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      <small id="nxG8kb"><tt id="nxG8kb"></tt></small>

      1. <dl id="nxG8kb"></dl>

        1. 產(chan)品(pin)中(zhong)心您當前(qian)的(de)位(wei)置:首頁 > 產(chan)品(pin)中(zhong)心 > DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測試(shi) > 靜(jing)電(dian)場/靜(jing)電(dian)消(xiao)散/離(li)子(zi)平衡 > CTM048-21靜電(dian)事件探(tan)測儀EM EYE SCS

          基礎信(xin)息(xi)Product information

          產(chan)品(pin)名(ming)稱:CTM048-21靜(jing)電(dian)事件探(tan)測儀EM EYE SCS

          產(chan)品(pin)型(xing)號:

          更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-06-11

          產(chan)品(pin)簡介(jie):

          CTM048-21靜(jing)電(dian)事件探(tan)測儀EM EYE SCS多種功(gong)能,可(ke)以(yi)測試(shi)ESD(靜(jing)電(dian)放電(dian))事件,EMF(電(dian)磁(ci)場),RF(射(she)頻(pin))信(xin)號(hao)

          產(chan)品(pin)特(te)性Product characteristics

          堅(jian)融(rong)實業(ye)——上(shang)海市(shi)先(xian)JIN企業(ye)!

          堅(jian)融(rong)實業(ye)——通(tong)過(guo)德(de)國TUV萊(lai)茵認證供應(ying)商!

          堅(jian)融(rong)實業(ye)——專註(zhu)工(gong)業測(ce)試(shi)行(xing)業十六年!

          堅(jian)融(rong)實業(ye)——擁(yong)有(you)替代進(jin)口(kou)品(pin)牌(pai)儀器儀表設備及非標(biao)定制(zhi)的(de)OEM工(gong)廠(chang)!

          堅(jian)融(rong)實業(ye)——儀器儀表設備代理(li)經(jing)銷(xiao)商(shang)中唯(wei)YI 壹家有(you)技(ji)術(shu)支持工(gong)程師(shi)的(de)公司(si)!

          堅(jian)融(rong)實業(ye)——實繳註(zhu)冊(ce)資(zi)金人(ren)民(min)幣壹(yi)仟(qian)萬(wan)元整!實繳資(zi)本(ben)同(tong)行(xing)業中(zhong)居(ju)全(quan)國(guo)QIAN三!

          堅(jian)融(rong)實業(ye)——抗(kang)金融風險實力(li)超QIANG,且為行(xing)業裏極少數(shu)通過(guo)會計(ji)事務所嚴(yan)格(ge)審計(ji)的(de)公司(si),公(gong)司(si)遵(zun)紀守法,用戶合(he)作(zuo)安(an)全(quan)可(ke)靠!

          堅(jian)融(rong)實業(ye)——致(zhi)力(li)於(yu)為祖(zu)國用戶提供儀器設備售(shou)前演(yan)示實測(ce)、測(ce)試(shi)方(fang)案(an)應(ying)用、技(ji)術(shu)使用培(pei)訓及(ji)售(shou)後維修(xiu)計(ji)量(liang),全面服務(wu)的(de)儀器設備綜(zong)合(he)服(fu)務(wu)商(shang)!


          CTM048-21靜(jing)電(dian)事件探(tan)測儀EM EYE SCS

          探(tan)測靜電(dian)放電(dian)次(ci)數(shu),探(tan)測靜電(dian)放電(dian)電(dian)壓 ,可選 HBM、MM、CDM 模(mo)式(shi)

          品(pin)牌(pai):SCS(DESCO 子(zi)品(pin)牌(pai))


           註(zhu)意(yi)!

          不(bu)要(yao)使用任(ren)何工(gong)具裝(zhuang)卸傳(chuan)感器模(mo)塊(kuai)和天(tian)線,徒(tu)手即(ji)可(ke),裝(zhuang)卸時(shi)動作(zuo)輕柔(rou)

          在(zai)開機狀態(tai)下(xia)不(bu)要(yao)拔(ba)插(cha)傳感器模(mo)塊(kuai)和天(tian)線,也(ye)不(bu)要(yao)拔(ba)插(cha) SD 卡(ka)

          使(shi)用儀器時(shi)要小(xiao)心輕放,避(bi)免跌落(luo)

          天(tian)線不(bu)要(yao)觸碰(peng)到(dao)帶(dai)電(dian)體(ti)

          避(bi)免硬(ying)物劃傷(shang)屏幕

          初(chu)次(ci)使用時(shi),對(dui)電(dian)池進(jin)行(xing) 2 次(ci)全充(chong)-放電(dian)循環,以(yi)延長電(dian)池壽命

