基(ji)礎信息Product information

產品名(ming)稱(cheng)：日(ri)置HIOKI ST5680直流耐壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)

產品型(xing)號(hao)：

更(geng)新時(shi)間：2025-06-11

產品簡(jian)介：

堅融(rong)實業(ye)—— 壹(yi)家致力於為(wei)祖(zu)國用(yong)戶(hu)提(ti)供(gong)日(ri)置HIOKI ST5680直流耐壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)儀(yi)器(qi)設備(bei)售(shou)前演示實(shi)測(ce)、測(ce)試(shi)方案應用(yong)、技(ji)術使(shi)用(yong)培(pei)訓及(ji)售(shou)後維(wei)修計(ji)量(liang)，全(quan)面服(fu)務的(de)儀(yi)器(qi)設備(bei)綜(zong)合服務商(shang)!

產品特(te)性(xing)Product characteristics

堅融(rong)實業(ye)——通(tong)過德(de)國(guo)TUV認(ren)證供應商(shang)!

堅融(rong)實業(ye)——專(zhuan)註(zhu)工業(ye)測(ce)試(shi)行業(ye)十(shi)六(liu)年!

堅融(rong)實業(ye)——擁(yong)有替(ti)代(dai)進(jin)口品牌儀(yi)器(qi)儀(yi)表(biao)設備(bei)及(ji)非(fei)標定制(zhi)的OEM工廠(chang)!

堅融(rong)實業(ye)——儀(yi)器(qi)儀(yi)表(biao)設備(bei)代(dai)理(li)經(jing)銷商(shang)中(zhong)唯(wei)YI 壹(yi)家有技術支持(chi)工程(cheng)師(shi)的公(gong)司!

堅融(rong)實業(ye)——實(shi)繳註(zhu)冊資(zi)金人(ren)民(min)幣壹(yi)仟(qian)萬(wan)元(yuan)整(zheng)！實(shi)繳資(zi)本同行業(ye)中(zhong)居(ju)全(quan)國(guo)Q三(san)!

堅融(rong)實業(ye)——抗(kang)金融(rong)風險實(shi)力超(chao)Q，且為(wei)行業(ye)裏(li)極(ji)少(shao)數通過會(hui)計(ji)事務所(suo)嚴(yan)格(ge)審(shen)計(ji)的(de)公(gong)司，公(gong)司遵(zun)紀(ji)守(shou)法(fa)，用(yong)戶(hu)合作安(an)全(quan)可(ke)靠(kao)!

堅融(rong)實業(ye)——致力於為(wei)祖(zu)國用(yong)戶(hu)提(ti)供(gong)儀(yi)器(qi)設備(bei)售(shou)前演示實(shi)測(ce)、測(ce)試(shi)方案應用(yong)、技(ji)術使(shi)用(yong)培(pei)訓及(ji)售(shou)後維(wei)修計(ji)量(liang)，全(quan)面服(fu)務的(de)儀(yi)器(qi)設備(bei)綜(zong)合服務商(shang)!

日(ri)置HIOKI ST5680直流耐壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)

為(wei)電(dian)池(chi)的(de)安(an)全(quan)測(ce)試(shi)提(ti)供更(geng)優化的(de)檢(jian)測(ce)方案，通(tong)過(guo)波形分析提(ti)升電(dian)池(chi)的(de)檢(jian)測(ce)品質(zhi)

準確(que)檢(jian)查(zha)絕(jue)緣性(xing)能(neng)，驗證電(dian)池(chi)和(he)電(dian)機(ji)質(zhi)量(liang)

通過波形和數值顯(xian)示(shi)有(you)助於(yu)優化生產工序、對收回(hui)的(de)不合格(ge)產品進(jin)行分析、宣傳(chuan)檢(jian)查(zha)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)

防止因(yin)電(dian)弧(hu)放(fang)電(dian)導(dao)致微小(xiao)故障(zhang)品流出

防止誤(wu)判(pan)導致的(de)復測(ce)

支持(chi)廣泛(fan)的(de)國(guo)際標準。搭(da)載BDV（絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)）測(ce)量(liang)功(gong)能(neng)。

專用(yong)於(yu)直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)的(de)高配置機(ji)型(xing)

這(zhe)是(shi)提供更優化的(de)檢(jian)測(ce)品質(zhi)的直流耐壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)ST5680EOL的(de)介紹。其性(xing)能(neng)可(ke)以(yi)支持(chi)各個(ge)國際(ji)標準(zhun)的(de)測(ce)試(shi)條(tiao)件，應對所(suo)有(you)的(de)直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)。

使(shi)用(yong)波(bo)形和數值驗證絕(jue)緣性(xing)能(neng)【波(bo)形顯(xian)示(shi)功(gong)能】

ST5680EOL是(shi)能夠基於各種(zhong)安(an)全(quan)標(biao)準進(jin)行直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)和(he)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)的(de)測(ce)試(shi)儀(yi)。

不(bu)僅可(ke)以(yi)進(jin)行PASS/FAIL的合格(ge)與(yu)否判(pan)定，也(ye)可(ke)以(yi)顯(xian)示(shi)、記(ji)錄測(ce)試(shi)時(shi)的輸(shu)出電(dian)壓(ya)波形和泄漏電(dian)流波形。

將測(ce)試(shi)可(ke)視(shi)化分(fen)析，有(you)助於(yu)檢(jian)查(zha)的(de)溯源(yuan)。

輸(shu)出電(dian)壓(ya)和泄(xie)漏電(dian)流以波(bo)形顯(xian)示(shi)

可(ke)以(yi)通過波形確認(ren)測(ce)試(shi)時(shi)輸出電(dian)壓(ya)或泄(xie)漏電(dian)流的動(dong)向。

在確認(ren)波(bo)形的同時，還可(ke)按時(shi)間順序確認(ren)電(dian)壓(ya)值、泄(xie)漏電(dian)流值、電(dian)阻(zu)值。

無(wu)需(xu)使(shi)用(yong)電(dian)腦(nao)即可(ke)進(jin)行波形放大(da)顯(xian)示(shi)等(deng)操作(zuo)，在現場(chang)就能(neng)進(jin)行詳(xiang)細(xi)的(de)分(fen)析。

波(bo)形顯(xian)示(shi)的(de)優點

有助於(yu)優化生產工序

通過分析檢(jian)查(zha)時(shi)的(de)波形，可(ke)以(yi)推(tui)斷出生產工序中(zhong)的(de)不(bu)良(liang)因(yin)素(su)。通(tong)過查(zha)明(ming)不(bu)良(liang)因(yin)素(su)，優化生產工序，從(cong)而(er)能夠(gou)提(ti)高生產效率(lv)。

有(you)助於(yu)對收回(hui)的(de)不合格(ge)產品進(jin)行分析

可(ke)以(yi)把收回(hui)的(de)不合格(ge)品與(yu)當初出廠(chang)檢(jian)測(ce)時(shi)的(de)波(bo)形做比(bi)對。通過(guo)優化合格(ge)品的(de)判(pan)定標(biao)準，進(jin)壹(yi)步(bu)提(ti)高生產質量。

有助於(yu)宣傳(chuan)檢(jian)查(zha)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)

波(bo)形的記(ji)錄管(guan)理(li)有(you)利(li)於(yu)檢查(zha)的(de)可(ke)溯源(yuan)性(xing)，構築更高品質(zhi)的檢(jian)查(zha)體(ti)系，可(ke)以(yi)提升客戶的(de)信任(ren)。

防止因(yin)電(dian)弧(hu)放(fang)電(dian)導(dao)致微小(xiao)故障(zhang)品流出[【電(dian)弧(hu)放(fang)電(dian)檢(jian)測(ce)功(gong)能(neng)】

可(ke)以(yi)檢測(ce)因(yin)為焊接(jie)毛(mao)刺或粉(fen)塵異(yi)物(wu)等(deng)原(yuan)因(yin)發生的電(dian)弧(hu)放(fang)電(dian)。

