基(ji)礎信(xin)息Product information

產(chan)品(pin)名稱(cheng)：同惠(hui)TONGHUI TH2692絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)儀

產(chan)品(pin)型號(hao)：

更新時(shi)間：2025-11-05

產(chan)品(pin)簡(jian)介(jie)：

同惠(hui)TONGHUI TH2692絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)儀
高(gao)達1000V可調(tiao)測試(shi)電(dian)壓，最大(da)2.4mA測試(shi)電(dian)流(liu)
10kΩ-100GΩ電(dian)阻(zu)測試(shi)範圍(wei)

產(chan)品(pin)特(te)性Product characteristics

“精(jing)"——上(shang)海市(shi)先JIN企業(ye)!

“專(zhuan)"——專註(zhu)工(gong)業(ye)測試(shi)十六(liu)年!

“特(te)"——德國(guo)萊(lai)茵(yin)TUV認(ren)證供應(ying)商!

“新"——註(zhu)冊(ce)資(zi)本(ben)實繳(jiao)壹(yi)仟萬元!實繳(jiao)資金行(xing)業(ye)中居(ju)前(qian)茅!抗(kang)金融(rong)風險(xian)能力強!

同惠(hui)TONGHUI TH2692絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)儀應(ying)用(yong)

材(cai)料(liao)特(te)征測試(shi)

半(ban)導(dao)體(ti)、納(na)米材(cai)料(liao)、聚合(he)物材(cai)料(liao)、介(jie)質材(cai)料(liao)、電(dian)化(hua)學(xue)材(cai)料(liao)、鐵(tie)電(dian)材(cai)料(liao)、石墨(mo)烯(xi)、陶瓷(ci)、生(sheng)物(wu)材(cai)料(liao)、橡膠(jiao)、薄(bo)膜、金(jin)屬、有機(ji)材(cai)料(liao)等

電(dian)子(zi)元器件泄漏(lou)電(dian)流(liu)和(he)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)

    電(dian)容(rong)器、電(dian)阻(zu)器、二極(ji)管、晶(jing)體(ti)管、傳感器、TFT和(he)CNT等類型、光(guang)電(dian)器件、納米器件、太陽(yang)能電(dian)池、開(kai)關、繼電(dian)器等

新能源(yuan)電(dian)池

    電(dian)池芯微短(duan)路(lu)測試(shi)、絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)

半(ban)導(dao)體(ti)和(he)其(qi)它(ta)器件I-V特(te)性測量(liang)

同惠(hui)TONGHUI TH2692絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)儀性能特(te)點

高(gao)達1000V可調(tiao)測試(shi)電(dian)壓，最大(da)2.4mA測試(shi)電(dian)流(liu)

10kΩ-100GΩ電(dian)阻(zu)測試(shi)範圍(wei)

單(dan)測最快(kuai)約(yue)50ms

5寸(cun)電(dian)容(rong)式觸(chu)摸(mo)屏，800×480分辨(bian)率(lv)

中(zhong)英文(wen)操作界(jie)面(mian)

電(dian)阻(zu)和(he)電(dian)流(liu)都可進行(xing)分(fen)選(xuan)判(pan)定

四(si)端接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功(gong)能

短(duan)路(lu)檢(jian)查(zha)功(gong)能（電(dian)池微(wei)短(duan)路(lu)測試(shi)）

16個(ge)測試(shi)文(wen)件保(bao)存(cun)，用於(yu)不(bu)同測試(shi)條件的快(kuai)速(su)切(qie)換

接(jie)口：USB DEVICE，RS232C，EXT.I/O，Analog Output，USB HOST

簡(jian)介(jie)

TH2692型絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)儀是壹款(kuan)具(ju)有(you)高電(dian)壓爬(pa)升速(su)度(du)、高精(jing)度(du)、高穩(wen)定(ding)性的(de)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)儀。

TH2692具(ju)有高低(di)端(duan)接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功(gong)能和(he)上下(xia)限(xian)分選(xuan)功(gong)能，並配備了(le)EXT.I/O接(jie)口、RS232C接(jie)口和(he)USB DEVICE 接(jie)口，可以(yi)廣(guang)泛(fan)的(de)應(ying)用於(yu)產線(xian)的(de)自動(dong)化(hua)測試(shi)。

TH2692自(zi)帶的低壓短路(lu)檢(jian)測功(gong)能非(fei)常適(shi)應(ying)電(dian)池電(dian)芯的微(wei)短(duan)路(lu)測試(shi)，從而避免(mian)因(yin)施加高壓使(shi)電(dian)池內(nei)部(bu)的微(wei)短路(lu)部(bu)分被(bei)燒(shao)斷，造成不(bu)良(liang)品(pin)被(bei)判(pan)定為(wei)良品(pin)的(de)風險(xian)。