          電(dian)池充(chong)滿(man)時(shi)間(jian)為 2 小(xiao)時(shi)左右

          不(bu)要(yao)使用第(di)三方(fang)電(dian)源適(shi)配(pei)器(qi),有(you)可(ke)能造(zao)成儀器損(sun)壞(huai)

          如(ru)果(guo)儀器死機,可用回(hui)形針頂壹(yi)下儀器底(di)部的(de)重(zhong)置鍵


          1. 產(chan)品(pin)描(miao)述(shu)

          CTM048-21靜(jing)電(dian)事件探(tan)測儀EM EYE SCS是壹款(kuan)靜電(dian)事件探(tan)測儀,可以(yi)測試(shi)靜(jing)電(dian)放電(dian)的(de)次(ci)數(shu)和放電(dian)電(dian)壓。儀器具(ju)有(you)分辨信(xin)號(hao)的(de)能力,區(qu)分 EMI 和 ESD 信(xin)號(hao),剔(ti)除(chu)非 ESD 相關事件。用戶可以(yi)選擇(ze)測(ce)試(shi) CDM、HBM、MM 放(fang)電(dian)模(mo)型(xing),儀器根(gen)據放(fang)電(dian)模(mo)型(xing)、探(tan)測距離(li)和信(xin)號(hao)強(qiang)度(du)計(ji)算(suan)出(chu)大致(zhi)的(de)放電(dian)電(dian)壓。

          1 主(zhu)機身

          2 SD 內存卡(ka)(已(yi)插(cha)入主機身)

          3 CTC021 探(tan)測模(mo)塊(kuai)(含(han) CTS001 天(tian)線)

          4 CTC113-6FT 遠(yuan)端(duan)全(quan)向天(tian)線,1.8 米(mi)長纜線

          5 電(dian)源適(shi)配(pei)器(qi)

          6 CTC115-6FT 遠(yuan)端(duan)全(quan)向天(tian)線,抗(kang)高(gao)溫(wen),1.8 米(mi)長纜線

          標(biao)配(pei):○1 +○2 +○3 +○4 +○5

          選(xuan)配(pei):○6



          2. 部件(jian)功(gong)能及(ji)安(an)裝(zhuang)

          備(bei)註(zhu):

           CTS001 為定(ding)向(xiang)天(tian)線,只(zhi)可以(yi)探(tan)測到(dao)正(zheng)前方(fang)的(de)信(xin)號(hao)

           CTC113 為全(quan)向(xiang)天(tian)線,可(ke)以(yi)探(tan)測到(dao) 360 度(du)任(ren)何(he)方(fang)向(xiang)的(de)信(xin)號(hao)

           如(ru)果(guo)需(xu)要(yao)探(tan)測高(gao)溫(wen)區(qu)域(yu)的(de)靜電(dian)放電(dian)事件,選購 CTC115 高(gao)溫(wen)天(tian)線

           如(ru)果(guo)新(xin)機沖不(bu)了(le)電(dian),把電(dian)源適(shi)配(pei)器(qi)插(cha)上(shang),然後頂 1 下(xia)重(zhong)置鍵激(ji)活(huo)電(dian)池


          CTC113 遠(yuan)端(duan)天(tian)線(全(quan)向天(tian)線),如(ru)果需(xu)要(yao)探(tan)測狹(xia)窄(zhai)空(kong)間(jian),可(ke)采(cai)用該(gai)天(tian)線


          3. 觸(chu)控(kong)屏操作

           開機:手指(zhi)按(an)住(zhu)顯示屏任意(yi)位(wei)置 3 秒(miao)

           關機:手指(zhi)按(an)住(zhu) Power/C 鍵 4 秒(miao)

          1 弧(hu)形圓點(dian),示意(yi) 10 個級(ji)別(bie)的(de)放電(dian)強度(du),點(dian)擊(ji)可(ke)設置報警閾(yu)值(zhi)

          2 閃(shan)電(dian)/三角(jiao)符(fu)號(hao):點擊可切(qie)換(huan)符(fu)號(hao)

          閃(shan)電(dian)符(fu)號(hao),只(zhi)顯示靜電(dian)相關放電(dian)事件(ESD)

          三角(jiao)符(fu)號(hao),顯示所有(you)放(fang)電(dian)事件(包含(han) ESD 和 EMI)

          3 探(tan)測距離(li):天(tian)線到(dao)被(bei)測(ce)試(shi)物(wu)/測(ce)試(shi)點(dian)的(de)距離(li),點(dian)擊可(ke)設置距離(li)

