基礎信息(xi)Product information

產(chan)品(pin)名(ming)稱(cheng)：LCR測(ce)試(shi)儀日(ri)本HIOKI日(ri)置IM3536電(dian)橋(qiao)

產(chan)品(pin)型(xing)號：

更新時(shi)間(jian)：2025-06-11

產(chan)品(pin)簡(jian)介：

LCR測(ce)試(shi)儀日(ri)本HIOKI日(ri)置IM3536電(dian)橋(qiao)
測量頻(pin)率(lv)DC，4 Hz〜8 MHz的LCR測(ce)試(shi)儀
測(ce)量(liang)頻(pin)率(lv)DC，4Hz~8MHz 測量(liang)時間：最快1ms 基本精(jing)度(du)：±0.05%

產(chan)品(pin)特(te)性Product characteristics

堅(jian)融實(shi)業(ye)——通過(guo)德(de)國TUV認證(zheng)供(gong)應商!

堅(jian)融實(shi)業(ye)——專(zhuan)註工(gong)業測試(shi)行業(ye)十(shi)六年(nian)!

堅(jian)融實(shi)業(ye)——擁有替(ti)代進(jin)口(kou)品(pin)牌儀器儀表(biao)設(she)備及(ji)非標(biao)定制(zhi)的OEM工(gong)廠!

堅(jian)融實(shi)業(ye)——儀器儀表(biao)設(she)備代(dai)理(li)經(jing)銷(xiao)商中(zhong)唯YI 壹家有技術(shu)支(zhi)持工(gong)程(cheng)師的公(gong)司!

堅(jian)融實(shi)業(ye)——實繳註冊資(zi)金(jin)人民幣(bi)壹(yi)仟(qian)萬(wan)元整(zheng)！實(shi)繳資本同(tong)行(xing)業中(zhong)居全(quan)國Q三!

堅(jian)融實(shi)業(ye)——抗金(jin)融風(feng)險(xian)實力(li)超(chao)Q，且為(wei)行業(ye)裏極少數通過(guo)會(hui)計事(shi)務(wu)所嚴格(ge)審計(ji)的(de)公司，公(gong)司遵(zun)紀(ji)守(shou)法，用(yong)戶合(he)作(zuo)安(an)全(quan)可(ke)靠(kao)!

堅(jian)融實(shi)業(ye)——致(zhi)力(li)於為(wei)祖國用(yong)戶提(ti)供(gong)儀器設(she)備售(shou)前(qian)演示實(shi)測、測(ce)試(shi)方(fang)案應用(yong)、技術(shu)使用(yong)培(pei)訓(xun)及(ji)售(shou)後維(wei)修計(ji)量(liang)，全(quan)面(mian)服(fu)務(wu)的(de)儀(yi)器設(she)備綜合服(fu)務(wu)商!

LCR測(ce)試(shi)儀日(ri)本HIOKI日(ri)置IM3536電(dian)橋(qiao)

測(ce)量頻(pin)率(lv)DC，4 Hz〜8 MHz的LCR測(ce)試(shi)儀

測(ce)量頻(pin)率(lv)DC，4Hz~8MHz 測量(liang)時間：最快1ms 基本精(jing)度(du)：±0.05% rdg 1mΩ以(yi)上的(de)精(jing)度(du)保證(zheng)，可(ke)測(ce)量(liang)低(di)阻(zu) 可(ke)內(nei)部發生DC偏壓(ya)測量(liang)。

測(ce)量頻(pin)率(lv)DC，4Hz~8MHz

測(ce)量時間：最快1ms

基(ji)本精(jing)度(du)：±0.05% rdg

1mΩ以(yi)上的(de)精(jing)度(du)保證(zheng)範(fan)圍，也(ye)可(ke)安(an)心(xin)進(jin)行(xing)低阻測量(liang)

可(ke)內(nei)部發生DC偏壓(ya)測量(liang)

從研發(fa)到(dao)生產(chan)線活躍(yue)在各種(zhong)領(ling)域(yu)中(zhong)

主機不標(biao)配(pei)測(ce)試(shi)治具。請在選件中(zhong)選擇測試(shi)治具和(he)探(tan)頭。

電(dian)解(jie)電(dian)容(rong)器的電(dian)容(rong)測量(liang)：LCR測試(shi)儀IM3536

根(gen)據JIS標(biao)準測(ce)試(shi)電(dian)解(jie)電(dian)容(rong)器，電(dian)解(jie)電(dian)容(rong)的電(dian)容(rong)值在不同(tong)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)下容(rong)值差異較大，因(yin)此(ci)需要根據實際(ji)回(hui)路的工(gong)作(zuo)頻(pin)率(lv)來(lai)確(que)認(ren)電(dian)容(rong)值。