將引起(qi)輕微絕(jue)緣不良(liang)的(de)產品判(pan)斷為(wei)微小(xiao)故障(zhang)品，可(ke)以(yi)防止出廠(chang)後(hou)因(yin)發熱(re)原(yuan)因(yin)引起(qi)的火災(zai)事故或(huo)故障(zhang)等(deng)風險。

防止誤(wu)判(pan)導致的(de)復測(ce)【接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功(gong)能(neng)】

通過(guo)測(ce)量(liang)端(duan)子(zi)間的電(dian)容(rong)（雜散(san)電(dian)容(rong)、被(bei)測(ce)物(wu)的(de)電(dian)容(rong)），能(neng)判(pan)斷是(shi)否正確連(lian)接(jie)檢(jian)測(ce)對象(xiang)。

防止將不合格(ge)品誤(wu)判(pan)為合格(ge)品

・測(ce)試(shi)中(zhong)測(ce)試(shi)線(xian)脫落的情(qing)況

・測(ce)試(shi)部位(wei)間電(dian)阻(zu)增(zeng)加的(de)情(qing)況

例：測(ce)試(shi)線(xian)的老化、治具(ju)或(huo)高壓(ya)繼電(dian)器(qi)的(de)老(lao)化等(deng)

可(ke)以(yi)輕松使(shi)用(yong)

・利(li)用(yong)兩(liang)端(duan)子(zi)可(ke)以(yi)實現簡單(dan)的(de)接(jie)線(xian)

適用(yong)於(yu)電(dian)池(chi)、電(dian)機(ji)、電(dian)子(zi)零(ling)件(jian)等(deng)的耐壓(ya)測(ce)試(shi)

ST5680EOL是(shi)向測(ce)試(shi)對象(xiang)輸出高電(dian)壓(ya)，測(ce)試(shi)絕(jue)緣性(xing)能(neng)的(de)測(ce)試(shi)儀(yi)。可(ke)以(yi)對從(cong)電(dian)子(zi)設備(bei)、電(dian)子(zi)零(ling)件(jian)、材(cai)料(liao)等(deng)的研(yan)究開(kai)發到生產線(xian)的廣泛(fan)對象(xiang)進(jin)行安(an)全(quan)測(ce)試(shi)。在電(dian)池(chi)中(zhong)，用(yong)於(yu)電(dian)池(chi)模(mo)組(zu)、電(dian)池(chi)包(bao)、電(dian)芯的電(dian)極(ji)和(he)外(wai)殼(ke)間的耐壓(ya)測(ce)試(shi)。

可(ke)以(yi)在不考(kao)慮(lv)電(dian)容(rong)成(cheng)分的(de)情(qing)況下(xia)進(jin)行測(ce)試(shi)

就算(suan)是(shi)測(ce)試(shi)對象(xiang)含有(you)電(dian)容(rong)成(cheng)分的(de)情(qing)況下(xia)，因(yin)為有(you)不易發(fa)生過沖的(de)設計(ji)，不(bu)會(hui)對測(ce)試(shi)對象(xiang)輸出超(chao)過設置電(dian)壓(ya)的電(dian)壓(ya)，所(suo)以(yi)可(ke)以(yi)放心(xin)進(jin)行測(ce)試(shi)。

另(ling)外(wai)，通(tong)過(guo)配合延遲(chi)時間的設置，也(ye)可(ke)以(yi)不對充(chong)電(dian)電(dian)流流動(dong)的(de)時(shi)間進(jin)行判(pan)斷，從(cong)而(er)防止誤(wu)判(pan)。

※可(ke)測(ce)量(liang)的(de)最(zui)大(da)靜電(dian)電(dian)容(rong)量(liang)值(zhi)200 nF (測(ce)量(liang)更(geng)大(da)的電(dian)容(rong)值(zhi)可(ke)能(neng)會(hui)導(dao)致測(ce)量(liang)時(shi)間變(bian)長，或者測(ce)量(liang)值(zhi)的(de)偏(pian)差(cha)變(bian)大(da)。 ）

最(zui)小分(fen)辨(bian)率0.001 μA的(de)高精度(du)判(pan)定

隨(sui)著電(dian)池(chi)和(he)電(dian)機(ji)等(deng)絕(jue)緣性(xing)能(neng)的(de)提(ti)高，對判(pan)斷耐壓(ya)測(ce)試(shi)合格(ge)與(yu)否的電(dian)流值設置要(yao)求(qiu)也(ye)越來越高，要(yao)求(qiu)設置為(wei)更小的(de)電(dian)流。如(ru)果(guo)使(shi)用(yong)分(fen)辨(bian)率低(di)的耐壓(ya)測(ce)試(shi)儀(yi)，則(ze)無法(fa)準確測(ce)量(liang)泄(xie)漏電(dian)流的測(ce)量(liang)值(zhi)。ST5680EOL實(shi)現了最(zui)小分(fen)辨(bian)率0.001uA的(de)高精度(du)規(gui)格(ge)，因(yin)此可(ke)以(yi)正確測(ce)量(liang)微小(xiao)的(de)泄漏電(dian)流，判(pan)斷合格(ge)與(yu)否。

搭載BDV（絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)）測(ce)量(liang)功(gong)能(neng)

搭載了(le)確(que)認(ren)測(ce)試(shi)對象(xiang)絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)的BDV（Break Down Voltage）功(gong)能(neng) 。

以壹(yi)定速(su)度(du)提(ti)高輸出電(dian)壓(ya)，確認(ren)達(da)到絕(jue)緣擊穿時的(de)電(dian)壓(ya)。

測(ce)試(shi)方法(fa)按標(biao)準規定，有(you)連(lian)續升壓(ya)測(ce)試(shi)和(he)逐(zhu)級升壓(ya)測(ce)試(shi)。

ST5680EOL兩(liang)種(zhong)測(ce)試(shi)都(dou)可(ke)以(yi)實施(shi)。可(ke)用(yong)於(yu)電(dian)池(chi)開(kai)發(fa)時的性(xing)能(neng)評(ping)價(絕(jue)緣耐力評估)。

日置HIOKI ST5680直流耐壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)基(ji)本參數（精(jing)度(du)保(bao)證時間1年）

主要(yao)功(gong)能(neng)

直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)、絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)、絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)測(ce)試(shi)、波(bo)形顯(xian)示(shi)功(gong)能、ARC放電(dian)檢(jian)測(ce)功(gong)能(neng)、接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功(gong)能(neng) (詳(xiang)情(qing)請(qing)參照(zhao)“各測(ce)試(shi)·功(gong)能"表(biao))

功(gong)能(neng)壹(yi)覽聯(lian)鎖(suo)、自動(dong)放(fang)電(dian)、消除(chu)偏(pian)移(yi)、瞬(shun)時(shi)輸出、命(ming)令監控(kong)、I/O HANDLER、按鍵(jian)鎖(suo)定、自檢(jian)、校(xiao)準期限檢(jian)測(ce)、EXT SW（遠程(cheng)控(kong)制(zhi)）

使(shi)用(yong)溫濕度(du)範圍(wei)0°C～40°C，80% RH或(huo)以下(xia)（無(wu)結(jie)露(lu)）

適合標準安(an)全(quan)性(xing)：IEC 61010                

EMC：IEC 61326

電(dian)源(yuan)電(dian)壓(ya)AC 100 V ～ 240 V

功耗(hao)約(yue)180 VA※                

※ 電(dian)源(yuan)條(tiao)件為(wei)電(dian)源(yuan)電(dian)壓(ya)220 V、電(dian)源(yuan)頻(pin)率 50/60 Hz、測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)、測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)2.5 kV、負載電(dian)流5 mA負載電(dian)阻(zu)500 kΩ）的情(qing)況下(xia)。