          4 聲(sheng)音(yin)符(fu)號(hao):點擊該符(fu)號(hao)可選擇(ze)報(bao)警聲(sheng)類(lei)型及(ji)音(yin)量。鈴鐺符(fu)號(hao)為“叮鈴"聲,只(zhi)有(you)壹(yi)個音(yin)量,不(bu)能(neng)調節(jie)。

          點(dian)擊(ji)切(qie)換(huan)成喇(la)叭(ba)符(fu)號(hao),這(zhe)時(shi)的(de)儀器發(fa)出(chu)類(lei)似收音(yin)機調頻(pin)聲,聲(sheng)音(yin)根據信(xin)號(hao)強(qiang)度(du)的(de)大小變(bian)化。繼(ji)續點(dian)擊(ji)可(ke)以(yi)調節(jie)音(yin)量大(da)小(xiao),在喇(la)叭(ba)上(shang)出(chu)現(xian)叉,表示靜音(yin)。

          5 Power/C 按(an)鍵(jian):單擊該(gai)鍵(jian)屏幕清零(ling);按(an)住(zhu)該鍵(jian) 4 秒(miao)關機

          6 Menu/F 按(an)鍵(jian):點擊(ji)進(jin)入儀器基本設置界面

          7 Hold 按(an)鍵(jian):點擊(ji) 1 次(ci)鎖定(ding)當前(qian)值(zhi);再(zai)點擊(ji) 1 次(ci)標(biao)識該值(zhi)為最(zui)大(da)值(zhi);再(zai)點擊(ji) 1 次(ci)取消(xiao)鎖定(ding)

          8 時(shi)間(jian):顯(xian)示當前時(shi)間(jian)

          9 電(dian)量符(fu)號(hao):示意(yi)剩余(yu)電(dian)量;點(dian)擊(ji)該(gai)符(fu)號(hao)設置日期(qi)和時(shi)間(jian)

          10 內存卡(ka)符(fu)號(hao):點擊該符(fu)號(hao),進入查看(kan)界面,可以(yi)查看(kan)測試(shi)記錄

          11 放(fang)電(dian)模(mo)型(xing):點(dian)擊(ji)進(jin)入設置界面,可以(yi)選擇(ze) CDM、MM、HBM 放(fang)電(dian)模(mo)型(xing)或(huo) Raw Input(信(xin)號(hao)電(dian)平)

          12 靜(jing)電(dian)放電(dian)電(dian)壓值(zhi)



          3.1. 開機界面

          按(an)住(zhu)屏幕任意(yi)位(wei)置大概(gai) 3 秒(miao)後儀器開機。開機後先顯(xian)示儀器固(gu)件(jian)號,如下所(suo)示:

          稍(shao)後,進入待機界面。如果(guo)未插(cha)入 SD 卡(ka)或(huo)不(bu)能(neng)識別(bie) SD 卡(ka),出(chu)現(xian)以(yi)下提示:

          無 SD 卡(ka)也(ye)可以(yi)正(zheng)常使(shi)用該(gai)儀器,但(dan)測試(shi)數(shu)據不(bu)會(hui)被保(bao)存。點(dian)擊黃(huang)色(se)區(qu)域(yu)關閉提(ti)示窗口(kou)並進(jin)入待機界面。

          註(zhu)意(yi)!拔(ba)插(cha) SD 卡(ka)時(shi),儀器處(chu)於(yu)關機狀態(tai)。

          3.2. 儀器基本設置

          點(dian)擊(ji) Menu/F 鍵(jian)進(jin)入基本設置界面,顯示如下:

           第(di)壹行(xing)顯示儀器主(zhu)板(ban)編(bian)號

           第(di)二行(xing)為屏幕亮(liang)度(du),點(dian)擊(ji)圓盤(pan)的(de)◄/►增加或(huo)降低(di)亮(liang)度(du),默認 50%

           點(dian)擊(ji)▲/▼滾(gun)動(dong)到(dao)第(di)三行(xing)“Off time"項(xiang),設置自(zi)動關機時(shi)間(jian)(默認 5 分鐘(zhong)),點擊◄/►改變(bian)時(shi)間(jian),壹(yi)直(zhi)點(dian)擊(ji)◄到(dao) 0,表示不(bu)啟(qi)用自(zi)動關機功(gong)能

           點(dian)擊(ji)▲/▼滾(gun)動(dong)到(dao)第(di)四行(xing)“Local antenna"項(xiang),點擊◄/►切換(huan) Local antenna/Remote antenna

           Local antenna:采(cai)用 CTS001 定(ding)向天(tian)線時(shi)選擇(ze)該(gai)項(xiang)

           Remote antenna:采(cai)用 CTC113 或(huo) CTC115 遠(yuan)端(duan)全(quan)向天(tian)線時(shi)選擇(ze)該(gai)項(xiang)

           設置完成(cheng)後,點擊(ji)圓盤(pan)中(zhong)間(jian)的(de)8 返(fan)回待機界面


          Display Module

          KW H028 Q27-F02

          Firmware Rev. 2.06

          Desco Industries

          2015

          WARNING:

          No memory card.

