基(ji)礎(chu)信息Product information

產(chan)品(pin)名(ming)稱：日(ri)置(zhi)HIOKI BT5525電(dian)池絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：

更(geng)新時(shi)間(jian)：2025-06-11

產(chan)品(pin)簡介(jie)：

堅(jian)融實(shi)業(ye)—— 壹家致(zhi)力(li)於為(wei)祖國(guo)用戶(hu)提(ti)供(gong)日(ri)置(zhi)HIOKI BT5525電(dian)池絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)儀(yi)器(qi)設備售(shou)前(qian)演示實(shi)測(ce)、測(ce)試方(fang)案(an)應(ying)用、技(ji)術(shu)使(shi)用培訓(xun)及(ji)售後維修計(ji)量，全面(mian)服務(wu)的(de)儀(yi)器(qi)設備綜合(he)服務(wu)商!

產(chan)品(pin)特(te)性(xing)Product characteristics

堅融實(shi)業(ye)——通(tong)過(guo)德(de)國TUV認(ren)證供應商!

堅融實(shi)業(ye)——專(zhuan)註(zhu)工(gong)業(ye)測(ce)試行(xing)業(ye)十六(liu)年!

堅融實(shi)業(ye)——擁(yong)有替(ti)代(dai)進口品(pin)牌儀(yi)器(qi)儀(yi)表(biao)設備及(ji)非標(biao)定制(zhi)的(de)OEM工(gong)廠!

堅融實(shi)業(ye)——儀(yi)器(qi)儀(yi)表(biao)設備代(dai)理(li)經銷(xiao)商中(zhong)唯YI 壹家有(you)技術(shu)支持工(gong)程師的公(gong)司!

堅融實(shi)業(ye)——實(shi)繳(jiao)註(zhu)冊資(zi)金(jin)人民(min)幣壹仟(qian)萬(wan)元(yuan)整(zheng)！實(shi)繳(jiao)資本同(tong)行(xing)業(ye)中(zhong)居(ju)全國(guo)Q三!

堅融實(shi)業(ye)——抗(kang)金融風(feng)險(xian)實(shi)力(li)超Q，且(qie)為(wei)行(xing)業(ye)裏(li)極少(shao)數(shu)通(tong)過(guo)會計(ji)事(shi)務(wu)所嚴格(ge)審(shen)計的公(gong)司，公司遵(zun)紀守(shou)法，用戶(hu)合(he)作安(an)全可靠!

堅融實(shi)業(ye)——致(zhi)力(li)於為(wei)祖國(guo)用戶(hu)提(ti)供(gong)儀(yi)器(qi)設備售(shou)前(qian)演示實(shi)測(ce)、測(ce)試方(fang)案(an)應(ying)用、技(ji)術(shu)使(shi)用培訓(xun)及(ji)售後維修計(ji)量，全面(mian)服務(wu)的(de)儀(yi)器(qi)設備綜合(he)服務(wu)商!

日(ri)置(zhi)HIOKI BT5525電(dian)池絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)

絕不遺(yi)漏導致故(gu)障(zhang)的(de)汙染(ran)物，通(tong)過(guo)高速(su)檢(jian)測(ce)提高電(dian)芯(xin)產(chan)能

適用於(yu)電(dian)池生產(chan)線

搭(da)載BDD功能（微短(duan)路檢(jian)測(ce)），可在(zai)出廠前檢(jian)測(ce)出因(yin)異(yi)物引起(qi)的(de)輕(qing)微(wei)短(duan)路

使(shi)在(zai)幹(gan)擾(rao)環境中(zhong)也可以(yi)進行(xing)穩(wen)定的(de)絕緣電(dian)阻測(ce)試

以(yi)合(he)理(li)的價(jia)格(ge)、高速(su)的檢(jian)查(zha)和(he)小(xiao)巧(qiao)體(ti)積實(shi)現高生產(chan)率

搭(da)載可以(yi)判(pan)斷(duan)被測(ce)物是否正常接(jie)觸(chu)的(de)接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功能

檢(jian)測(ce)出有(you)隱(yin)患的(de)電(dian)池，防止(zhi)火災事(shi)故(gu)發生(sheng)

在實(shi)際測(ce)量的(de)同(tong)時(shi)介(jie)紹面(mian)向(xiang)電(dian)池生產(chan)線的新產(chan)品(pin)“電(dian)池絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)BT5525"的(de)功能。監測(ce)微小(xiao)的(de)電(dian)壓和(he)電(dian)流(liu)的(de)功能，檢(jian)測(ce)生產(chan)工(gong)序(xu)中(zhong)汙染(ran)物的BDD功能 、以及(ji)能看到(dao)波(bo)形的PC端(duan)軟(ruan)件。

檢(jian)測(ce)出因(yin)汙染(ran)物引起(qi)的(de)微小絕緣故(gu)障(zhang)（BDD功能）

BDD（微短(duan)路檢(jian)測(ce)）功能是壹種可以(yi)在註(zhu)入電(dian)解(jie)液之前的電(dian)芯(xin)階(jie)段，檢(jian)測(ce)出由於汙染(ran)物（金屬異物混入）引起(qi)的(de)微小絕緣故(gu)障(zhang)的(de)檢(jian)查(zha)功能。在生(sheng)產(chan)過(guo)程(cheng)的早(zao)期(qi)階(jie)段，發現並排(pai)除(chu)缺(que)陷(xian)產(chan)品(pin)，可以(yi)有效(xiao)避(bi)免(mian)出貨後因(yin)發(fa)熱(re)導致的(de)火(huo)災(zai)事(shi)故(gu)或(huo)故障(zhang)等風(feng)險(xian)。規(gui)避(bi)這(zhe)些故障(zhang)隱(yin)患可以(yi)生產(chan)出(chu)不易(yi)老(lao)化且(qie)用電(dian)性能*的電(dian)池。

在幹(gan)擾環境下(xia)也可穩(wen)定地(di)進行(xing)絕緣電(dian)阻測(ce)試

憑借針對(dui)絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)的(de)多年測(ce)試技(ji)術(shu)的研(yan)發和(he)設(she)計(ji)經(jing)驗，大(da)幅(fu)降低(di)了外(wai)部(bu)幹擾的影(ying)響。 實(shi)現無偏(pian)差且(qie)穩(wen)定的(de)絕緣電(dian)阻測(ce)試，以(yi)及(ji)能夠檢(jian)測(ce)出因(yin)汙染(ran)物導致電(dian)池內部(bu)絕緣故(gu)障(zhang)的(de)異常。