最(zui)大(da)額定功(gong)率800 VA

接(jie)口通訊(xun)：USB，LAN，EXT. I/O

選(xuan)件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000）

存儲：U盤

尺寸(cun)·重量(liang)

305（W）×142（H）×430（D）mm（不(bu)含(han)突(tu)起物(wu)）

10.0 kg ± 0.2 kg

附(fu)件

電(dian)源(yuan)線(xian)，CD-ROM（PDF：使(shi)用(yong)說(shuo)明(ming)書(shu)，通(tong)訊(xun)使(shi)用(yong)說(shuo)明(ming)書(shu)），EXT.I/O用(yong)公(gong)頭(tou)連(lian)接(jie)器(qi)，EXT.I/O用(yong)連(lian)接(jie)器(qi)蓋(gai)EXT.I/O用(yong)聯(lian)鎖(suo)解除(chu)治具(ju)，啟(qi)動(dong)指(zhi)南(nan)

各測(ce)試(shi)·功(gong)能

直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)輸(shu)出電(dian)壓(ya)：DC 0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨(bian)率)                  輸(shu)出設置精(jing)度(du)：±（1.2% of setting + 20 V）

                輸(shu)出電(dian)流/截(jie)止電(dian)流：20 mA max

                電(dian)流精度(du)（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg.

                最(zui)小分(fen)辨(bian)率：0.001 μA

                測(ce)試(shi)時(shi)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）

                電(dian)壓(ya)上(shang)升/下(xia)降(jiang)時(shi)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF

                短路電(dian)流200 mA 以上(shang)

                測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)W→IR，IR→W，程(cheng)序測(ce)試(shi)

絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)

輸(shu)出電(dian)壓(ya)：DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨(bian)率)

                輸(shu)出設置精(jing)度(du)：±（1.2% of setting + 20 V）

                電(dian)阻(zu)值顯(xian)示(shi)範圍(wei)：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分(fen)辨(bian)率）

                精(jing)度(du)保(bao)證範圍(wei)：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ

                電(dian)阻(zu)精度(du)：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳(xiang)情(qing)參考(kao)下(xia)部表(biao)格(ge)

                測(ce)試(shi)時(shi)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）

                 電(dian)壓(ya)上(shang)升/下(xia)降(jiang)時(shi)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF

絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)測(ce)試(shi)測(ce)試(shi)方法(fa)：連(lian)續升壓(ya)測(ce)試(shi)，逐(zhu)級升壓(ya)測(ce)試(shi)

                測(ce)量(liang)內容：絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)（kV），絕(jue)緣擊穿的強度(du)（kV/mm）

                設定內容：初始電(dian)壓(ya)，結束(shu)電(dian)壓(ya)，升壓(ya)速度(du)，ARC檢(jian)測(ce)，電(dian)極(ji)間距(ju)離，電(dian)流上(shang)限值(zhi)

                檢測(ce)有(you)效電(dian)壓(ya)：150V以上(shang)

波形顯(xian)示(shi)功(gong)能波形顯(xian)示(shi)內容：電(dian)壓(ya)，電(dian)流，絕(jue)緣電(dian)阻(zu)

                采(cai)樣速(su)度(du)：500 kS/s

                內存容(rong)量：512 K words

ARC放(fang)電(dian)檢(jian)測(ce)功(gong)能(neng)檢(jian)測(ce)方式(shi)：監(jian)視(shi)試(shi)驗測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)的變(bian)動(dong)

                設定內容：測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)變(bian)動(dong)率(lv)1％～50％

                檢(jian)測(ce)有(you)效電(dian)壓(ya)：150V以上(shang)

存儲(chu)功能(neng)

·波形·圖(tu)形

保存到U盤

保存(cun)格(ge)式(shi)：BMP、PNG、CSV文(wen)件(jian)

·面(mian)板(ban)保存(cun)功能(neng)

將測(ce)試(shi)條(tiao)件保(bao)存(cun)在主機(ji)內存中(zhong)

直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)/絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)：最(zui)多64個(ge)

程(cheng)序測(ce)試(shi)：最(zui)多30個(ge)（最(zui)多50步(bu)）

絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)測(ce)試(shi)：最(zui)多10個(ge)

·數據(ju)存(cun)儲(chu)功能(neng)

測(ce)量(liang)值(zhi)保(bao)存在內存，最(zui)多32000個(ge)

判(pan)定功(gong)能（判(pan)定輸(shu)出）判(pan)定為(wei)PASS，判(pan)定為(wei)FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL）

UPPER_FAIL：測(ce)量(liang)值(zhi)＞上(shang)限值(zhi)

PASS：上(shang)限值(zhi)≥測(ce)量(liang)值(zhi)≥下(xia)限(xian)值(zhi)

LOWER_FAIL：測(ce)量(liang)值(zhi)＜下(xia)限(xian)值(zhi)

註(zhu)記(ji)（*1）

環境溫度(du)t不(bu)足5℃時加上(shang)±(1% rdg.×(5-t ) )

環境溫度(du)t超(chao)過35℃時(shi)加上(shang)±(1% rdg.×(t-35 ) )

絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)精(jing)度(du)（*2）（精(jing)度(du)保(bao)證測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)範圍(wei)：50 V ~ 2000 V）

測(ce)試(shi)範圍(wei)100 kΩ ～ 99.99 GΩ

10 nA ≦ I ≦ 3 μA100 MΩ ～ 999.9 MΩ

1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ±(20% rdg.)

100 nA ≦ I ≦ 30 μA10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ

100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ±(5% rdg.)

1 μA ≦ I ≦ 300 μA1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ

10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ±(2% rdg. + 5 dgt.)

10 μA ≦ I ≦ 3 mA100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ

1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ±(1.5% rdg. +3 dgt.)

100 μA ≦ I ≦ 20 mA100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ±(1.5% rdg. +3 dgt.)

註(zhu)記(ji)（*2）

· 測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)為50 V〜99 V時(shi)，測(ce)量(liang)精(jing)度(du)加算(suan)±10%

· 測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)為100 V〜999 V時(shi)，測(ce)量(liang)精(jing)度(du)加算(suan)±5%

· 測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)為1000 V〜2000 V時(shi)，測(ce)量(liang)精(jing)度(du)加算(suan)±2%

· 環(huan)境溫度(du)t小(xiao)於5℃時，加上(shang)測(ce)量(liang)電(dian)流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上(shang)測(ce)量(liang)電(dian)流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) )

· 環境溫度(du)t超(chao)過35℃時(shi)，加上(shang)測(ce)量(liang)電(dian)流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上(shang)測(ce)量(liang)電(dian)流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) )

· 測(ce)定速(su)度(du)為(wei)FAST2時，測(ce)量(liang)精(jing)度(du)加倍(bei)

直流耐壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi) ST5680EOL

DC HIPOT TESTER ST5680EOL

為(wei)電(dian)池(chi)的(de)安(an)全(quan)測(ce)試(shi)提(ti)供更(geng)優化的(de)檢(jian)測(ce)方案

通(tong)過(guo)波形分析提(ti)升電(dian)池(chi)的(de)檢(jian)測(ce)品質(zhi)

隨(sui)著電(dian)動(dong)汽(qi)車(che)和(he)自動(dong)駕(jia)駛技術的普及(ji)，對於車(che)載部件(jian)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)要(yao)求(qiu)不(bu)斷提(ti)高，越來越追求(qiu)高質量。

搭載的(de)電(dian)池(chi)，可(ke)能(neng)會(hui)因(yin)為老(lao)化等(deng)原(yuan)因(yin)導致重(zhong)大(da)事故(火(huo)災(zai)等(deng))。

因(yin)此，需(xu)要(yao)比(bi)以往(wang)更(geng)加註(zhu)重電(dian)池(chi)的(de)安(an)全(quan)性(xing)和(he)品質(zhi)管理(li)。

