Vrms

上部(bu)數(shu)值（無(wu)括號的數值(zhi)）適用(yong)於(yu)中(zhong)速和(he)慢速，

下部(bu)數(shu)值(zhi)（括號中(zhong)的數值(zhi)）適用(yong)於(yu)快(kuai)速。

TH26007A磁環測試(shi)夾具(ju) 

TH26108C四端對貼片(pian)測試(shi)夾具(ju)

TH26063四端測試(shi)夾具(ju)

TH26008ASMD 元件(jian)測(ce)試(shi)夾具(ju) 

TH26009B SMD元件(jian)測(ce)試(shi)鉗 

TH26047四端測試(shi)夾具(ju)

TH26048四端測試(shi)夾具(ju) 

TH26062A四端測試(shi)夾具(ju) 

TH26077電介(jie)質(zhi)測試(shi)夾具(ju)