          You can add it any time.

          Click here to close the

          Window.

          Hardware Setup

          Power

          C 08:30

          S/N 16065 CRC=00A7A9C9

          Brightness: 50%

          Off time: 5 min

          Local antenna

          儀器基本設置界面

          3.3. 設置日期(qi)和時(shi)間(jian)

          點(dian)擊(ji)電(dian)池符(fu)號(hao)進入日期(qi)和時(shi)間(jian)設置界面,顯示如下:

           第(di)壹行(xing)設置時(shi)間(jian),點(dian)擊(ji)圓盤(pan)▲/▼改(gai)變(bian)數(shu)值(zhi),點(dian)擊◄/►移(yi)動光(guang)標(biao)向前(qian)或(huo)向(xiang)後

           第(di)二行(xing)設置日期(qi),格(ge)式為:月/日(ri)/年(08/15/16 表示 2016 年 8 月 15 日(ri))

           第(di)三行(xing)選擇(ze) 12/24 小(xiao)時(shi)制(zhi),點(dian)擊(ji)▲/▼選(xuan)擇(ze) 12H 或(huo) 24H

           設置完成(cheng)後,點擊(ji)圓盤(pan)中(zhong)間(jian)的(de)8 返(fan)回待機界面


          4. 測(ce)試(shi)靜(jing)電(dian)放電(dian)(ESD)事件

          4.1. 設置探(tan)測距離(li)和放電(dian)模(mo)型(xing)

          儀器采(cai)用專LI的(de)算(suan)法,根據探(tan)測距離(li)、獲(huo)得(de)信(xin)號(hao)強(qiang)度(du)和放電(dian)模(mo)型(xing)計(ji)算(suan)出(chu)大致(zhi)的(de)放電(dian)電(dian)壓。用戶需要設置探(tan)測距離(li)和放電(dian)模(mo)型(xing)。

          探(tan)測距離(li):

          天(tian)線距離(li)被(bei)測試(shi)物(wu)/測(ce)試(shi)點(dian)的(de)距離(li),設置範圍(wei) 0.5~15.0 英(ying)寸(cun)(1.3~38.1cm)

          註(zhu)意(yi):實際(ji)測(ce)試(shi)時(shi),天(tian)線距離(li)被(bei)測試(shi)物(wu)/測(ce)試(shi)點(dian)應(ying)該為所(suo)設置的(de)距離(li)。

          放(fang)電(dian)模(mo)型(xing):

          ² CDM:器(qi)件(jian)本(ben)身(shen)帶有(you)靜(jing)電(dian),當接(jie)觸(chu)到(dao)接(jie)地(di)導體(ti)或(huo)其他(ta)電(dian)位(wei)導(dao)體(ti)時(shi)發生靜(jing)電(dian)放電(dian)

          ² MM:帶(dai)靜(jing)電(dian)的(de)設備或工(gong)具接(jie)觸(chu)到(dao)接(jie)地(di)的(de)器件,發(fa)生靜(jing)電(dian)放電(dian)

          ² HBM:帶(dai)靜(jing)電(dian)的(de)人(ren)體(ti)接(jie)觸(chu)到(dao)接(jie)地(di)的(de)器件,發(fa)生靜(jing)電(dian)放電(dian)

          ² Raw Input:天(tian)線所(suo)獲得(de)的(de)實際(ji)信(xin)號(hao)強(qiang)度(du)(電(dian)平信(xin)號(hao)),該(gai)讀(du)數(shu)用於(yu)儀器校(xiao)準(zhun)

          Time-Date Setup

          Power

          C 08:30

          Time: 14:06

          Date: 08/15/16

          Mode: 24 H

          設置日期(qi)和時(shi)間(jian)

          點(dian)擊(ji)屏幕的(de)距離(li)或(huo)放電(dian)模(mo)型(xing)方(fang)框(kuang),進入設置界面,屏幕顯示如下:

          ² 點(dian)擊(ji)圓盤(pan)▲/▼設置探(tan)測距離(li),選(xuan)擇(ze)範(fan)圍 0.5~15.0 英(ying)寸(cun)(1.3cm~38.1cm),0.5 英(ying)寸(cun)以(yi)下,每(mei)點擊(ji) 1 次(ci)

          遞增 0.5 英寸(cun);10 英(ying)寸(cun)以(yi)上(shang),每(mei)點擊(ji) 1 次(ci)遞增 1 英寸(cun)。

          ² 點(dian)擊(ji)圓盤(pan)◄/►設置放電(dian)模(mo)型(xing),可(ke)以(yi)選擇(ze) CDM、MM、HBM、Raw Input

          ² 設置完成(cheng)後,點擊(ji)圓盤(pan)中(zhong)間(jian)的(de)8 返(fan)回待機界面

          4.2. 報(bao)警閾(yu)值(zhi)設置

          點(dian)擊(ji)弧(hu)形圓點(dian),進(jin)入設置界面。(備註(zhu):儀器內存只(zhi)記錄超過(guo)閾(yu)值(zhi)的(de)靜電(dian)放電(dian)事件)

          ² 點(dian)擊(ji)圓盤(pan)◄/►設置報警閾(yu)值(zhi),範(fan)圍 000~990V:

          l 0~10V 按(an) 1V 增(zeng)幅設置

          l 10~990V 按(an) 10V 增(zeng)幅設置

          ² 如(ru)果(guo)選(xuan)擇(ze)了(le)“Raw Input"測(ce)試(shi)模(mo)式(shi),可(ke)以(yi)選擇(ze) 1~1500mV

          ² 設置完成(cheng)後,點擊(ji)圓盤(pan)中(zhong)間(jian)的(de)8 返(fan)回待機界面

          ESD Events

          Power

          C 08:30

          Distance: 4.0"10.2cm

          Model: CDM

          ESD Events

          Power

          C 08:30

          000 V

          設置距離(li)和模(mo)式(shi)

          設置報警閾(yu)值(zhi)

          按(an)以(yi)上(shang)設置完成(cheng)後,即可(ke)開始(shi)測(ce)試(shi)。測(ce)試(shi)時(shi)屏幕出(chu)現(xian)閃(shan)電(dian)符(fu)號(hao),表示開啟(qi)了(le)信(xin)號(hao)屏蔽功(gong)能,儀器剔(ti)除(chu)了(le)非(fei)ESD 放(fang)電(dian)信(xin)號(hao),只(zhi)顯示靜電(dian)放電(dian)事件。點擊(ji)該(gai)符(fu)號(hao)切換(huan)到(dao)全(quan)信(xin)號(hao)模(mo)式(shi),這(zhe)時(shi)出(chu)現(xian)三角(jiao)形符(fu)號(hao),表示儀器顯(xian)示所有(you)探(tan)測到(dao)的(de)信(xin)號(hao),包括 EMI 背景噪(zao)音(yin)和 ESD 放電(dian)信(xin)號(hao)。

          測(ce)試(shi)時(shi),屏幕顯示的(de)電(dian)壓值(zhi)為估算(suan)的(de)放電(dian)電(dian)壓,數(shu)字為超過(guo)閾(yu)值(zhi)的(de)放電(dian)次(ci)數(shu)。最高(gao)可以(yi)記錄 32767 次(ci)放電(dian)次(ci)數(shu)。點擊 Power/C 鍵可(ke)以(yi)清零(ling)放(fang)電(dian)次(ci)數(shu),重(zhong)新累(lei)計(ji)。

          4.3. 按(an)照 ANSI/ESD SP17.1 規(gui)範進(jin)行(xing)靜電(dian)放電(dian)事件風險評(ping)估流程

          備(bei)註(zhu):

          ² 首(shou)先(xian)確(que)定(ding)靜電(dian)敏感器件(jian)是否有(you)導(dao)體(ti)部位(wei)接(jie)觸(chu)或非常接近導(dao)電(dian)的(de)物體(ti),例(li)如(ru)金屬-金屬接(jie)觸,如(ru)果沒有(you),通(tong)常不(bu)會(hui)有(you)靜(jing)電(dian)放電(dian)風險,無需(xu)進(jin)壹步(bu)進行(xing)風險評(ping)估。

          ² 空(kong)載測(ce)試(shi):在(zai)制(zhi)程中不(bu)要(yao)放入靜電(dian)敏感器件(jian),記錄下測到(dao)的(de)靜電(dian)放電(dian)現(xian)象(xiang)