・檢(jian)查(zha)結(jie)果(guo)可(ke)以(yi)留(liu)存波(bo)形，用(yong)於(yu)證明電(dian)池(chi)的(de)品質(zhi)

・出貨檢測(ce)想要(yao)滿(man)足(zu)所(suo)有(you)的(de)國(guo)際標準(直流耐壓(ya)測(ce)試(shi))

ST5680是(shi)為滿足這(zhe)些(xie)電(dian)池(chi)市場(chang)要(yao)求(qiu)而(er)開發(fa)的(de)直流耐壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)。

準(zhun)確檢查(zha)絕(jue)緣性(xing)能(neng)，

驗證電(dian)池(chi)和(he)電(dian)機(ji)質(zhi)量(liang)

使(shi)用(yong)波(bo)形和數值驗證絕(jue)緣性(xing)能(neng)

波(bo)形顯(xian)示(shi)的(de)優點

ST5680是(shi)能夠基於各種(zhong)安(an)全(quan)標(biao)準進(jin)行直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)和(he)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)的(de)測(ce)試(shi)儀(yi)。

不(bu)僅可(ke)以(yi)進(jin)行PASS/FAIL的合格(ge)與(yu)否判(pan)定，也(ye)可(ke)以(yi)顯(xian)示(shi)、記(ji)錄測(ce)試(shi)時(shi)的輸(shu)出電(dian)壓(ya)波形和泄漏電(dian)流波形。

將測(ce)試(shi)可(ke)視(shi)化分(fen)析，有(you)助於(yu)檢(jian)查(zha)的(de)溯源(yuan)。

測(ce)試(shi)波(bo)形顯(xian)示(shi) 微小(xiao)故障(zhang)檢測(ce) 防止誤(wu)判(pan)

波形顯(xian)示(shi)功(gong)能

■ 輸出電(dian)壓(ya)和泄(xie)漏電(dian)流以波(bo)形顯(xian)示(shi)

可(ke)以(yi)通過波形確認(ren)測(ce)試(shi)時(shi)輸出電(dian)壓(ya)或泄(xie)漏電(dian)流的動(dong)向。

在確認(ren)波(bo)形的同時，還可(ke)按時(shi)間順序確認(ren)電(dian)壓(ya)值、泄(xie)漏電(dian)

流值、電(dian)阻(zu)值。

無(wu)需(xu)使(shi)用(yong)電(dian)腦(nao)即可(ke)進(jin)行波形放大(da)顯(xian)示(shi)等(deng)操作(zuo)，在現場(chang)就

能(neng)進(jin)行詳(xiang)細(xi)的(de)分(fen)析。

僅(jin)放(fang)大(da)波形顯(xian)示(shi)

■ 有(you)助於(yu)優化生產工序 ■ 有助於(yu)對收回(hui)的(de)不合格(ge)產品進(jin)行分析 ■ 有(you)助於(yu)宣傳(chuan)檢(jian)查(zha)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)

通(tong)過(guo)分(fen)析檢(jian)查(zha)時(shi)的(de)波形，可(ke)以(yi)推(tui)斷出生產工序中(zhong)的(de)不(bu)良(liang)因(yin)素(su)。通(tong)過查(zha)明(ming)不(bu)良(liang)因(yin)素(su)，優化生產工序，從(cong)而(er)能夠(gou)提(ti)高生產效率(lv)。

波(bo)形的記(ji)錄管(guan)理(li)有(you)利(li)於(yu)檢查(zha)的(de)可(ke)溯源(yuan)性(xing)，構築

更高品質(zhi)的檢(jian)查(zha)體(ti)系，可(ke)以(yi)提升客戶的(de)信任(ren)。

可(ke)以(yi)把收回(hui)的(de)不合格(ge)品與(yu)當初出廠(chang)檢(jian)測(ce)時(shi)的(de)波(bo)

形做比(bi)對。通過(guo)優化合格(ge)品的(de)判(pan)定標(biao)準，進(jin)壹(yi)步(bu)

提(ti)高生產質量。

合格(ge)與(yu)否判(pan)定

電(dian)壓(ya)測(ce)量(liang)值(zhi) 電(dian)流測(ce)量(liang)值(zhi)

測(ce)試(shi)時(shi)間

判(pan)斷標(biao)準值(zhi)

提高生產效率(lv) 提(ti)高生產質量 提高可(ke)靠(kao)性(xing)

用(yong)指(zhi)令來自動(dong)保(bao)存(cun)

保(bao)存到U盤

各種(zhong)功(gong)能

電(dian)弧(hu)放(fang)電(dian)檢(jian)測(ce)功(gong)能(neng)

防止因(yin)電(dian)弧(hu)放(fang)電(dian)導(dao)致微小(xiao)故障(zhang)品流出

可(ke)以(yi)檢測(ce)因(yin)為焊接(jie)毛(mao)刺或粉(fen)塵異(yi)物(wu)等(deng)原(yuan)因(yin)發生的電(dian)弧(hu)放(fang)電(dian)。

將引起(qi)輕微絕(jue)緣不良(liang)的(de)產品判(pan)斷為(wei)微小(xiao)故障(zhang)品，可(ke)以(yi)防止出廠(chang)後(hou)因(yin)發熱(re)原(yuan)因(yin)引起(qi)的火災(zai)事故或(huo)故障(zhang)等(deng)風險。

搭(da)載了(le)安(an)全(quan)進(jin)行耐壓(ya)測(ce)試(shi)的(de)便利(li)功(gong)能。

接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功(gong)能(neng)

防止誤(wu)判(pan)導致的(de)復測(ce)

通(tong)過(guo)測(ce)量(liang)端(duan)子(zi)間的電(dian)容(rong)(雜散(san)電(dian)容(rong)、被(bei)測(ce)物(wu)的(de)電(dian)容(rong))，能(neng)判(pan)斷是(shi)否正確連(lian)接(jie)檢(jian)測(ce)對象(xiang)。

焊接(jie)處(chu)形成(cheng)的毛(mao)刺 附(fu)著在電(dian)芯之間的異(yi)物 異(yi)物燃燒(shao)損(sun)傷

斷線(xian)

老化

接(jie)觸(chu)不(bu)良(liang)

防止將不合格(ge)品誤(wu)判(pan)為合格(ge)品

・測(ce)試(shi)中(zhong)測(ce)試(shi)線(xian)脫落的情(qing)況

・測(ce)試(shi)部位(wei)間電(dian)阻(zu)增(zeng)加的(de)情(qing)況

例：測(ce)試(shi)線(xian)的老化

　　 治具(ju)或(huo)高壓(ya)繼電(dian)器(qi)的(de)老(lao)化等(deng)

可(ke)以(yi)輕松使(shi)用(yong)

・利(li)用(yong)兩(liang)端(duan)子(zi)可(ke)以(yi)實現簡單(dan)的(de)接(jie)線(xian)

■ 生產過程(cheng)中(zhong)有(you)異(yi)物(wu)附(fu)著 ■ 檢(jian)測(ce)電(dian)弧(hu)放(fang)電(dian)判(pan)定為(wei)FAIL

聯(lian)鎖(suo)功(gong)能(neng)

為確保(bao)作(zuo)業(ye)者的(de)安(an)全(quan)，與(yu)外(wai)部裝(zhuang)置聯(lian)動(dong)切(qie)斷本

儀(yi)器(qi)的輸出的功能。也可(ke)以(yi)用(yong)附(fu)帶的(de) EXT.I/O

用(yong)聯(lian)鎖(suo)解除(chu)治具(ju)來(lai)解除(chu)。

電(dian)壓(ya)限制(zhi)功(gong)能

設置本儀(yi)器(qi)輸出電(dian)壓(ya)的上(shang)限值(zhi)，可(ke)以(yi)防止因(yin)錯誤設定等(deng)引起(qi)的(de)事故。