防(fang)止漏測(ce)，杜絕誤(wu)判(pan)

搭(da)載了(le)通(tong)過(guo)對(dui)測(ce)量端(duan)子間(jian)的電(dian)容（雜散(san)電(dian)容、被測(ce)物的電(dian)容）進行(xing)測(ce)量，可以(yi)判(pan)斷(duan)被測(ce)物是否正常接(jie)觸(chu)的(de)接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功能。

適用於(yu)電(dian)池註(zhu)液前測(ce)試絕緣電(dian)阻

BT5525 是檢(jian)測(ce)註(zhu)液前電(dian)芯(xin)的電(dian)極是否絕緣的(de)測(ce)量儀(yi)器(qi)。

最大(da)測(ce)試電(dian)壓500V。滿(man)足測(ce)試條(tiao)件(jian)的(de)情況下(xia)，它(ta)還(hai)可用於(yu)檢(jian)查(zha)模(mo)組(zu)或(huo)電(dian)池包(bao)的電(dian)極與(yu)外(wai)殼之(zhi)間(jian)的絕緣情(qing)況。

最大(da)充電(dian)電(dian)流(liu)50 mA，縮短(duan)生產(chan)時(shi)間(jian)

BT5525 可將(jiang)被測(ce)物以最大(da)50 mA 快(kuai)速(su)充電(dian)，殘(can)余(yu)電(dian)荷以最大(da) 4 0 m A 快(kuai)速(su)放(fang)電(dian)。

通(tong)過(guo)顯(xian)著提高充放(fang)電(dian)性能，充電(dian)速(su)度是(shi)原機型(xing)* 的25 倍，放(fang)電(dian)速(su)度是(shi)原機型(xing)的約4 倍 。能夠縮短(duan)容量不斷(duan)增加(jia)的電(dian)池的絕緣電(dian)阻測(ce)試時(shi)間(jian)。

* 與(yu)我司絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi) ST5520 比(bi)較(jiao)

方(fang)便(bian)組(zu)裝系統(tong)的(de)小巧(qiao)型

憑借產(chan)品(pin)設(she)計(ji)多年的技術(shu)積累(lei)，保(bao)證(zheng)高性能的同(tong)時(shi)實(shi)現了輕(qing)量化(hua)。在構(gou)築測(ce)試系統(tong)設(she)備時(shi)安(an)裝(zhuang)本儀(yi)器(qi)，可減小(xiao)設備本身的體(ti)積。通(tong)過(guo)引進小型(xing)測(ce)試系統(tong)設(she)備，使(shi)有(you)限(xian)的生(sheng)產(chan)空(kong)間(jian)能得(de)到(dao)充分利(li)用。

適(shi)合(he)的規(gui)格(ge)，降(jiang)低成本

通(tong)過(guo)嚴(yan)選有針(zhen)對(dui)性的(de)必(bi)要(yao)功能和(he)性(xing)能，來進行(xing)絕緣電(dian)阻測(ce)試，實(shi)現了高性價(jia)比(bi)。

絕緣電(dian)阻測(ce)試中(zhong)電(dian)壓電(dian)流(liu)的(de)變(bian)化(hua)，能夠使(shi)用專(zhuan)用的(de)PC 應(ying)用軟(ruan)件(jian)來(lai)顯示。

測(ce)試電(dian)壓最(zui)大(da)可輸(shu)出500V。可以(yi)滿足(zu)從(cong)電(dian)動汽車(che)搭(da)載的(de)大(da)型(xing)電(dian)芯(xin)到小(xiao)型(xing)電(dian)芯(xin)的絕緣電(dian)阻測(ce)試條(tiao)件(jian)。

能夠分析波(bo)形(xing)的(de)PC 應用軟(ruan)件(jian)

使(shi)用免(mian)費(fei)的(de)PC 應用軟(ruan)件(jian)來(lai)確認(ren)電(dian)壓和(he)電(dian)流(liu)的(de)變(bian)化(hua)。

波形的確認(ren)有助(zhu)於(yu)測(ce)試結(jie)果的(de)分析以(yi)及(ji)確定檢(jian)測(ce)線上設置(zhi)的(de)判(pan)定標(biao)準(zhun)。

數(shu)據(ju)可以(yi)以 CSV 格(ge)式(shi)輸(shu)出(chu)，因(yin)此使(shi)用 Excel 等軟件也可以(yi)確認(ren)波形。

日(ri)置(zhi)HIOKI BT5525電(dian)池絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)基(ji)本參數(shu)（精度保(bao)證(zheng)時(shi)間(jian)1年）

主要(yao)功能

絕緣電(dian)阻測(ce)試

BDD（Break Down Detect）微(wei)短(duan)路檢(jian)測(ce)

接觸(chu)檢(jian)查(zha)功能

輸出(chu)參(can)數(shu)

輸(shu)出電(dian)壓：25 V ～ 500 V, 設(she)置(zhi)分辨(bian)率 1 V

充電(dian)電(dian)流(liu)（電(dian)流(liu)限(xian)制功能）：50 µA～50 mA※1※2※3, 最小(xiao)設(she)置(zhi)分辨(bian)率 10 µA

短(duan)路電(dian)流(liu)：60 mA以(yi)下(xia)

放(fang)電(dian)電(dian)流(liu)：40 mA以(yi)上(shang)

※1 ：電(dian)流(liu)限(xian)制設(she)為(wei)5.1 mA 以上(shang)時(shi)，若(ruo)連接(jie)約50μF 以(yi)上(shang)的(de)容性(xing)負(fu)載，則會由於輸(shu)出發(fa)生(sheng)部(bu)分的(de)限(xian)制發(fa)生(sheng)錯誤(wu)而無(wu)法測(ce)量。

※2 ：電(dian)流(liu)限(xian)制設(she)為(wei)5.1 mA 以上(shang)時(shi)，測(ce)量開始(shi)後200 ms 未達(da)到20 V 以(yi)上(shang)的情況下(xia)，會強(qiang)制結(jie)束，在(zai)1s 後變為(wei)可測(ce)量狀(zhuang)態

※3 ：如(ru)果(guo)電(dian)流(liu)限(xian)制設(she)為(wei)5.1 mA 和(he)50.0 mA 之(zhi)間(jian)，在輸出電(dian)壓達(da)到設(she)定電(dian)壓後，電(dian)流(liu)被限(xian)制為(wei)5 mA。

測(ce)量部(bu)分參(can)數(shu)

電(dian)阻值顯示範圍：0.050 MΩ～9999 MΩ

電(dian)阻測(ce)量量程(cheng)：2 MΩ, 20 MΩ, 200 MΩ, 2000 MΩ, AUTO

基(ji)本精度

±1.5％ rdg.±2 dgt.

