基(ji)礎(chu)信息Product information

產(chan)品名稱：PRECISE S300B國產(chan)源表大電(dian)流300V，3A

產(chan)品型(xing)號(hao)：

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-06-12

產(chan)品簡(jian)介：

堅(jian)融(rong)實業——上海市先(xian)進企業!
堅融(rong)實業——專(zhuan)註(zhu)工業(ye)測(ce)試行(xing)業十(shi)六(liu)年!
堅融(rong)實業——通(tong)過德(de)國萊(lai)茵(yin)TUV認證供應商!
PRECISE S300B國(guo)產(chan)源表大電(dian)流300V，3A

產(chan)品特(te)性Product characteristics

堅融(rong)實業——上海市先(xian)進企業!

堅融(rong)實業——專(zhuan)註(zhu)工業(ye)測(ce)試行(xing)業十(shi)六(liu)年!

堅融(rong)實業——通(tong)過德(de)國萊(lai)茵(yin)TUV認證供應商!

堅融(rong)實業——擁有(you)替代(dai)進口(kou)品(pin)牌(pai)儀(yi)器(qi)儀(yi)表(biao)設備(bei)及非標(biao)定制(zhi)工(gong)廠(chang)!

堅融(rong)實業——實繳資(zi)本壹(yi)仟萬(wan)元，同(tong)行(xing)業中(zhong)居全國Q三(san)！抗(kang)金(jin)融(rong)風(feng)險(xian)能力(li)強！

產(chan)品選型

型號(hao)，最大電(dian)壓(ya)源/量程(cheng)，最大電(dian)流源/量程(cheng)，最大功(gong)率(lv)    精(jing)度    通(tong)信接(jie)口(kou)

S100B，30V，3A，30W±0.03% / ±0.1%，RS-232/GPIB/LAN

S200B，100V，3A，30W±0.03% / ±0.1%，RS-232/GPIB/LAN

PRECISE S300B國產(chan)源表大電(dian)流300V，3A，30W±0.03% / ±0.1%，RS-232/GPIB/LAN

普(pu)賽(sai)斯(si)PRECISE S100B國(guo)產(chan)源表應用領(ling)域

功(gong)率(lv)半導體(ti)

以SiC(碳化(hua)矽)、GaN(氮(dan)化(hua)鎵)為(wei)代(dai)表(biao)的功(gong)率(lv)半...

分立(li)器件(jian)

二極(ji)管/三極(ji)管/...

集(ji)成電(dian)路(lu)

材料研究

傳感(gan)器

PRECISE S300B國產(chan)源表大電(dian)流300V，3A

  高精(jing)度、大動態範(fan)圍、數字觸(chu)摸的國(guo)產(chan)化的源表， 集(ji)電壓(ya)、電流的輸(shu)入(ru)輸出(chu)及測量(liang)等多(duo)種(zhong)功(gong)能。

  最大輸(shu)出(chu)電壓(ya)300V，最小(xiao)測試電流分(fen)辨率3pA，支(zhi)持(chi)四象限工作，因此廣(guang)泛應用於各種(zhong)電(dian)氣(qi)特(te)性測(ce)試：半導體(ti)IC或元器(qi)件(jian)、功(gong)率(lv)器(qi)件、傳(chuan)感器(qi)、有(you) 機材料與納米(mi)材料等特(te)性測(ce)試和分析。

產(chan)品特(te)點

  5寸觸(chu)摸(mo)顯示(shi)屏(ping)，全圖形化(hua)操作(zuo)    

  範(fan)圍廣(guang)，高至300V低至3pA      

  內(nei)置(zhi)功(gong)能軟(ruan)件，加(jia)速測(ce)試            

  準確(que)度(du)為(wei)0.03%                          

  四象(xiang)限工作(源和阱(jing))

  豐(feng)富的掃(sao)描模式(shi)

  支持(chi)USB存儲(chu)，壹(yi)鍵導(dao)出(chu)報告(gao)

  多種(zhong)通(tong)信接(jie)口(kou)，RS-232/GPIB/LAN

為(wei)什(shen)麽選擇S系列數表?

性能強大-作(zuo)為(wei)電(dian)壓(ya)源和或電流源，並同(tong)步(bu)測(ce)量(liang)電(dian)流和(he)或電壓(ya)，支持(chi)四象限工作。可以限定電壓(ya)或電流輸(shu)出(chu)大小(xiao)，預防器件(jian)損(sun)壞(huai)。覆(fu)蓋3pA-3A的電(dian)流範(fan)圍100μV-300V的電(dian)壓(ya)範(fan)圍，測量精(jing)度可達0.03%。

靈活多(duo)樣(yang)-支持(chi)兩(liang)線(xian)制(zhi)和(he)四線(xian)制(zhi)測(ce)量，更(geng)準(zhun)確(que)的低內(nei)阻(zu)量(liang)測(ce);集(ji)成線(xian)性(xing)階(jie)梯掃(sao)描(miao)、對(dui)數(shu)階(jie)梯掃(sao)描(miao)、自定(ding)義掃描等模(mo)式;專(zhuan)業l-V特(te)性及半導體(ti)參(can)數(shu)測(ce)試軟(ruan)件。