設置範圍(wei)為(wei) 0.050 kV ～ 3.000 kV。

自動(dong)量(liang)程(cheng)功(gong)能

固定量(liang)程(cheng)下(xia)，不(bu)能(neng)顯(xian)示(shi)量(liang)程(cheng)範圍(wei)外(wai)的(de)測(ce)定值(zhi)。

使(shi)用(yong)自動(dong)量(liang)程(cheng)功(gong)能，可(ke)以(yi)根據(ju)測(ce)量(liang)值(zhi)自動(dong)切(qie)換(huan)量(liang)程(cheng)，始(shi)終顯(xian)示(shi)測(ce)量(liang)值(zhi)。

自動(dong)放(fang)電(dian)功(gong)能(neng)

各測(ce)試(shi)結(jie)束(shu)後(hou)，自動(dong)切(qie)換(huan)到(dao)內部的(de)放(fang)電(dian)回(hui)路，將被測(ce)物(wu)的(de)殘(can)留(liu)電(dian)荷放(fang)電(dian)。防止因(yin)充(chong)電(dian)狀(zhuang)態引起(qi)的(de)觸(chu)電(dian)事故。

面(mian)板(ban)保存(cun)功能(neng)

將測(ce)試(shi)條(tiao)件事先(xian)保存(cun)在本儀(yi)器(qi)內存中(zhong)，可(ke)根據(ju)需(xu)要(yao)讀(du)取(qu)。直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)、絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)可(ke)分(fen)別(bie)保存最(zui)多 64 組(zu)。

+ - + -

判(pan)斷為(wei)微小(xiao)

故障(zhang)品

4

專(zhuan)用(yong)於(yu)直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)的(de)

高配置機(ji)型(xing)

高輸出 高穩定 微短路檢測(ce)

勻(yun)漿(jiang) / 塗(tu)層 電(dian)極(ji)片(pian) 卷繞・疊層 極(ji)耳(er)焊接(jie) 電(dian)池(chi)盒(he)焊接(jie) 註(zhu)液(ye)前電(dian)芯 註(zhu)液(ye)・含(han)浸 充(chong)放(fang)電(dian) 化成(cheng) 電(dian)芯檢查(zha) 電(dian)池(chi)包(bao)檢(jian)查(zha)

LIB生產線(xian)的工藝(yi)流程(cheng)

更(geng)優化的(de)檢(jian)測(ce)品質(zhi)。

適用(yong)於(yu)電(dian)池(chi)、電(dian)機(ji)、電(dian)子(zi)零(ling)件(jian)等(deng)的耐壓(ya)測(ce)試(shi)

ST5680是(shi)向測(ce)試(shi)對象(xiang)輸出高電(dian)壓(ya)，測(ce)試(shi)絕(jue)緣性(xing)能(neng)的(de)測(ce)試(shi)儀(yi)。可(ke)以(yi)對從(cong)電(dian)子(zi)設備(bei)、電(dian)子(zi)零(ling)件(jian)、材(cai)料(liao)等(deng)的研(yan)究開(kai)發到生產線(xian)的廣泛(fan)對象(xiang)進(jin)行安(an)全(quan)測(ce)試(shi)。在電(dian)池(chi)中(zhong)，用(yong)於(yu)電(dian)池(chi)模(mo)組(zu)、電(dian)池(chi)包(bao)、電(dian)芯的電(dian)極(ji)和(he)外(wai)殼(ke)間的耐壓(ya)測(ce)試(shi)。

檢(jian)查(zha)電(dian)極(ji)與(yu)外(wai)殼(ke)之間的耐壓(ya)

搭載了(le)確(que)認(ren)測(ce)試(shi)對象(xiang)絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)的BDV(Break Down Voltage)功(gong)能(neng) 。

以壹(yi)定速(su)度(du)提(ti)高輸出電(dian)壓(ya)，確認(ren)達(da)到絕(jue)緣擊穿時的(de)電(dian)壓(ya)。

測(ce)試(shi)方法(fa)按標(biao)準規定，有(you)連(lian)續升壓(ya)測(ce)試(shi)和(he)逐(zhu)級升壓(ya)測(ce)試(shi)。

ST5680兩(liang)種(zhong)測(ce)試(shi)都(dou)可(ke)以(yi)實施(shi)。可(ke)用(yong)於(yu)電(dian)池(chi)開(kai)發(fa)時的性(xing)能(neng)評(ping)價(絕(jue)緣耐力評估)。

■ 搭載BDV(絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya))測(ce)量(liang)功(gong)能(neng)

模式(shi)：RATE，測(ce)試(shi)開(kai)始電(dian)壓(ya)：100 V，

RISE RATE(1 秒升壓(ya)電(dian)壓(ya))：100 V，

END電(dian)壓(ya)：2 kV，允(yun)許值(zhi)(判(pan)斷標(biao)準)：2 mA

模(mo)式(shi)：STEP，測(ce)試(shi)開(kai)始電(dian)壓(ya)：100 V，

STEP VLOT：100 V，HOLD時間：1 秒，

升壓(ya)次(ci)數：20 次(ci)，

允(yun)許值(zhi)(判(pan)斷標(biao)準)：2 mA

可(ke)以(yi)進(jin)行符合

IEC 60243、

JIS C2110

等(deng)標準(zhun)的(de)測(ce)試(shi)

連(lian)續升壓(ya)測(ce)試(shi)示(shi)例 逐(zhu)級升壓(ya)測(ce)試(shi)示(shi)例

穩(wen)定輸(shu)出高電(dian)壓(ya)

可(ke)以(yi)在不考(kao)慮(lv)電(dian)容(rong)成(cheng)分的(de)情(qing)況下(xia)進(jin)行測(ce)試(shi)※

就算(suan)是(shi)測(ce)試(shi)對象(xiang)含有(you)電(dian)容(rong)成(cheng)分的(de)情(qing)況下(xia)，因(yin)為有(you)不易發(fa)生過沖的(de)設計(ji)，不(bu)會(hui)對測(ce)試(shi)對象(xiang)輸出超(chao)過設置電(dian)壓(ya)的電(dian)壓(ya)，所(suo)以(yi)可(ke)以(yi)放心(xin)進(jin)行測(ce)試(shi)。

另(ling)外(wai)，通(tong)過(guo)配合延遲(chi)時間的設置，也(ye)可(ke)以(yi)不對充(chong)電(dian)電(dian)流流動(dong)的(de)時(shi)間進(jin)行判(pan)斷，從(cong)而(er)防止誤(wu)判(pan)。

※可(ke)測(ce)量(liang)的(de)最(zui)大(da)靜電(dian)電(dian)容(rong)值(zhi)為(wei)200 nF(如(ru)果(guo)測(ce)量(liang)更(geng)大(da)的電(dian)容(rong)值(zhi)，則(ze)測(ce)量(liang)時(shi)間可(ke)能(neng)會(hui)變(bian)長，測(ce)定值(zhi)的偏(pian)差(cha)可(ke)能(neng)會(hui)大(da)。)

精密(mi)檢查(zha)絕(jue)緣性(xing)、通(tong)過(guo)微小(xiao)電(dian)流值來(lai)判(pan)斷

最(zui)小分(fen)辨(bian)率0.001 µA的(de)高精度(du)判(pan)定

隨(sui)著電(dian)池(chi)和(he)電(dian)機(ji)等(deng)絕(jue)緣性(xing)能(neng)的(de)提(ti)高，對判(pan)斷耐壓(ya)測(ce)試(shi)合格(ge)與(yu)否的電(dian)流值設置要(yao)求(qiu)也(ye)越來越高，要(yao)求(qiu)設置為(wei)更小的(de)電(dian)流。如(ru)果(guo)使(shi)用(yong)分(fen)辨(bian)率低(di)的耐壓(ya)測(ce)試(shi)儀(yi)，則(ze)無法(fa)準確測(ce)量(liang)泄(xie)漏電(dian)流的測(ce)量(liang)值(zhi)。ST5680實(shi)現了最(zui)小分(fen)辨(bian)率0.001uA的(de)高精度(du)規(gui)格(ge)，因(yin)此可(ke)以(yi)正確測(ce)量(liang)微小(xiao)的(de)泄漏電(dian)流，判(pan)斷合格(ge)與(yu)否。