25 V ≦ V ＜ 100 V [0.05 MΩ 〜 2 MΩ],

100 V ≦ V ≦ 500 V [0.2 MΩ 〜 20 MΩ]

時(shi)間(jian)參數(shu)

測(ce)試時(shi)間(jian)：0.050 s～999.999 s, OFF

比(bi)較(jiao)器(qi)延(yan)遲：0.001 s～999.999 s, AUTO

顯示更新速(su)度：1 PLC

采(cai)樣時(shi)間(jian)：1 PLC～100 PLC

保(bao)存功能

面(mian)板保(bao)存功能：可保(bao)存15 組(zu)測(ce)量條(tiao)件

測(ce)量值保(bao)存功能：最多可在(zai)內存中(zhong)保(bao)存999 個(ge)測(ce)量值

判(pan)定功能

測(ce)試模(mo)式(shi)：連續測(ce)試, PASS STOP, FAIL STOP

比(bi)較(jiao)器(qi)功能：

UPPER_FAIL　測(ce)量值> 上限(xian)值

PASS　上限(xian)值 ≧ 測(ce)量值 ≧ 下(xia)限(xian)值

LOWER_FAIL　測(ce)量值< 下(xia)限(xian)值

功能壹覽

BDD（Break Down Detect）功能：微短(duan)路檢(jian)測(ce)功能

接觸(chu)檢(jian)查(zha)功能：2 端(duan)子靜(jing)電(dian)容量測(ce)量方(fang)式(shi)

自(zi)動(dong)數(shu)據(ju)輸出功能：測(ce)試結(jie)束後通(tong)過(guo)通(tong)訊(xun)接口自動(dong)輸(shu)出測(ce)量結(jie)果

命令(ling)監控(kong)功能：畫面(mian)顯示(shi)收(shou)發命令(ling)

外(wai)部(bu)I/O 監控功能：畫面(mian)顯示(shi)輸出(chu)信號的打(da)開/ 關(guan)閉(bi)和(he)輸(shu)入(ru)信(xin)號

模擬輸(shu)出(chu)功能：將測(ce)量值轉換(huan)為(wei)DC 0 ~ 4 V 輸出(chu)※2

接口USB, LAN, RS-232C, EXT. I/O

電(dian)源(yuan)電(dian)壓AC 100 V ～ 240 V

消(xiao)耗功率約20 VA※4

※4：當(dang)電(dian)源(yuan)條(tiao)件(jian)為(wei)電(dian)源(yuan)電(dian)壓220 V，電(dian)源(yuan)頻率50/60 Hz，測(ce)試電(dian)壓200 V，電(dian)流(liu)限(xian)制值2 mA、負(fu)載（1 GΩ 電(dian)阻和(he)0.1 uF 電(dian)容並聯）的情況。

最大(da)額定功率100 VA

體(ti)積和(he)重(zhong)量215W × 80H × 306.5 D mm, 2.8 kg

附(fu)件電(dian)源(yuan)線、外(wai)部(bu)I/O 用公(gong)頭(tou)連接(jie)器(qi)、外(wai)部(bu)I/O 用連接(jie)器(qi)防護(hu)罩(zhao)、外(wai)部(bu)I/O 用聯鎖(suo)解(jie)除(chu)治(zhi)具(ju)、啟(qi)動指(zhi)南

電(dian)池絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi) BT5525

BATTERY INSULATION TESTER BT5525

絕不遺(yi)漏導致故(gu)障(zhang)的(de)汙染(ran)物

通(tong)過(guo)高速(su)檢(jian)測(ce)提高電(dian)芯(xin)產(chan)能

為(wei)了保(bao)證(zheng)電(dian)池的長期(qi)質(zhi)量，需要(yao)在(zai)生產(chan)線的檢(jian)測(ce)工(gong)序(xu)中(zhong)檢(jian)測(ce)出潛(qian)在(zai)的(de)故障(zhang)原因(yin)。輕(qing)微(wei)的(de)絕緣故(gu)障(zhang)也可能會導致電(dian)池壽(shou)命縮短(duan)或(huo)發生(sheng)火(huo)災(zai)事故。絕緣故(gu)障(zhang)的(de)主要(yao)原因(yin)是(shi)生產(chan)過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)汙染(ran)（金屬(shu)異(yi)物混入）或(huo)細微(wei)劃(hua)痕(hen)。

希望檢(jian)測(ce)出有(you)隱(yin)患的(de)電(dian)池，防止(zhi)火災事(shi)故(gu)發生(sheng)

希望在合(he)理(li)的成本範圍內提高生產(chan)力(li)　

BT5525 就是(shi)為(wei)滿足(zu)這些電(dian)池市場需求而開發(fa)的(de)絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)。

檢(jian)測(ce)出有(you)隱(yin)患的(de)電(dian)池

防止(zhi)火災事(shi)故(gu)發生(sheng)

檢(jian)測(ce)出因(yin)汙染(ran)物引起(qi)的(de)微小絕緣故(gu)障(zhang)

BDD（微(wei)短(duan)路檢(jian)測(ce)）功能是壹種可以(yi)在註(zhu)入電(dian)解(jie)液之前的電(dian)芯(xin)階(jie)段，檢(jian)測(ce)出由於汙染(ran)物（金屬異物混入）引起(qi)的(de)微小絕緣故(gu)障(zhang)的(de)檢(jian)查(zha)功能。

在生(sheng)產(chan)過(guo)程(cheng)的早(zao)期(qi)階(jie)段，發現並排(pai)除(chu)缺(que)陷(xian)產(chan)品(pin)，可以(yi)有效(xiao)避(bi)免(mian)出貨後因(yin)發(fa)熱(re)導致的(de)火(huo)災(zai)事(shi)故(gu)或(huo)故障(zhang)等風(feng)險(xian)。規(gui)避(bi)這(zhe)些故障(zhang)隱(yin)患可以(yi)生產(chan)出(chu)不易(yi)老(lao)化且(qie)用電(dian)性能*的電(dian)池。