LCR測(ce)試(shi)儀IM3536寬(kuan)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)範(fan)圍DC,4Hz~8MHz，適(shi)用(yong)於(yu)以(yi)上產(chan)品(pin)特(te)性評(ping)估(gu)。

陶(tao)瓷電(dian)容(rong)器的電(dian)容(rong)測量(liang)：LCR測試(shi)儀IM3536

陶(tao)瓷電(dian)容(rong)器可(ke)分(fen)為(wei)，隨電(dian)壓(ya)變(bian)化(hua)的(de)高(gao)介電(dian)常數型和溫度(du)補償型。JIS標(biao)準針(zhen)對兩(liang)種(zhong)陶(tao)瓷電(dian)容(rong)特(te)性有(you)不同(tong)的(de)測試(shi)要求。使用(yong)LCR測(ce)試(shi)儀IM3536的(de)頻(pin)率(lv)範(fan)圍DC,4Hz~8MHz，內(nei)置電(dian)壓(ya)範(fan)圍10mV~5V，非常適(shi)合(he)用(yong)於(yu)以(yi)上兩(liang)種(zhong)不同(tong)要求的電(dian)容(rong)測試(shi)。

電(dian)感(gan)器（線圈）的(de)電(dian)感(gan)測量：LCR測試(shi)儀IM3536

電(dian)感(gan)器（線圈）所具備(bei)的(de)電(dian)感(gan)和線圈的(de)寄生電(dian)容(rong)中(zhong)將LC共(gong)振(zhen)現象稱(cheng)為(wei)自諧(xie)振(zhen)。 將產(chan)生這(zhe)種(zhong)自(zi)諧振的頻(pin)率(lv)稱為(wei)自諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)。在評(ping)估線圈時(shi)請在比自諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)更低(di)的(de)頻(pin)率(lv)下測量(liang)L和Q。

LCR測(ce)試(shi)儀IM3536的(de)測(ce)量(liang)頻(pin)率(lv)很廣(guang)，可(ke)以(yi)設(she)置為(wei)DC、4 Hz～8 MHz，可(ke)以(yi)任意改變(bian)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)進(jin)行(xing)測試(shi)。

測(ce)量電(dian)感(gan)器的頻(pin)率(lv)特(te)性：LCR測(ce)試(shi)儀IM3536

LCR測(ce)試(shi)儀IM3536的(de)測(ce)量(liang)頻(pin)率(lv)較廣(guang)，可(ke)以(yi)設(she)置為(wei)DC、4 Hz～8 MHz，非常適(shi)合(he)於評(ping)估連續改變(bian)頻(pin)率(lv)的測(ce)量。在計(ji)算機中(zhong)安(an)裝附件LCR采用(yong)應用(yong)軟(ruan)件（CD-R），並通(tong)過(guo)接(jie)口(kou)（USB, GP-IB, RS-232C），可(ke)以(yi)進(jin)行(xing)掃頻(pin)功(gong)能，自動(dong)測(ce)量(liang)出(chu)的測(ce)量數值能夠以(yi)Excel或(huo)CSV格(ge)式進(jin)行(xing)保存。

寬(kuan)廣範(fan)圍的(de)測(ce)量條(tiao)件下，非常適(shi)用(yong)於(yu)進(jin)行(xing)研發(fa)和評(ping)估實(shi)際使用(yong)條(tiao)件的LCR測(ce)試(shi)儀

寬(kuan)頻(pin)率(lv)範(fan)圍的(de)LCR非常適(shi)用(yong)於(yu)研發(fa)和評(ping)估不同(tong)工(gong)作(zuo)頻(pin)率(lv)範(fan)圍下壓(ya)電(dian)元器件和線圈等的諧振(zhen)頻(pin)率(lv)。推薦(jian)用(yong)於(yu)評(ping)估(gu)壓(ya)電(dian)元件和線圈的(de)共(gong)振(zhen)頻(pin)率(lv)。若使用(yong)應用(yong)軟(ruan)件※則能(neng)夠簡(jian)單(dan)的(de)對頻(pin)率(lv)、電(dian)壓(ya)和電(dian)流進(jin)行(xing)掃描和測(ce)量(liang)。

可(ke)變(bian)頻(pin)率(lv)：DC, 4 Hz〜8 MHz

電(dian)壓(ya)可(ke)變(bian)：10 mV〜5 V（V模(mo)式/CV模(mo)式）

電(dian)流可(ke)變(bian)：10 μA〜100 mA（CC模(mo)式）

※能(neng)夠使用(yong)計(ji)算(suan)機設(she)置掃頻(pin)（或(huo)電(dian)壓(ya)、電(dian)流），並(bing)將測(ce)量(liang)數據以(yi)CSV或(huo)Excel格(ge)式保(bao)存。應用(yong)軟(ruan)件請使用(yong)標(biao)配(pei)的(de)CD進(jin)行(xing)安(an)裝，或(huo)從HP中(zhong)下載(zai)。