無電(dian)容(rong)成(cheng)分的(de)影(ying)響(xiang)

kV

ST5680

以往(wang)設備(bei)

時(shi)間

6

■ 接口

■ 選 件(jian)

RS-232C電(dian)纜

L9637

Z3001用(yong)，9針(zhen)-9針(zhen)，

交(jiao)叉型(xing)，3m

GP-IB連(lian)接(jie)電(dian)纜

9151-02

Z3000用(yong)，2m

GP-IB接(jie)口

Z3000

外(wai)部控(kong)制(zhi)用(yong)

遠程(cheng)控(kong)制(zhi)箱(單)

9613

開(kai)始(shi)/停止控(kong)制(zhi)用(yong)，

單(dan)手(shou)用(yong)，1.5m

RS-232C接(jie)口

Z3001

外(wai)部控(kong)制(zhi)用(yong)

遠程(cheng)控(kong)制(zhi)箱(雙)

9614

開(kai)始(shi)/停止控(kong)制(zhi)用(yong)，

雙(shuang)手(shou)用(yong)，1.5m

高壓(ya)測(ce)試(shi)線(xian)

L2260

夾(jia)子(zi)-特(te)殊(shu)連(lian)接(jie)器(qi)，

紅黑(hei)，1.5m

單(dan)側無接(jie)頭(tou)測(ce)試(shi)線(xian)

L2261

無接頭(tou)-特殊(shu)連(lian)接(jie)器(qi)，

紅黑(hei)，5m

顯(xian)示(shi)區(qu)域 報警(jing)指(zhi)示(shi)燈

旋(xuan)轉旋(xuan)鈕(niu)

外(wai)部開(kai)關(guan)端(duan)子(zi)

開(kai)始(shi)鍵(jian)

停止健(jian)

主電(dian)源(yuan)開(kai)關(guan)

U盤接口

輸出指示燈

電(dian)源(yuan)輸(shu)入(ru)口

通風(feng)口 電(dian)壓(ya)輸出 HIGH端子(zi)

電(dian)壓(ya)輸出 LOW端子(zi)

EXT.I/O端(duan)子(zi)

空(kong)白(bai)面(mian)板(ban)或

GP-IB接(jie)口

Z3000(選件(jian))

RS-232C接(jie)口

Z3001(選件(jian))

USB連(lian)接(jie)器(qi) LAN連(lian)接(jie)器(qi) EXT.I/O模(mo)式(shi)切(qie)換(huan)開(kai)關(guan)(NPN/PNP)

※為(wei)了能夠長(chang)久使(shi)用(yong)，請(qing)連(lian)接(jie)保(bao)護(hu)電(dian)阻(zu)盒使(shi)用(yong)。

保(bao)護(hu)電(dian)阻(zu)盒示(shi)意圖(tu) 主(zhu)機(ji)安(an)裝(zhuang)有保(bao)護(hu)電(dian)阻(zu)盒的(de)形態示意圖(tu)

7

標(biao)配有(you)LAN連(lian)接(jie)器(qi)、USB連(lian)接(jie)器(qi)。選(xuan)件(jian)支持(chi)GP - IB或(huo)RS -232C。連(lian)接(jie)電(dian)腦(nao)或(huo)可(ke)編程(cheng)邏(luo)輯(ji)控(kong)制(zhi)器(PLC)，可(ke)獲(huo)取(qu)本儀(yi)器(qi)的控(kong)制(zhi)及(ji)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)。

並(bing)且，配備(bei)了(le)EXT.I/O，能(neng)取(qu)得(de)測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)控(kong)制(zhi)、本儀(yi)器(qi)的狀(zhuang)態、判(pan)斷結(jie)果(guo)。

外(wai)部控(kong)制(zhi)等(deng)通訊(xun)接(jie)口

EXT. I/O LAN USB GP-IB(選件(jian)) RS-232C(選(xuan)件)

EXT. I/O接口

可(ke)使(shi)用(yong)本儀(yi)器(qi)背面的EXT.I/O連(lian)接(jie)器(qi)，輸(shu)出TEST信號或判(pan)定結(jie)果(guo)信號(hao)，

輸(shu)入(ru)START信號、STOP信號等(deng)控(kong)制(zhi)本儀(yi)器(qi)。

LAN 接口

作為(wei)接(jie)口配備(bei)了(le)Ethernet 100BASE-TX。可(ke)使(shi)用(yong)支持(chi)10BASE-T

或(huo)100BASE-TX的LAN電(dian)纜連(lian)接(jie)到(dao)網絡，通過PC等(deng)進(jin)行控(kong)制(zhi)。

EXT.I /O模式(shi)切(qie)換(huan)開(kai)關(guan)(NPN/PNP)

通(tong)過切(qie)換(huan)灌(guan)電(dian)流(NPN)和拉(la)電(dian)流(PNP)的EXT.I /O切(qie)換(huan)開(kai)關(guan)(NPN/

PNP)，可(ke)以(yi)變(bian)更對應的(de)PLC(可(ke)編程(cheng)邏(luo)輯(ji)控(kong)制(zhi)器)的種(zhong)類(lei)。

帶觸(chu)摸屏的彩(cai)色液(ye)晶顯(xian)示(shi)屏(ping)

命(ming)令監控(kong)功(gong)能

編程(cheng)時(shi)，使(shi)用(yong)命(ming)令監控(kong)功(gong)能的話，測(ce)試(shi)畫(hua)面上(shang)會(hui)顯(xian)示(shi)命(ming)令和響

應，很(hen)方便。可(ke)以(yi)使(shi)用(yong)命(ming)令監視功能(neng)，在屏幕上(shang)顯(xian)示(shi)通(tong)訊(xun)命(ming)令和

查(zha)詢(xun)響(xiang)應。

信(xin)號名(ming)稱(cheng) 功(gong)能(neng) I/O

START 測(ce)試(shi)開(kai)始及(ji)W-IR/IR-W、程(cheng)序、BDV模式(shi)的(de)

觸(chu)發(fa)信號(hao) IN

INTERLOCK 聯(lian)鎖(suo)狀(zhuang)態解除(chu) IN

LOAD1

面(mian)板(ban)讀取(qu)

IN

LOAD3 IN

LOAD5 IN

LOAD7 IN

ISO_5V 絕(jue)緣電(dian)源(yuan)+5V(-5V)輸(shu)出 –

ISO_COM 絕(jue)緣電(dian)源(yuan)公(gong)共端(duan)口 –

ERR 測(ce)量(liang)錯誤輸出 OUT

U_FAIL 判(pan)定為(wei)UPPER FAIL時輸(shu)出 OUT

L_FAIL 判(pan)定為(wei)LOWER FAIL時輸(shu)出 OUT

H.V.ON 電(dian)壓(ya)發生中(zhong)輸(shu)出 OUT

W-FAIL 耐壓(ya)測(ce)試(shi)中(zhong)FAIL狀(zhuang)態輸出 OUT

W-MODE 耐壓(ya)測(ce)試(shi)時(shi)輸出 OUT

STEP_END 程(cheng)序測(ce)試(shi)中(zhong)各步(bu)驟結束(shu)時(shi)輸(shu)出 OUT

ARC_DET 檢出ARC時輸出 OUT

PASS 判(pan)定為(wei)PASS時輸(shu)出 OUT

TEST 測(ce)試(shi)中(zhong)輸(shu)出(有自定義(yi)功能(neng)) OUT

STOP 測(ce)試(shi)停止及(ji)PASS/FAIL解除(chu)保(bao)持(chi) IN

EXT_EN 外(wai)部I/O信(xin)號(hao)的輸(shu)入(ru)信號有效 IN

LOAD0

面(mian)板(ban)讀取(qu)