易學實用-簡(jian)化了(le)如I-V和(he)l-t/V-t曲(qu)線(xian)等(deng)各(ge)種(zhong)應用的測(ce)量準備(bei)工作(zuo)。電容(rong)式觸(chu)摸屏(ping)圖形用戶界(jie)面(mian)(GUI) ,提(ti)供圖形化(hua)和數(shu)字化兩(liang)種(zhong)測(ce)量(liang)結(jie)果顯示模式(shi)，便(bian)於使用和(he)查看。

多合(he)壹(yi)高精(jing)密(mi)SMU，簡(jian)化測(ce)量(liang)

  傳統的半導體(ti)I-V特(te)性測(ce)量方(fang)案通(tong)常是復(fu)雜且(qie)成本昂(ang)貴(gui)的，需要(yao)多種(zhong)儀(yi)器(qi)配合(he)完(wan)成(cheng)測試，對(dui)不(bu)同(tong)儀(yi)器(qi)進行(xing)編程(cheng)、同(tong)步(bu)、連接(jie)、測量(liang)和分析，既復(fu)雜又耗(hao)時(shi)，還需占用大量(liang)測(ce)試臺空(kong)間(jian)。

  S系列(lie)數字(zi)源表可作(zuo)為(wei)獨(du)立(li)的恒(heng)壓(ya)源或恒(heng)流源、伏特(te)計、安(an)培(pei)計和(he)歐(ou)姆(mu)表(biao)，還(hai)可用作(zuo)精密(mi)電(dian)子(zi)負載(zai)，其(qi)高(gao)性能架構(gou)允許(xu)其(qi)使(shi)用作(zuo)為(wei)波(bo)形(xing)發生器、以及自動電流-電(dian)壓(ya)(I-V)表征(zheng)系統。極(ji)大縮短(duan)測(ce)試系統的開(kai)發、建(jian)立和(he)維(wei)護(hu)的時(shi)間(jian)，同(tong)時節(jie)省(sheng)測試架或測試臺的寶(bao)貴(gui)“空(kong)間(jian)"，降(jiang)低購買(mai)測(ce)試系統的整(zheng)體成本。

四象(xiang)限工作，可以作(zuo)為(wei)源或負載(zai)

  電源象限是指以電(dian)源輸出(chu)電(dian)壓(ya)為(wei)X軸(zhou)、輸(shu)出(chu)電流為(wei)Y軸(zhou)形(xing)成(cheng)的象(xiang)限圖。第(di)壹(yi)、三象(xiang)限即電壓(ya)電流同(tong)向(xiang)，源表對(dui)其(qi)它(ta)設備(bei)供電(dian)，稱為(wei)源模式(shi)；第(di)二、四(si)象限即電壓(ya)電流反(fan)向(xiang)，其(qi)它(ta)設備(bei)對(dui)源表放電，源表被(bei)動吸收流入(ru)的電(dian)流，且(qie)可為(wei)電(dian)流提(ti)供返(fan)回路(lu)徑(jing)，稱為(wei)阱(jing)模(mo)式(shi)。

  與傳統矩陣(zhen)電(dian)源不(bu)同(tong)，S系列(lie)源表在(zai)同(tong)等功(gong)率(lv)下，客(ke)戶可根(gen)據(ju)實際需求(qiu)，選擇大電(dian)壓(ya)小(xiao)電流或小(xiao)電壓(ya)大電(dian)流輸(shu)出(chu)。選擇的量(liang)程(cheng)不(bu)同(tong)，S系列(lie)源表的源/阱(jing)極(ji)限也(ye)有(you)區別(bie)。

源限度-電壓(ya)源：士10V (≤3A量(liang)程(cheng))，土30V (≤1A量(liang)程(cheng)),士300V (≤100mA量(liang)程(cheng))

源限度-電流源：土3.15A (≤10V量(liang)程(cheng))，土1.05A(≤30V量(liang)程(cheng))，士105mA (≤300V量(liang)程(cheng))

提(ti)供的應用程(cheng)序

- 序列掃(sao)描(miao)

- 自定(ding)義序列

- 數據(ju)記(ji)錄(lu)儀(yi)：持(chi)續輸出(chu)恒(heng)壓(ya)源測試模式；持續輸出(chu)恒(heng)流源測試模式

- APD管

- 晶體(ti)管：MOSFET管(guan)測(ce)試；三極(ji)管測試

- LIV：PIN管掃(sao)描測(ce)試

- Gummer：雙(shuang)臺源表使(shi)用同(tong)樣(yang)參(can)數(shu)進行(xing)掃描(miao)

二極(ji)管完(wan)整(zheng)l-V特(te)性曲(qu)線(xian)