CC V

根(gen)據充電(dian)期(qi)間(jian)的電(dian)壓變(bian)化量（V）檢(jian)測(ce)絕緣不良(liang)。

以變化(hua)前的電(dian)壓值為(wei)基(ji)準(zhun)進行(xing)判(pan)斷(duan)。

可設(she)置(zhi)範圍 ：0.1 V ~ 500.0 V

CV V

根(gen)據充電(dian)後穩(wen)定期(qi)的(de)電(dian)壓變(bian)化量（V）檢(jian)測(ce)絕緣不良(liang)。

以穩(wen)定期(qi)的(de)電(dian)壓值為(wei)基(ji)準(zhun)進行(xing)判(pan)斷(duan)。

可設(she)置(zhi)範圍 ：0.1 V ~ 500.0 V

CV I

根(gen)據充電(dian)後穩(wen)定期(qi)的(de)電(dian)流(liu)變(bian)化(hua)量（%）檢(jian)測(ce)絕緣不良(liang)。

以變化(hua)前的電(dian)流(liu)值為(wei)基(ji)準(zhun)進行(xing)判(pan)斷(duan)。

可設(she)置(zhi)範圍 ：0.6% ~ 999.9%

( I )

0 (time)

Charge period

CC

Regular period

CV

CV I BDD

CV V BDD

CC V BDD

(V)

Current

Voltage

內部短(duan)路檢(jian)測(ce) 抗幹(gan)擾(rao)性(xing) 防止(zhi)誤(wu)判(pan)

PASS

汙染(ran)物檢(jian)出(chu)

被判(pan)定為(wei)

潛在(zai)缺(que)陷(xian)產(chan)品(pin)

生(sheng)產(chan)過(guo)程(cheng)中(zhong)

金(jin)屬異(yi)物混入

BDD 功能檢(jian)查(zha)

・ 與(yu)絕緣電(dian)阻測(ce)試同(tong)時(shi)檢(jian)測(ce)

・ 對(dui)檢(jian)查(zha)過(guo)程(cheng) / 生產(chan)節(jie)拍(pai)無(wu)影(ying)響

正(zheng)極

負(fu)極

絕緣子

汙染(ran)物

■ 排(pai)查汙染(ran)物的檢(jian)測(ce)方法

判(pan)斷(duan)方(fang)法

BDD（微(wei)短(duan)路）功能是壹種結(jie)合(he)了模(mo)擬電(dian)路（峰值保(bao)持）和(he)數(shu)字(zi)采(cai)樣（5MS/s）的檢(jian)測(ce)方法。監(jian)測(ce)充電(dian)期(qi)間(jian)的電(dian)壓變(bian)化量和(he)充電(dian)後穩(wen)定期(qi)間(jian)電(dian)壓和(he)電(dian)流(liu)的(de)變(bian)化(hua)量，以(yi)此來檢(jian)測(ce)出微(wei)小(xiao)的(de)變化(hua)。

它(ta)解(jie)決(jue)了(le)傳統示波器(qi)和(he)記錄儀(yi)在(zai)波形測(ce)量中(zhong)出(chu)現的由於采(cai)樣周期(qi)的(de)死(si)區(qu)和(he)分辨(bian)率導致數(shu)據(ju)漏檢(jian)的(de)問(wen)題(ti)。

BDD（微短(duan)路檢(jian)測(ce)）功能

波形(xing)可以(yi)在 PC 上(shang)顯示(shi)3

各種(zhong)功能

抗幹(gan)擾(rao)性

在幹(gan)擾環境下(xia)也可穩(wen)定地(di)進行(xing)絕緣電(dian)阻測(ce)試

憑借針對(dui)絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)的(de)多年測(ce)試技(ji)術(shu)的研(yan)發和(he)設(she)計(ji)經(jing)驗，大(da)幅(fu)降低(di)了外(wai)部(bu)幹擾的影(ying)響。

實(shi)現無偏(pian)差且(qie)穩(wen)定的(de)絕緣電(dian)阻測(ce)試，以(yi)及(ji)能夠檢(jian)測(ce)出因(yin)汙染(ran)物導致電(dian)池內部(bu)絕緣故(gu)障(zhang)的(de)異常。

搭(da)載了(le)保(bao)證(zheng)絕緣電(dian)阻測(ce)試安(an)全進行(xing)的功能以及(ji)便捷的(de)功能等。

接觸(chu)檢(jian)查(zha)功能

防止(zhi)漏(lou)測(ce)，杜絕誤(wu)判(pan)

搭(da)載了(le)通(tong)過(guo)對(dui)測(ce)量端(duan)子間(jian)的電(dian)容（雜散(san)電(dian)容、被測(ce)物的電(dian)容）進行(xing)測(ce)量，可以(yi)判(pan)斷(duan)被測(ce)物是否正常接(jie)觸(chu)的(de)接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功能。

斷線

老(lao)化

接(jie)觸(chu)不良(liang)

防止將(jiang)缺(que)陷(xian)產(chan)品(pin)誤(wu)判(pan)為(wei)合(he)格(ge)品(pin)

・測(ce)量中(zhong)測(ce)試線斷開時(shi)

・由於測(ce)試線老(lao)化導致測(ce)量處(chu)的(de)電(dian)阻值增加(jia)時(shi)

簡單(dan)好(hao)用

・由於是(shi) 2 端(duan)子方(fang)式(shi)，因(yin)此能夠輕(qing)松(song)接(jie)線

■ 施(shi)加(jia)了共模(mo)幹擾(rao)的模擬實(shi)驗(yan)

BT5525 其他(ta)公司產(chan)品(pin)

幹(gan)擾(rao)環境下(xia)保(bao)持穩(wen)定

DC DC

kΩ kΩ

MΩ MΩ

kHz kHz

幹(gan)擾(rao)導致測(ce)量數(shu)值不穩(wen)定

自(zi)動(dong)量程(cheng)功能

根(gen)據測(ce)量的(de) 絕緣電(dian)阻值自動切 換(huan)量 程(cheng)。測(ce)量 量 程(cheng) 為(wei) 2 MΩ、20 MΩ、200 MΩ、2000MΩ。

測(ce)試時(shi)間(jian)功能

測(ce)試電(dian)壓的(de)外(wai)部(bu)施(shi)加(jia)時(shi)間(jian)設置(zhi)為(wei) 0.050 秒 〜999.999 秒之間(jian)。