IN

LOAD2 IN

LOAD4 IN

LOAD6 IN

LD_VALID 執(zhi)行面板(ban)讀取(qu) IN

ISO_COM 絕(jue)緣電(dian)源(yuan)公(gong)共端(duan)口 –

READY 待機狀(zhuang)態時輸(shu)出 OUT

PROTECTION PROTECTION功能啟用(yong)時(shi)輸(shu)出 OUT

CONT_ERR 發生接觸(chu)錯誤時輸出 OUT

IR-FAIL 絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)中(zhong)FAIL狀(zhuang)態輸出 OUT

IR-MODE 絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)中(zhong)時(shi)輸(shu)出 OUT

PROG_END 程(cheng)序測(ce)試(shi)中(zhong)結(jie)束(shu)最(zui)終步(bu)驟時輸出 OUT

OUT0 通用(yong)輸(shu)出 OUT

OUT1 通用(yong)輸(shu)出 OUT

關(guan)於(yu)聯(lian)鎖(suo)

聯(lian)鎖(suo)是(shi)切(qie)斷本儀(yi)器(qi)輸出的功能。聯(lian)鎖(suo)功(gong)能(neng)運行時， START 鍵(jian)的操(cao)作(zuo)無(wu)效。

EXT.I/O的(de) START 信(xin)號和(he)通訊(xun)命(ming)令不能開始(shi)測(ce)試(shi)。

開(kai)始測(ce)試(shi)時(shi)，使(shi)用(yong)附(fu)帶的(de)聯(lian)鎖(suo)解除(chu)治具(ju)將其關(guan)閉(bi)。

IN：本儀(yi)器(qi)接收的輸入(ru)信號 OUT：本儀(yi)器(qi)發送的輸出信號

采(cai)用(yong)帶(dai)觸(chu)摸屏的7英(ying)寸(cun)彩(cai)色液(ye)晶

顯(xian)示(shi)屏(ping)，提高可(ke)視(shi)性(xing)並(bing)實現(xian)簡明

易懂的操(cao)作(zuo)。

I/O HANDLER測(ce)試(shi)功(gong)能

確(que)認(ren)EXT.I/O的(de)端子(zi)信(xin)號(hao)是(shi)否正常(chang)輸(shu)出，能否正常(chang)讀(du)取(qu)信(xin)號。

發(fa)送命(ming)令

接收命(ming)令

■ 技術參數 (精度(du)保(bao)證期：1年)

主要(yao)功(gong)能(neng)

直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)

絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)

絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)測(ce)試(shi)

波(bo)形顯(xian)示(shi)功(gong)能

ARC放電(dian)檢(jian)測(ce)功(gong)能(neng)

接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功(gong)能(neng)

直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)(DC Hipot Test)

輸(shu)出電(dian)壓(ya) DC0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨(bian)率)

輸(shu)出設置精(jing)度(du) ±(1.2% of setting + 20 V)

輸(shu)出電(dian)流/截(jie)止電(dian)流 10 mA max

電(dian)流精度(du)

3.00 mA ＜：±(1.5% rdg.＋2 µA)

≤ 3.00 mA：±1.5% rdg.

※環(huan)境溫度(du)t 低(di)於5℃時(shi)加±(1% rdg.×(5-t))

※環(huan)境溫度(du)t 超(chao)過35℃時(shi)加上(shang)±(1% rdg.×(t-35))

最(zui)小分(fen)辨(bian)率 0.001 µA

測(ce)試(shi)時(shi)間 0.1 s ～ 999 s，Continue(Timer OFF)

電(dian)壓(ya)上(shang)升/下(xia)降(jiang)時(shi)間 0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF

測(ce)試(shi)模(mo)式(shi) W→IR，IR→W，程(cheng)序測(ce)試(shi)

絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)(Insulation Resistance Test)

輸(shu)出電(dian)壓(ya) DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨(bian)率)

輸(shu)出設置精(jing)度(du) ±(1.2% of setting + 20 V)

電(dian)阻(zu)值顯(xian)示(shi)範圍(wei) 100.0 kΩ ～ 200.0 GΩ(0.01 kΩ分(fen)辨(bian)率)

精(jing)度(du)保(bao)證範圍(wei) 100.0 kΩ ～ 99.99 GΩ

電(dian)阻(zu)精度(du) ±(1.5% rdg. + 3 dgt.)*詳(xiang)情(qing)參考(kao)下(xia)部表(biao)格(ge)

測(ce)試(shi)時(shi)間 0.1 s ～ 999 s，Continue(Timer OFF)

電(dian)壓(ya)上(shang)升/下(xia)降(jiang)時(shi)間 0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF

絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)測(ce)試(shi)(Break Down Voltage Test)

測(ce)試(shi)方法(fa) 連(lian)續升壓(ya)測(ce)試(shi)，逐(zhu)級升壓(ya)測(ce)試(shi)

測(ce)量(liang)內容 絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)(kV)，絕(jue)緣擊穿的強度(du)(kV/mm)

設定內容 初始電(dian)壓(ya)，結束(shu)電(dian)壓(ya)，升壓(ya)速度(du)，ARC檢(jian)測(ce)，電(dian)極(ji)間距(ju)離，

電(dian)流上(shang)限值(zhi)

檢測(ce)有(you)效電(dian)壓(ya) 150 V以上(shang)

波形顯(xian)示(shi)功(gong)能

波形顯(xian)示(shi)內容 電(dian)壓(ya)，電(dian)流，絕(jue)緣電(dian)阻(zu)

采(cai)樣速(su)度(du) 最(zui)大(da)500 kS/s

波形顯(xian)示(shi)長(chang)度(du)設置 0.5 s ～ 128 s(9檔(dang))

存儲容(rong)量 512 k words

ARC放電(dian)檢(jian)測(ce)功(gong)能(neng)

檢(jian)測(ce)方式(shi) 監(jian)視(shi)試(shi)驗測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)的變(bian)動(dong)

設定內容 測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)變(bian)動(dong)率(lv)1％～50％

檢(jian)測(ce)有(you)效電(dian)壓(ya) 150 V以上(shang)

接觸(chu)檢(jian)查(zha)功(gong)能(neng)

檢測(ce)方式(shi) 靜(jing)電(dian)電(dian)容(rong)測(ce)量(liang)方式(shi)

設定內容 閥(fa)值(zhi)(電(dian)容(rong))的(de)設置　1.0 nF ～ 100.0 nF

存(cun)儲功能(neng)

波形·圖(tu)形保存 保存(cun)到(dao)U盤

保存(cun)格(ge)式(shi)：BMP、PNG、CSV文(wen)件(jian)

面(mian)板(ban)保存(cun)功能(neng)

將測(ce)試(shi)條(tiao)件保(bao)存(cun)在主機(ji)內存中(zhong)

直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)/絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)：最(zui)多64個(ge)

程(cheng)序測(ce)試(shi)：最(zui)多30個(ge)(最(zui)多50步(bu))

絕(jue)緣擊穿電(dian)壓(ya)測(ce)試(shi)：最(zui)多10個(ge)

數據(ju)存(cun)儲(chu)功能(neng) 測(ce)量(liang)值(zhi)保(bao)存在內存，最(zui)多32000個(ge)

判(pan)定功(gong)能

判(pan)定輸(shu)出

判(pan)定為(wei)PASS，判(pan)定為(wei)FAIL(UPPER FAIL，LOWER FAIL)

UPPER_FAIL：測(ce)量(liang)值(zhi)＞上(shang)限值(zhi)

PASS：上(shang)限值(zhi)≥測(ce)量(liang)值(zhi)≥下(xia)限(xian)值(zhi)