          ² 放(fang)入靜電(dian)敏感器件(jian)後,如果(guo)沒(mei)有(you)探(tan)測到(dao)更(geng)多(duo)的(de)放電(dian)現(xian)象(xiang),表示探(tan)測到(dao)的(de)是幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)/背(bei)景噪(zao)音(yin),而非放入靜電(dian)敏感器件(jian)後造(zao)成的(de)靜電(dian)放電(dian),評估結(jie)束(shu)-低(di)風險

          ² 如(ru)果(guo)探(tan)測到(dao)更(geng)多(duo)的(de)放電(dian)現(xian)象(xiang),根(gen)據測(ce)到(dao)的(de)放電(dian)電(dian)壓值(zhi)和器件(jian)的(de)靜電(dian)敏感閥值(zhi)來評估風險,如(ru)果(guo)放電(dian)電(dian)壓值(zhi)超過(guo)器件(jian)所列明(ming)的(de)閥值(zhi),采(cai)取措施(shi)消(xiao)除(chu)危險(xian),例(li)如(ru)采(cai)取接地(di)、離(li)子(zi)中(zhong)和等方(fang)式

          ² 采(cai)取消(xiao)除(chu)風險的(de)措施(shi)後,再(zai)次(ci)進行(xing)評估

          ○1 是否和靜電(dian)敏感器件(jian)直(zhi)接

          接(jie)觸(chu)或(huo)距離(li)非(fei)常近(jin)

          評(ping)估結(jie)束(shu)-低(di)風險

          ○2 進(jin)行(xing)空(kong)載測(ce)試(shi)

          ○3 把(ba)靜(jing)電(dian)敏感器件(jian)放(fang)入後測

          試(shi),對(dui)比測試(shi)結(jie)果(guo)

          ○4 是否測(ce)到(dao)更(geng)多(duo)的(de)

          靜(jing)電(dian)放電(dian)事件?

          ○5 評(ping)估結(jie)束(shu)-低(di)風險

          否(fou)

          否(fou)

          ○6 評(ping)估風險程度(du)

          消(xiao)除(chu)風險

          按(an) 2~5 步(bu)驟(zhou)再(zai)次(ci)評估


          5. 數(shu)據查(zha)看(kan)和處(chu)理(li)

          5.1. 安(an)裝(zhuang) SD 卡(ka)

          1)把(ba) SD 卡(ka)插(cha)入儀器,註(zhu)意(yi)方(fang)向(xiang),有(you)字(zi)的(de)面朝上(shang),有(you)金屬觸(chu)腳的(de)在裏面。註意(yi)!壹(yi)定(ding)要(yao)在儀器關機的(de)情況(kuang)下(xia)拔(ba)插(cha) SD 卡(ka)。

          2)插(cha)好(hao)卡(ka)後,儀器開機,儀器會(hui)對(dui)新(xin)卡(ka)或(huo)空(kong)卡(ka)進(jin)行(xing)初始(shi)化(hua)。然後進入待機界面,在屏幕右中可以(yi)看(kan)見(jian) SD卡(ka)圖(tu)標(biao),表示成功(gong)。如果(guo)不(bu)顯(xian)示 SD 卡(ka)圖(tu)標(biao)或有(you)紅(hong)叉,表示該卡(ka)不(bu)兼(jian)容。

          3)所(suo)有(you)測(ce)試(shi)記錄會保存在(zai) SD 卡(ka)上(shang)。註:只(zhi)有(you)超過(guo)報警閾(yu)值(zhi)的(de)值(zhi)才會被(bei)記錄下來。

          在(zai)待(dai)機界面,點擊(ji) SD 卡(ka)符(fu)號(hao),進入查看(kan)界面。點擊(ji)圓盤(pan)的(de)▲/▼和◄/►可以(yi)上(shang)/下和左/右滾動查看(kan)。

          5.2. 數(shu)據處(chu)理(li)

          向(xiang)供應(ying)商獲(huo)取 EMEYE_Converter.zip 軟件(jian),解壓後雙(shuang)擊(ji) setup.exe 安(an)裝(zhuang),按(an)指(zhi)示進行(xing)安(an)裝(zhuang),最後點擊(ji) Close完(wan)成。EM EYE 操作手冊(ce)/APS-21 9

          把(ba) SD 卡(ka)從(cong)儀器中(zhong)取出(chu),放入配(pei)套(tao)的(de)卡(ka)托(tuo),插(cha)到(dao)電(dian)腦的(de)卡(ka)槽上(shang)