能夠以(yi) 0.001 秒為(wei)單位(wei)來設(she)置(zhi)。

電(dian)流(liu)限(xian)制功能

外(wai)加(jia)充電(dian)電(dian)流(liu)可限(xian)制在(zai) 50 µA 〜 50 mA 之(zhi)間(jian)任意(yi)數(shu)值。測(ce)試端(duan)子間(jian)以及(ji)被測(ce)物存在(zai)電(dian)容時(shi)，可縮短(duan)充電(dian)時(shi)間(jian)。

比(bi)較(jiao)器(qi)功能

通(tong)過(guo)設(she)定判(pan)定標(biao)準(zhun)的上下(xia)限(xian)，能夠自(zi)動(dong)進行(xing)PASS 和(he) FAIL 的(de)判(pan)定。

判(pan)定結(jie)果會以(yi)蜂(feng)鳴音告知(zhi)。

設置(zhi)範圍為(wei) 0.000 MΩ 〜 9999 MΩ。

自動(dong)放(fang)電(dian)功能

測(ce)試後被測(ce)物所積蓄(xu)的電(dian)荷通(tong)過(guo)主機(ji)內(nei)部放(fang)電(dian)，可防(fang)止在(zai)下(xia)次測(ce)試中(zhong)損(sun)壞其(qi)他(ta)設備。

測(ce)量完(wan)成後以 40 mA 或(huo)更高電(dian)流(liu)放(fang)電(dian)。

測(ce)試條(tiao)件(jian)保(bao)存功能

測(ce)試條(tiao)件(jian)保(bao)存至主機(ji)中(zhong)，可在(zai)根(gen)據需要(yao)讀取(qu)數(shu)據(ju)。

測(ce)試條(tiao)件(jian)最(zui)多可保(bao)存 15 組(zu)，即使(shi)關(guan)閉(bi)電(dian)源(yuan)仍(reng)可進行(xing)保(bao)存。

測(ce)量值

實(shi)際值

測(ce)量值

實(shi)際值4

提高生產(chan)力(li)的高速(su)測(ce)試

節(jie)省(sheng)空(kong)間(jian)，方便增設(she)

輕(qing)松(song)引進的高性價(jia)比(bi)

絕 緣 電(dian) 阻 測(ce) 試 儀(yi)

的(de) 標(biao) 準(zhun) 機 型

高速(su) 小型(xing) 性(xing)價(jia)比(bi)

適(shi)用於(yu)電(dian)池註(zhu)液前測(ce)試絕緣電(dian)阻

BT5525 是檢(jian)測(ce)註(zhu)液前電(dian)芯(xin)的電(dian)極是否絕緣的(de)測(ce)量儀(yi)器(qi)。

最大(da)測(ce)試電(dian)壓 500V。滿(man)足測(ce)試條(tiao)件(jian)的(de)情況下(xia)，它(ta)還(hai)可用於(yu)檢(jian)查(zha)模(mo)組(zu)或(huo)電(dian)池包(bao)的電(dian)極與(yu)外(wai)殼之(zhi)間(jian)的絕緣情(qing)況。

料(liao)漿 電(dian)極片 卷(juan)繞(rao) · 疊(die)片 TAB 焊接(jie) 封(feng)裝 註(zhu)液前的電(dian)芯(xin) 註(zhu)液 · 浸透(tou) 充放(fang)電(dian) 老(lao)化試(shi)驗(yan) 電(dian)芯(xin)檢(jian)查(zha) 電(dian)池包(bao)檢(jian)查(zha)鋰(li)電(dian)池生產(chan)線的工(gong)序(xu)示(shi)意(yi)圖

檢(jian)查(zha)電(dian)芯(xin)內部(bu)的(de)絕緣狀(zhuang)態(tai)5

BDD 判(pan)定結(jie)果列(lie)表

顯示 BDD 的(de)時(shi)間(jian)和(he)測(ce)量值

START / STOP 操作

BT5525 主機(ji)的(de)測(ce)試開始(shi)和(he)結(jie)束能夠通(tong)過(guo)軟(ruan)件實(shi)現

電(dian)流(liu)監(jian)測(ce)顯示(shi)

顯(xian)示(shi)電(dian)流(liu)波(bo)形(xing)

能夠確認(ren) CV I 的 BDD 發生位置(zhi)

電(dian)壓監(jian)測(ce)顯示(shi)

顯(xian)示(shi)測(ce)試電(dian)壓波(bo)形

能夠確認(ren) CC V / CV V 的 BDD 發生位置(zhi)

※ 圖(tu)片為(wei)開發(fa)中(zhong)的(de)產(chan)品(pin)畫(hua)面(mian)

支持 CSV 輸出

1 提高生產(chan)力(li)的高速(su)測(ce)試

最(zui)大(da)充電(dian)電(dian)流(liu) 50 mA，縮短(duan)生產(chan)時(shi)間(jian)

BT5525 可將(jiang)被測(ce)物以最大(da) 50 mA 快(kuai)速(su)充電(dian)，殘(can)余(yu)電(dian)荷以最大(da) 40 mA 快(kuai)速(su)放(fang)電(dian)。

通(tong)過(guo)顯(xian)著提高充放(fang)電(dian)性能，充電(dian)速(su)度是(shi)原機型(xing) * 的 25 倍，放(fang)電(dian)速(su)度是(shi)原機型(xing)的約4 倍 。能夠縮短(duan)容量不斷(duan)增加(jia)的電(dian)池的絕緣電(dian)阻測(ce)試時(shi)間(jian)。

* 與(yu)我司絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi) ST5520 比(bi)較(jiao)

充電(dian)速(su)度

25 倍(bei)

放(fang)電(dian)速(su)度

4 倍(bei)

2 節(jie)省(sheng)空(kong)間(jian)，方便增設(she)

方便組(zu)裝系統(tong)的(de)小巧(qiao)型

憑借產(chan)品(pin)設(she)計(ji)多年的技術(shu)積累(lei)，保(bao)證(zheng)高性能的同(tong)時(shi)實(shi)現了輕(qing)量化(hua)。在構(gou)築測(ce)試系統(tong)設(she)備時(shi)安(an)裝(zhuang)本儀(yi)器(qi)，可減小(xiao)設備本身的體(ti)積。通(tong)過(guo)引進小型(xing)測(ce)試系統(tong)設(she)備，使(shi)有(you)限(xian)的生(sheng)產(chan)空(kong)間(jian)能得(de)到(dao)充分利(li)用。