連(lian)續測量(liang)功能(neng)

希(xi)望以(yi)1kHz檢查(zha)電(dian)源(yuan)電(dian)感(gan)的L-Q，還想檢(jian)查(zha)直流電(dian)阻(zu)（Rdc）。這時，1臺IM3536就(jiu)可(ke)以(yi)在2種(zhong)測(ce)試(shi)要求下進(jin)行(xing)連續高(gao)速測試(shi)。

LCR測(ce)試(shi)儀在自(zi)動(dong)化(hua)產(chan)線中(zhong)測試(shi)可(ke)靠(kao)：測(ce)試(shi)線補償

線長(chang)補償設(she)置可(ke)設(she)置為(wei)：0 m / 1 m / 2 m / 4 m。測試(shi)線延長(chang)時也(ye)能保證(zheng)精(jing)度(du)。

LCR測(ce)試(shi)儀在自(zi)動(dong)化(hua)產(chan)線中(zhong)測試(shi)可(ke)靠(kao)：接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功能

4端(duan)子(zi)測量(liang)時(shi)，預(yu)先設(she)置判斷測(ce)試(shi)端(duan)與被測(ce)物的(de)接(jie)觸(chu)狀(zhuang)態。 測(ce)量LPOT〜LCUR間和HPOT〜HCUR間的接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)，並在超(chao)過(guo)所設(she)閾值(zhi)時(shi)發(fa)出(chu)報警(jing)信(xin)號。

精(jing)度(du)計算軟(ruan)件

僅(jin)需輸入(ru)數值即可(ke)輕(qing)松(song)計(ji)算(suan)精(jing)度(du)。

LCR測(ce)試(shi)儀精(jing)度(du)計算軟(ruan)件

Multi-plot

該軟(ruan)件能利(li)用(yong)既(ji)定(ding)模(mo)型(xing)解(jie)析電(dian)池(chi)阻抗數據的等效回(hui)路。擅(shan)長(chang)解(jie)析Li-lon電(dian)池(chi)，特(te)別是(shi)數十(shi)mΩ的阻抗(kang)數據。該Web軟(ruan)件可(ke)將數個阻抗數據同(tong)時(shi)繪制(zhi)在Nyquist (Cole-Cole)或(huo)Bode plot上(shang)。 下載(zai)csv文件即可(ke)獲(huo)取解(jie)析結(jie)果(guo)。

LCR測(ce)試(shi)儀日(ri)本HIOKI日(ri)置IM3536電(dian)橋(qiao)基本參(can)數

測(ce)量模(mo)式LCR（單(dan)壹條(tiao)件下測量(liang)），連續測量(liang)（保存條(tiao)件下連續測量(liang)）

測(ce)量參(can)數 Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電(dian)阻(zu)），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

測(ce)量量程(cheng)100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程(cheng)（所有參(can)數由Z規定）

顯(xian)示範(fan)圍Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

基(ji)本精(jing)度(du)Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表(biao)值，精(jing)度(du)保證(zheng)範(fan)圍：1mΩ~200MΩ）

測(ce)量頻(pin)率(lv)4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進(jin))

測(ce)量信號電(dian)平(ping)[V模(mo)式, CV模(mo)式]的(de)[通常模(mo)式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA)

1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA)

[V模(mo)式, CV模(mo)式]的(de)[低Z高(gao)精(jing)度(du)模(mo)式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA)

[CC模(mo)式]的(de)[通常模(mo)式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V)

1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V)

[CC模(mo)式]的(de)[低Z高(gao)精(jing)度(du)模(mo)式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V)

[直流電(dian)阻(zu)測量]: 1 V固定

DC偏壓(ya)發生範(fan)圍：DC電(dian)壓(ya)0~2.50 V (低Z高(gao)精(jing)度(du)模(mo)式時(shi)0 ~1 V)

輸(shu)出(chu)阻抗(kang)通常模(mo)式：100 Ω, 低(di)Z高(gao)精(jing)度(du)模(mo)式: 10 Ω

顯(xian)示彩色TFT5.7英寸，觸(chu)摸屏(ping)

功(gong)能比較器、BIN測量（2個項目(mu)10種(zhong)分(fen)類），觸發功(gong)能(neng)、開(kai)路·短(duan)路補(bu)償、接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)、面(mian)板(ban)保(bao)存·讀取功能、存儲(chu)功(gong)能

接(jie)口(kou)EXT I/O (處理(li)器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸(shu)出(chu)

電(dian)源(yuan)AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

體(ti)積(ji)及(ji)重(zhong)量330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

附(fu)件電(dian)源(yuan)線×1,使用(yong)說(shuo)明書×1,CD-R（通訊說(shuo)明書，LCR應用(yong)光(guang)盤）×1