          1) 打開安(an)裝(zhuang)的(de) Em Eye File Converter Rev.5 軟件(在(zai)桌(zhuo)面有(you)快(kuai)捷(jie)圖(tu)標(biao))

          2) 點(dian)擊(ji) File > Open Ctrl+O,選(xuan)擇(ze) SD 卡(ka)上(shang)的(de) ESD3M0003.esd 文件

          3) 打開後可以(yi)看(kan)見(jian)所(suo)有(you)的(de)測試(shi)記錄,每(mei)條表示壹個時(shi)間(jian)點(dian)的(de)測試(shi)記錄。例(li)如(ru)下圖(tu)第(di)壹行(xing),表示 2016 年 8月 29 日(ri) 22 點 39 分 17 秒(miao)的(de)測試(shi)記錄,共有(you) 7 個 ESD 事件發生(報(bao)警閾(yu)值(zhi)為 370V)

          4) 點(dian)擊(ji)任(ren)壹(yi)條測試(shi)記錄,然後點擊(ji) File > Save 保(bao)存。例(li)如(ru)下圖(tu),保(bao)存在(zai) C 盤下(xia)的(de)“ESD 測試(shi)"文件夾(jia)

          5) 用 EXCEL 打開該所保存的(de)文件可(ke)以(yi)顯示詳細的(de)測試(shi)數(shu)據

          例(li)如(ru)上(shang)圖(tu),打開所保存的(de) 2016 年 8 月 29 日(ri) 22 點 39 分 17 秒(miao)的(de)測試(shi)記錄,可以(yi)看(kan)見(jian)詳(xiang)細的(de) 7 個 ESD 事件。

          備(bei)註(zhu):當(dang) SD 卡(ka)滿(man)後,把 SD 卡(ka)插(cha)入電(dian)腦,然後清空(kong)該卡(ka)即(ji)可(ke)。

          重(zhong)新把(ba)空(kong)卡(ka)插(cha)入儀器後,儀器會(hui)自(zi)動初(chu)始(shi)化(hua)。


          6. 故(gu)障(zhang)信(xin)息(xi)

          屏幕提示 解決方(fang)法

          ERROR: Sensor is disconnected. Click here to turn device off.

          未裝(zhuang)上(shang)探(tan)測模(mo)塊(kuai)就開機。先關機,裝(zhuang)上(shang)探(tan)測模(mo)塊(kuai)後再(zai)開機使用。

          ERROR:Card was removed. Data may be

          lost and card could be damaged.

          Click here to close the window.

          在(zai)開機狀態(tai)下(xia),拔(ba)出(chu)了(le) SD 卡(ka),可(ke)能(neng)會(hui)導致(zhi)數(shu)據丟(diu)失(shi)和SD 卡(ka)損(sun)壞(huai)。點擊關閉該(gai)提(ti)示,關機後插回(hui) SD 卡(ka)。

          WARNING:No memory card. You can add it at any time.

          Click here to close the window.

          儀器未插(cha)入 SD 卡(ka),可(ke)以(yi)在任何時(shi)候插(cha)入 SD 卡(ka)。點(dian)擊(ji)關閉該(gai)提(ti)示。

          PREPARING CARD FOR RECORDING!!!

          DO NOT REMOVE!!! PLEASE WAIT. 正(zheng)在初(chu)始(shi)化(hua) SD 卡(ka),不(bu)要(yao)拔(ba)出(chu) SD 卡(ka)。

          ERROR: Invalid memory card. Format or replace it.

          Click here to close the window.

          SD 卡(ka)格(ge)式不(bu)兼(jian)容,先在電(dian)腦上(shang)格(ge)式化成(cheng) FAT32 格(ge)式再(zai)使用。

          ERROR!!! STACK OVERFLOWED.

          Click here to turn device off.

          出(chu)現(xian)嚴(yan)重(zhong)故障(zhang)。需(xu)要(yao)重(zhong)置儀器,如(ru)果(guo)問題未解決,必(bi)需返(fan)回原廠(chang)維修(xiu)。

          備(bei)註(zhu):當(dang)儀器出(chu)現(xian)死屏或嚴(yan)重(zhong)故障(zhang)時(shi),用回(hui)形針頂壹(yi)下儀器底(di)部的(de)重(zhong)置孔,儀器恢復(fu)到(dao)出(chu)廠(chang)狀態(tai),通常(chang)能(neng)解決故(gu)障。