H 80 mm

W 215 mm D 306 mm

3 輕(qing)松(song)引進的高性價(jia)比(bi)

適(shi)合(he)的規(gui)格(ge)，降(jiang)低成本

通(tong)過(guo)嚴(yan)選有針(zhen)對(dui)性的(de)必(bi)要(yao)功能和(he)性(xing)能，來進行(xing)絕緣電(dian)阻測(ce)試，實(shi)現了高性價(jia)比(bi)。

絕緣電(dian)阻測(ce)試中(zhong)電(dian)壓電(dian)流(liu)的(de)變(bian)化(hua)，能夠使(shi)用專(zhuan)用的(de) PC 應(ying)用軟(ruan)件(jian)來(lai)顯示。

測(ce)試電(dian)壓最(zui)大(da)可輸(shu)出 500V。可以(yi)滿足(zu)從(cong)電(dian)動汽車(che)搭(da)載的(de)大(da)型(xing)電(dian)芯(xin)到小(xiao)型(xing)電(dian)芯(xin)的絕緣電(dian)阻測(ce)試條(tiao)件(jian)。

免(mian)費

通(tong)過(guo) PC 應(ying)用軟(ruan)件(jian)分析波(bo)形(xing)

使(shi)用免(mian)費(fei)的(de) PC 應用軟(ruan)件(jian)來(lai)確認(ren)電(dian)壓和(he)電(dian)流(liu)的(de)變(bian)化(hua)。

波形的確認(ren)有助(zhu)於(yu)測(ce)試結(jie)果的(de)分析以(yi)及(ji)確定檢(jian)測(ce)線上設置(zhi)的(de)判(pan)定標(biao)準(zhun)。

數(shu)據(ju)可以(yi)以 CSV 格(ge)式(shi)輸(shu)出(chu)，因(yin)此使(shi)用 Excel 等軟件也可以(yi)確認(ren)波形。

■ 能夠分析波(bo)形(xing)的(de) PC 應用軟(ruan)件(jian)6

■ 接(jie)口

測(ce)試指(zhi)示(shi)器(qi) 顯示(shi)區(qu) 比(bi)較(jiao)器(qi)指示(shi)燈(deng) 光標(biao)鍵

電(dian)源(yuan)開關(guan) 電(dian)源(yuan)插口 通(tong)風(feng)口 接地(di)端(duan)子

外(wai)部(bu)

I/O 接口

RS-232C 接口 USB 接口

模擬輸(shu)出(chu)端(duan)子 外(wai)部(bu) I/O 模式(shi)切換(huan)開關(guan)（NPN/PNP）

LAN 接(jie)口

測(ce)量端(duan)子 菜(cai)單鍵 功能鍵 確認(ren)鍵

開始(shi)鍵

停(ting)止鍵

■ 選 件

夾(jia)型(xing)測(ce)試線

L2130

用於(yu)HIGH端(duan)子，

香(xiang)蕉(jiao)頭(tou) - 鱷魚(yu)夾(jia)，

紅(hong)色，線長1.5m

夾(jia)型(xing)測(ce)試線

L2131

用於(yu)LOW端(duan)子，

特(te)殊三同(tong)軸接(jie)口 - 鱷魚(yu)夾(jia)，

黑(hei)色，線長1.5 m

單(dan)側(ce)無接(jie)頭(tou)測(ce)試線

L2132

用於(yu)HIGH端(duan)子，

香(xiang)蕉(jiao)頭(tou) - 無(wu)接(jie)頭(tou)，

紅(hong)色，線長5 m

單(dan)側(ce)無接(jie)頭(tou)測(ce)試線

L2133

用於(yu)LOW端(duan)子，

特(te)殊三同(tong)軸接(jie)口- 無接(jie)頭(tou)，

黑(hei)色(se)，線長5 m

輸(shu)出(chu)線

L9094

用於(yu)模(mo)擬輸(shu)出(chu)，

香(xiang)蕉(jiao)插頭(tou)（紅(hong)，黑）

線長1.5 m

RS-232C電(dian)纜(lan)

L9637

用於(yu)外(wai)部(bu)控制，雙重屏(ping)蔽(bi)，

9針 - 9針(zhen)

線長3 m

LOW 端(duan)子為(wei) HIOKI 專用連接(jie)器(qi)，僅可連接(jie)我司選件 L2131 或(huo) L2133。7

LAN、RS-232C 和(he) USB 為(wei)標(biao)配(pei)，可連接(jie)電(dian)腦或(huo)可編(bian)程邏輯控制器(qi) (PLC) 來控(kong)制本儀(yi)器(qi)並獲(huo)取(qu)測(ce)試結(jie)果。

此外(wai)，還(hai)配(pei)備了(le)外(wai)部(bu) I/O，可進行(xing)測(ce)量儀(yi)器(qi)的控(kong)制，獲(huo)取(qu)本儀(yi)器(qi)的狀(zhuang)態以(yi)及(ji)判(pan)定結(jie)果。

外(wai)部(bu)控制等通(tong)訊(xun)接口

EXT. I/O RS-232C LAN USB

LAN 接口

配(pei) 備 以(yi) 太(tai) 網(wang) 100BASE-TX 接 口。 可 使(shi) 用 支(zhi) 持 10BASE-T 或(huo)100BASE-TX 的 LAN 電(dian)纜(lan)連接(jie)電(dian)腦控制(zhi)儀(yi)器(qi)。

外(wai)部(bu) I/O 接口

可使(shi)用本儀(yi)器(qi)背(bei)面(mian)的 EXT. I/O 接(jie)口控制(zhi)本儀(yi)器(qi)，輸出(chu)測(ce)試信(xin)號(hao)或(huo)判(pan)定結(jie)果，或(huo)輸入(ru)開始(shi)信(xin)號(hao)、停(ting)止信(xin)號(hao)等。

外(wai)部(bu) I/O 模式(shi)切換(huan)開關(guan)（NPN/PNP）

可通(tong)過(guo)外(wai)部(bu) I/O 模式(shi)切換(huan)開關(guan)切換(huan)灌(guan)電(dian)流(liu)（NPN）和(he)拉(la)電(dian)流(liu)（PNP），變(bian)更(geng)能夠支(zhi)持的 PLC（可編(bian)程邏輯控制器(qi)）的種(zhong)類。

外(wai)部(bu) I/O 測(ce)試功能

除(chu)了可手(shou)動(dong)切換(huan)輸(shu)出信號(hao)的開關(guan)以(yi)外(wai)，還(hai)可在(zai)畫面(mian)上查(zha)看輸(shu)入信號的(de)狀(zhuang)態。