LOWER_FAIL：測(ce)量(liang)值(zhi)＜下(xia)限(xian)值(zhi)

主(zhu)要(yao)功(gong)能(neng)壹(yi)覽

聯(lian)鎖(suo) 與(yu)外(wai)部裝(zhuang)置聯(lian)動(dong)而(er)切(qie)斷輸(shu)出的功能

自動(dong)放(fang)電(dian) 測(ce)試(shi)結(jie)束(shu)時(shi)通(tong)過(guo)內部回(hui)路放電(dian) 放(fang)電(dian)電(dian)阻(zu)：700 kΩ

消除(chu)偏(pian)移(yi) 測(ce)量(liang)測(ce)試(shi)路徑(jing)上(shang)流過的(de)電(dian)流，從(cong)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)中(zhong)減(jian)去(qu)

測(ce)量(liang)速(su)度(du)變(bian)更功能(neng) NORMAL(100 ms)/ FAST(20 ms)/ FAST2(10 ms)

瞬(shun)時(shi)輸出 僅按下(xia)啟(qi)動(dong)鍵(jian)期間輸出測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)

命(ming)令監控(kong) 畫(hua)面顯(xian)示(shi)發(fa)送接收的命(ming)令

I/O HANDLER 確認(ren)EXT.I/O的(de)端子(zi)信(xin)號(hao)是(shi)否正常(chang)輸(shu)出，能否正常(chang)讀(du)取(qu)信(xin)號

按鍵(jian)鎖(suo)定 禁止變(bian)更測(ce)試(shi)條(tiao)件的(de)功(gong)能

自檢(jian) 確(que)認(ren)觸(chu)摸屏，畫面(mian)顯(xian)示(shi)，LED，主(zhu)機內存，EXT.I/O

校(xiao)準期限檢(jian)測(ce) 通(tong)過(guo)事先(xian)設置校(xiao)準期限，超(chao)過校(xiao)準期限會(hui)顯(xian)示(shi)警(jing)告(gao)

EXT SW 遠程(cheng)控(kong)制(zhi)

選件：遠程(cheng)控(kong)制(zhi)箱(單)9613，遠程(cheng)控(kong)制(zhi)箱(雙)9614

基(ji)本參數

使(shi)用(yong)溫濕度(du)範圍(wei) 0°C～40°C，80% RH或(huo)以下(xia)(無(wu)結(jie)露(lu))

適合標準 安(an)全(quan)性(xing)：IEC 61010

EMC：IEC 61326

電(dian)源(yuan)電(dian)壓(ya) AC 100 V ～ 240 V

功耗(hao)

約(yue)180 VA

※電(dian)源(yuan)條(tiao)件為(wei)電(dian)源(yuan)電(dian)壓(ya)220 V、電(dian)源(yuan)頻(pin)率 50/60 Hz、測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)、

測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)2.5 kV、負載電(dian)流5 mA(負載電(dian)阻(zu)500 kΩ)的情(qing)況下(xia)。

接(jie)口

通訊(xun)：USB，LAN，EXT. I/O

選(xuan)件：RS-232C(Z3001)，GP-IB(Z3000)

存儲：U盤

外(wai)形尺寸 305(W)×142(H)×430(D)mm(不含(han)突(tu)起(qi)物)

重(zhong)量 10.0 kg ± 0.2 kg

產品保(bao)修期 3年

附(fu)件

電(dian)源(yuan)線(xian)，CD-ROM(PDF：使(shi)用(yong)說(shuo)明(ming)書(shu)，通(tong)訊(xun)使(shi)用(yong)說(shuo)明(ming)書(shu))，

EXT.I/O用(yong)公(gong)頭(tou)連(lian)接(jie)器(qi)，EXT.I/O用(yong)連(lian)接(jie)器(qi)蓋(gai)，

EXT.I/O用(yong)聯(lian)鎖(suo)解除(chu)治具(ju)，啟(qi)動(dong)指(zhi)南(nan)

僅(jin)有主機無法(fa)測(ce)量(liang)。由(you)於(yu)HIGH端子(zi)/LOW端(duan)子(zi)為(wei)HIOKI專(zhuan)用(yong)連(lian)接(jie)器(qi)，因(yin)此

只(zhi)能連(lian)接(jie)本公(gong)司的(de)選(xuan)件(jian)L2260或L2261。請(qing)根據(ju)測(ce)量(liang)目(mu)的(de)購(gou)買選件測(ce)試(shi)線(xian)。

直流耐壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi) ST5680EOL

絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)精(jing)度(du)※(精(jing)度(du)保(bao)證測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)範圍(wei)：50 V ~ 1000 V) 品名(ming)

IR

測(ce)量(liang)範圍(wei) 100 kΩ ～ 99.99 GΩ

精(jing)度(du)

10 nA ≤ I ≤ 3 µA 100 MΩ ～ 999.9 MΩ

±(20% rdg.) 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ

100 nA ≤ I ≤ 30 µA 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ

±(5% rdg.) 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ

1 µA ≤ I ≤ 300 µA 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ

±(2% rdg. + 5 dgt.) 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ

10 µA ≤ I ≤ 3 mA 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ

1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ ±(1.5% rdg. + 3 dgt.)

100 µA ≤ I ≤ 10 mA 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ

※測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)為50 V～99 V時(shi)，測(ce)量(liang)精(jing)度(du)加上(shang)±10% ※測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)為100 V～999 V時(shi)，測(ce)量(liang)精(jing)度(du)加上(shang)±5%

※測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)為1000 V～2000 V時(shi)，測(ce)量(liang)精(jing)度(du)加上(shang)±2% ※測(ce)量(liang)速(su)度(du)為(wei)FAST2時，測(ce)量(liang)精(jing)度(du)×2倍(bei)

※環境溫度(du)t低(di)於5 ℃時(shi)，加上(shang)測(ce)量(liang)電(dian)流I<100 nA：±(5%rdg.×(5-t))或加上(shang)測(ce)量(liang)電(dian)流I≥100 nA：±(1%rdg.×(5-t))

※環境溫度(du)t超(chao)過35℃時(shi)，加上(shang)測(ce)量(liang)電(dian)流I<100 nA：±(5%rdg.×(t-35))或加上(shang)測(ce)量(liang)電(dian)流I≥100 nA：±(1%rdg.×(t-35))

通信(xin)電(dian)纜·通(tong)信(xin)接(jie)口

RS-232C電(dian)纜 L9637

外(wai)部控(kong)制(zhi)用(yong)，雙(shuang)重(zhong)屏(ping)蔽(bi)，9pin- 9pin，導(dao)線(xian)長3 m

RS-232接口Z3001

*RS-232C連(lian)接(jie)線(xian)可(ke)用(yong)於(yu)連(lian)鎖(suo)的(de)交(jiao)叉線(xian)。RS232C連(lian)接(jie)線(xian)9637(9針-9針，交叉型(xing))

GP-IB接(jie)口Z3000

外(wai)部控(kong)制(zhi)用(yong)

GP-IB連(lian)接(jie)線(xian)9151-02

2m長

測(ce)量(liang)·控(kong)制(zhi)

單側無接(jie)頭(tou)測(ce)試(shi)線(xian)L2261

無接頭(tou)-特殊(shu)連(lian)接(jie)器(qi)，紅黑(hei)，5m

高壓(ya)測(ce)試(shi)線(xian)L2260

夾(jia)子(zi)-特(te)殊(shu)連(lian)接(jie)器(qi)，紅黑(hei)，1.5m

遠程(cheng)控(kong)制(zhi)箱(雙) 9614

開(kai)始(shi)/停止控(kong)制(zhi)用(yong)，雙(shuang)手(shou)用(yong)，1.5m

遠程(cheng)控(kong)制(zhi)箱(單) 9613

開(kai)始(shi)/停止控(kong)制(zhi)用(yong),，單(dan)手(shou)用(yong)，1.5m