          備(bei)註(zhu):儀器長期閑置,電(dian)池可(ke)能(neng)耗(hao)盡(jin)電(dian)量。這(zhe)時(shi)插上(shang)電(dian)源適(shi)配(pei)器(qi),用回(hui)形針頂壹(yi)下儀器底(di)部的(de)重(zhong)置孔,電(dian)池重(zhong)新被(bei)激(ji)活(huo),儀器開始(shi)充(chong)電(dian)。


          7. 儀器校(xiao)準(zhun)

          測(ce)試(shi)靜(jing)電(dian)放電(dian)電(dian)壓,測試(shi)方(fang)法是獲取放電(dian)信(xin)號(hao)的(de)強度(du)然後采(cai)用專有(you)算(suan)法計(ji)算(suan)出(chu)放電(dian)電(dian)壓值(zhi)。

          原(yuan)廠(chang)校準(zhun)書僅顯(xian)示儀器能(neng)否(fou)正(zheng)確接(jie)收到(dao)放(fang)電(dian)信(xin)號(hao),校(xiao)準(zhun)方(fang)法是采(cai)用脈(mai)沖電(dian)源輸(shu)出(chu) 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信(xin)號(hao),然後驗證(zheng)儀器接(jie)收到(dao)的(de)信(xin)號(hao)強(qiang)度(du)(dBμV)是否準(zhun)確。

          疑(yi)問壹:如(ru)何(he)在(zai)第(di)三方(fang)進行(xing)校準(zhun)?

          答:不(bu)能(neng)在第(di)三方(fang)機構進(jin)行(xing)校準(zhun),因(yin)為原(yuan)廠(chang)對(dui)儀器的(de)天(tian)線數(shu)據(電(dian)容、阻(zu)抗(kang))等均BU公開。第(di)三方(fang)無法對(dui)儀器能(neng)否(fou)接收正(zheng)確放(fang)電(dian)信(xin)號(hao)進(jin)行(xing)驗證(zheng)。即(ji)使第(di)三方(fang)可以(yi)驗證儀器是否準(zhun)確獲(huo)取放電(dian)信(xin)號(hao),後續也(ye)無法根據信(xin)號(hao)強(qiang)度(du)計(ji)算(suan)出(chu)放電(dian)電(dian)壓值(zhi),該(gai)算(suan)法為原(yuan)廠(chang)專有(you)算(suan)法,BU公開。

          所(suo)以(yi)儀器必(bi)需(xu)返(fan)回原廠(chang)進行(xing)校準(zhun),亞(ya)洲用戶可以(yi)返(fan)回 DESCO 日本(ben)公(gong)司(si)進(jin)行(xing)校準(zhun)。

          疑(yi)問二:該(gai)儀器測(ce)試(shi)放(fang)電(dian)電(dian)壓,但(dan)為什(shen)麽沒有(you)測(ce)試(shi)精(jing)度(du)參(can)數(shu)?

          答:靜(jing)電(dian)放電(dian)電(dian)壓和實際(ji)物(wu)體(ti)的(de)電(dian)容有(you)關,儀器無法事先知(zhi)道(dao)被測物(wu)體(ti)的(de)電(dian)容,只(zhi)能采(cai)取壹個經驗(yan)值(zhi)(根(gen)據實驗(yan)取壹個能兼(jian)顧(gu)大多數(shu)器件的(de)經驗值(zhi))來計(ji)算(suan)放電(dian)電(dian)壓。所以(yi)儀器的(de)讀數(shu)是接近(jin)實際(ji)放(fang)電(dian)電(dian)壓值(zhi),而沒有(you)壹(yi)個定量(liang)的(de)測試(shi)精(jing)度(du)。

          疑(yi)問三:如(ru)何直(zhi)觀地驗證儀器的(de)測試(shi)準(zhun)確(que)度(du)?

          答:下(xia)圖(tu)顯(xian)示了(le)靜(jing)電(dian)模(mo)擬器的(de)放電(dian)過(guo)程,儀器實測(ce)讀(du)數(shu)接近放電(dian)電(dian)壓。用戶可以(yi)用靜(jing)電(dian)放電(dian)槍做這(zhe)類(lei)驗證(zheng)。


          留(liu)言框(kuang)

          • 產(chan)品(pin):

          • 您的(de)單位(wei):

          • 您的(de)姓名(ming):

          • 聯(lian)系(xi)電(dian)話(hua):

          • 常用郵(you)箱:

          • 省份:

          • 詳細(xi)地(di)址:

          • 補充(chong)說(shuo)明:

          • 驗證碼:

            請輸(shu)入計(ji)算(suan)結(jie)果(guo)(填(tian)寫(xie)阿拉伯(bo)數(shu)字),如:三加(jia)四=7

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