命令(ling)監控(kong)功能

編(bian)程時(shi)，若(ruo)使(shi)用命令(ling)監控(kong)功能在測(ce)量畫(hua)面(mian)上顯(xian)示命令(ling)和(he)響(xiang)應(ying)，則非常方(fang)便。可使(shi)用命令(ling)監控(kong)功能在畫(hua)面(mian)上顯(xian)示通(tong)訊(xun)命令(ling)以及(ji)查詢(xun)響(xiang)應(ying)。

信號(hao)名 功能 I/O

START 測(ce)量開始(shi) IN

STOP 測(ce)量結(jie)束 IN

TEST 從(cong)測(ce)試開始(shi)到(dao)放(fang)電(dian)結(jie)束 OUT

VON 電(dian)壓監(jian)測(ce)值在所設電(dian)壓值的 10% 以內(nei) OUT

BDD BDD 結(jie)果 OUT

C_CHECK_FAIL 接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)判(pan)定 OUT

SYSTEM_ERR 主機(ji)異(yi)常 OUT

PASS 比(bi)較(jiao)器(qi)判(pan)定 OUT

UPPER FAIL 比(bi)較(jiao)器(qi)判(pan)定 OUT

LOWER FAIL 比(bi)較(jiao)器(qi)判(pan)定 OUT

ISO_5V 絕緣電(dian)源(yuan) ±5V 輸(shu)出(chu) －

ISO_COM 絕緣電(dian)源(yuan)端(duan)口 －

LOAD0 選擇面(mian)板編(bian)號 IN

LOAD1 選擇面(mian)板編(bian)號 IN

LOAD2 選擇面(mian)板編(bian)號 IN

LOAD3 選擇面(mian)板編(bian)號 IN

LOAD_VALID 執(zhi)行(xing)面(mian)板讀取(qu) IN

INTERLOCK 聯鎖(suo) IN

關於(yu)聯鎖(suo)

聯鎖(suo)是壹種關(guan)閉(bi)本儀(yi)器(qi)輸出(chu)的功能。當聯鎖(suo)功能被激活時(shi)，開始(shi)鍵的(de)操(cao)作被禁(jin)用。即(ji)使(shi)使(shi)用外(wai)部(bu) I/O 的開始(shi)信(xin)號(hao)或(huo)通(tong)訊(xun)命令(ling)也無(wu)法開始(shi)測(ce)試。

要(yao)開始(shi)測(ce)試時(shi)，請(qing)使(shi)用附(fu)帶(dai)的(de)聯鎖(suo)解(jie)除(chu)治(zhi)具(ju)將此功能關閉(bi)。

IN ：本儀(yi)器(qi)收(shou)到的(de)輸(shu)入信(xin)號(hao)　　OUT ：本儀(yi)器(qi)發出(chu)的輸(shu)出(chu)信號(hao)信號具(ju)體(ti)數(shu)據(ju)等以產(chan)品(pin)實(shi)際為(wei)準

設(she)置(zhi)電(dian)壓 電(dian)阻量程(cheng) 電(dian)阻值顯示範圍 分辨(bian)率 精度保(bao)證(zheng)範圍 基(ji)本精度

25 V ≦ V ＜ 100 V

2 MΩ 0.050 MΩ 〜 9.999 MΩ 0.001 MΩ 0.050 MΩ 〜 2.000 MΩ ±1.5％ rdg.±2 dgt.

2.001 MΩ 〜 9.999 MΩ ±15% rdg.

20 MΩ 1.80 MΩ 〜 99.99 MΩ 0.01 MΩ 1.80 MΩ 〜 20.00 MΩ ±1.5％ rdg.±2 dgt.

20.01 MΩ 〜 99.99 MΩ ±5% rdg.

200 MΩ 18.0 MΩ 〜 999.9 MΩ 0.1 MΩ 18.0 MΩ 〜 200.0 MΩ ±2.5％ rdg.

200.1 MΩ 〜 999.9 MΩ ±5％ rdg.

100 V ≦ V ≦ 500 V

2 MΩ 0.200 MΩ 〜 9.999 MΩ 0.001 MΩ 0.200 MΩ 〜 2.000 MΩ ±1.5％ rdg.±2 dgt.

2.001 MΩ 〜 9.999 MΩ ±10％ rdg.

20 MΩ 1.00 MΩ 〜 99.99 MΩ 0.01 MΩ 1.00 MΩ 〜 20.00 MΩ ±1.5％ rdg.±2 dgt.

20.01 MΩ 〜 99.99 MΩ ±15％ rdg.

200 MΩ 10.0 MΩ 〜 999.9 MΩ 0.1 MΩ 10.0 MΩ 〜 200.0 MΩ ±2.5％ rdg.

200.1 MΩ 〜 999.9 MΩ ±5％ rdg.

2000 MΩ 100 MΩ 〜 9999 MΩ 1 MΩ 100 MΩ 〜 2000 MΩ ±2.5％ rdg.

2001 MΩ 〜 9999 MΩ ±5％ rdg.

※ 超(chao)過(guo)顯(xian)示範圍的情況下(xia)，顯示(shi) Over.F 或(huo) Under.F

※1 ：電(dian)流(liu)限(xian)制設(she)為(wei) 5.1 mA 以上(shang)時(shi)，若(ruo)連接(jie)約 50μF 以(yi)上(shang)的(de)容性(xing)負(fu)載，則會由於輸(shu)出發(fa)生(sheng)部(bu)分的(de)限(xian)制發(fa)生(sheng)錯誤(wu)而無(wu)法測(ce)量。

※2 ：電(dian)流(liu)限(xian)制設(she)為(wei) 5.1 mA 以上(shang)時(shi)，測(ce)量開始(shi)後 200 ms 未達(da)到 20 V 以(yi)上(shang)的情況下(xia)，會強(qiang)制結(jie)束，在(zai) 1s 後變為(wei)可測(ce)量狀(zhuang)態

※3 ：如(ru)果(guo)電(dian)流(liu)限(xian)制設(she)為(wei) 5.1 mA 和(he) 50.0 mA 之(zhi)間(jian)，在輸出電(dian)壓達(da)到設(she)定電(dian)壓後，電(dian)流(liu)被限(xian)制為(wei)5 mA。

※4 ： 當電(dian)源(yuan)條(tiao)件(jian)為(wei)電(dian)源(yuan)電(dian)壓 220 V，電(dian)源(yuan)頻率 50/60 Hz，測(ce)試電(dian)壓 200 V，電(dian)流(liu)限(xian)制值 2 mA、負(fu)載（1 GΩ 電(dian)阻和(he) 0.1 uF 電(dian)容並聯）的情況。

■ 技術(shu)參 數(shu) （精度保(bao)證(zheng)期(qi) 1 年(nian)）

品(pin)名(ming) ：電(dian)池絕緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi) BT5525

主機(ji)無(wu)法單(dan)獨測(ce)量。LOW 端(duan)子為(wei) HIOKI 專用連接(jie)器(qi)，僅可連接(jie)我司選件 L2131 或(huo) L2133。請根(gen)據測(ce)量目的另(ling)外(wai)購(gou)買(mai)選件中(zhong)的(de)測(ce)試線。

主要(yao)功能

絕緣電(dian)阻測(ce)試（Insulation Test）

BDD（Break Down Detect）微(wei)短(duan)路檢(jian)測(ce)接觸(chu)檢(jian)查(zha)功能

輸出(chu)參(can)數(shu)

輸(shu)出電(dian)壓 25 V 〜 500 V, 設(she)置(zhi)分辨(bian)率 1 V

充電(dian)電(dian)流(liu)

（電(dian)流(liu)限(xian)制功能） 50 μA 〜 50 mA ※ 1 ※ 2 ※ 3, 最小(xiao)設(she)置(zhi)分辨(bian)率 10 μA

短(duan)路電(dian)流(liu) 60 mA 以(yi)下(xia)

放(fang)電(dian)電(dian)流(liu) 40 mA 以(yi)上(shang)

測(ce)量部(bu)分參(can)數(shu)

電(dian)阻值顯示範圍 0.050 MΩ 〜 9999 MΩ

電(dian)阻測(ce)量量程(cheng) 2 MΩ , 20 MΩ , 200 MΩ , 2000 MΩ , AUTO

時(shi)間(jian)參數(shu)

測(ce)試時(shi)間(jian) 0.050 s 〜 999.999 s, OFF

比(bi)較(jiao)器(qi)延(yan)遲 0.001 s 〜 999.999 s, AUTO

顯示更新速(su)度 1 PLC

采(cai)樣時(shi)間(jian) 1 PLC 〜 100 PLC

保(bao)存功能

面(mian)板保(bao)存功能 可保(bao)存 15 組(zu)測(ce)量條(tiao)件

測(ce)量值保(bao)存功能 最多可在(zai)內存中(zhong)保(bao)存 999 個(ge)測(ce)量值

判(pan)定功能

測(ce)試模(mo)式(shi) 連續測(ce)試 , PASS STOP, FAIL STOP

比(bi)較(jiao)器(qi)功能

UPPER_FAIL　測(ce)量值 > 上限(xian)值

PASS　上限(xian)值 ≧ 測(ce)量值 ≧ 下(xia)限(xian)值

LOWER_FAIL　測(ce)量值 < 下(xia)限(xian)值

功能壹覽

BDD（Break Down

Detect）功能 微短(duan)路檢(jian)測(ce)功能

接觸(chu)檢(jian)查(zha)功能 2 端(duan)子靜(jing)電(dian)容量測(ce)量方(fang)式(shi)

自(zi)動(dong)數(shu)據(ju)輸出功能 測(ce)試結(jie)束後通(tong)過(guo)通(tong)訊(xun)接口自動(dong)輸(shu)出測(ce)量結(jie)果命令(ling)監控(kong)功能 畫面(mian)顯示(shi)收(shou)發命令(ling)

外(wai)部(bu) I/O 監控功能 畫面(mian)顯示(shi)輸出(chu)信號的打(da)開 / 關(guan)閉(bi)和(he)輸(shu)入(ru)信(xin)號

模擬輸(shu)出(chu)功能 將測(ce)量值轉換(huan)為(wei) DC 0 ~ 4 V 輸出(chu) ※2

基(ji)本參數(shu)

使(shi)用溫(wen)濕度(du)範圍 0ﾟC〜40ﾟC, 80% RH以下(xia)（無結(jie)露）

適(shi)用標(biao)準(zhun) 安(an)全性(xing) : IEC 61010

EMC : IEC 61326

電(dian)源(yuan)電(dian)壓 AC 100 V 〜 240 V

消(xiao)耗功率 約 20 VA※4

最(zui)大(da)額定功率 100 VA

接口 USB, LAN, RS-232C, EXT. I/O

體(ti)積 215（W）× 80（H）× 306.5（D） mm （不含(han)突起(qi)物）

重量 2.8 kg ± 0.1 kg

產(chan)品(pin)保(bao)修期(qi) 3 年(nian)

附(fu)件 電(dian)源(yuan)線、 外(wai)部(bu) I/O 用公(gong)頭(tou)連接(jie)器(qi)、外(wai)部(bu) I/O 用連接(jie)器(qi)防護(hu)罩(zhao)、 外(wai)部(bu) I/O 用聯鎖(suo)解(jie)除(chu)治(zhi)具(ju)、 啟(qi)動指(zhi)南

通(tong)信(xin)電(dian)纜(lan)

RS-232C 連接(jie)線 9637

9pin-9pin，1.8m長

輸(shu)出(chu)線L9094

香(xiang)蕉(jiao)端(duan)子用，1.5m

夾(jia)型(xing)測(ce)試線 L2130

用於(yu)HIGH端(duan)子， 香(xiang)蕉(jiao)頭(tou) - 鱷魚(yu)夾(jia)， 紅(hong)色，線長1.5m

夾(jia)型(xing)測(ce)試線 L2131

用於(yu)LOW端(duan)子， 特(te)殊三同(tong)軸接(jie)口 - 鱷魚(yu)夾(jia)， 黑(hei)色，線長1.5 m

單(dan)側(ce)無接(jie)頭(tou)測(ce)試線 L2132

用於(yu)HIGH端(duan)子， 香(xiang)蕉(jiao)頭(tou) - 無(wu)接(jie)頭(tou)， 紅(hong)色，線長5 m

單(dan)側(ce)無接(jie)頭(tou)測(ce)試線 L2133

用於(yu)LOW端(duan)子， 特(te)殊三同(tong)軸接(jie)口- 無接(jie)頭(tou)， 黑(hei)色(se)，線長5 m