電(dian)阻(zu)測試(shi)10kΩ-100GΩ

輸(shu)出(chu)電(dian)壓25V - 1000V

輸(shu)出(chu)電(dian)流(liu)0 - 2.4mA

測量(liang)速(su)度(du)  快(kuai)速(su)：50ms 中(zhong)速(su)：200ms 慢(man)速(su)：500ms

技(ji)術參數

功(gong)能特(te)點

1.  超(chao)小(xiao)體(ti)積(ji)、配置(zhi)齊全

     TH2692體(ti)積(ji)小(xiao)巧，標準2U高(gao)度(du)，前後測試(shi)端，標配了RS232C、USB DEVICE、USB HOST、EXT.I/O、Analog等接(jie)口，無(wu)論(lun)上(shang)架(jia)測試(shi)、測試(shi)臺(tai)還(hai)是自動(dong)化(hua)產(chan)線(xian)集成(cheng)，都(dou)遊刃(ren)有(you)余(yu)。

2.  5寸(cun)電(dian)容(rong)式觸(chu)摸(mo)屏，友好互(hu)動界(jie)面(mian)

     TH2692采用5寸電(dian)容(rong)式觸(chu)摸(mo)屏，積木(mu)式設(she)計(ji)的(de)操作界(jie)面(mian)簡(jian)潔(jie)而(er)又(you)全面(mian)，測量(liang)參數設(she)置(zhi)、測量(liang)參數回讀、極(ji)限(xian)設(she)置(zhi)、測量(liang)結果判(pan)斷等在單個(ge)頁面(mian)即(ji)可顯示(shi)，壹目了然(ran)。

3.  接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功(gong)能，保(bao)證測量(liang)結果正確(que)無(wu)誤(wu)。

在(zai)進行(xing)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)時(shi)，判(pan)斷依據是根據測量(liang)回(hui)路(lu)返(fan)回的電(dian)流(liu)值或(huo)電(dian)阻(zu)值(zhi)判(pan)斷是否合(he)格(ge)，絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)越(yue)高代(dai)表絕(jue)緣(yuan)性能越(yue)好。

但(dan)是如果測試(shi)線(xian)斷路(lu)、測試(shi)工(gong)裝(zhuang)表面(mian)氧化(hua)或(huo)磨(mo)損(sun)，會導(dao)致測試(shi)線(xian)與被(bei)測件(jian)接(jie)觸(chu)不(bu)良(liang)，此(ci)時(shi)測量(liang)回(hui)路(lu)會得到(dao)近(jin)似0的(de)電(dian)流(liu)值或(huo)超(chao)出(chu)儀器測量(liang)範(fan)圍的(de)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)值(zhi)，依據預設(she)的評(ping)判(pan)標準，這(zhe)種(zhong)讀數結果可能會被(bei)錯誤地(di)解讀為被(bei)測元(yuan)件(jian)處於(yu)良好狀態(tai)，即(ji)判(pan)定為(wei)良品(pin)。然(ran)而(er)，事(shi)實真(zhen)相(xiang)是，由(you)於(yu)實際(ji)測試(shi)並未有(you)效(xiao)進行(xing)，這(zhe)壹(yi)判(pan)斷結果是不(bu)準(zhun)確(que)的(de)，因(yin)此(ci)構成了(le)對被(bei)測元(yuan)件(jian)狀態(tai)的誤(wu)判(pan)。

為(wei)解決此(ci)問題(ti)，TH2692特(te)別設(she)計(ji)了(le)接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)功(gong)能，開(kai)啟(qi)此功(gong)能後(hou)，每(mei)次讀取測試(shi)電(dian)壓後均進行(xing)接(jie)觸(chu)檢(jian)查(zha)，以(yi)保(bao)證測試(shi)過(guo)程中(zhong)測試(shi)回路(lu)突(tu)然(ran)中(zhong)斷亦能實時(shi)判(pan)斷，並及(ji)時(shi)在(zai)主(zhu)參數區(qu)域(yu)顯示並標明接(jie)觸(chu)不(bu)良(liang)的(de)具(ju)體(ti)測試(shi)端。

4.  短(duan)路(lu)檢(jian)查(zha)（電(dian)池微(wei)短(duan)路(lu)測試(shi)）功(gong)能，無(wu)損(sun)檢(jian)測電(dian)芯微短(duan)路(lu)

鋰電(dian)池在(zai)生(sheng)產(chan)過(guo)程中(zhong)，會在電(dian)池內(nei)部(bu)電(dian)芯與電(dian)芯之間、或(huo)單片(pian)電(dian)芯內部(bu)形(xing)成微小(xiao)局(ju)部(bu)短(duan)路(lu)情(qing)況，即(ji)微短(duan)路(lu)。微(wei)短路(lu)情(qing)況不(bu)會直接(jie)燒(shao)壞(huai)電(dian)池，而(er)是在較(jiao)短(duan)時(shi)間內(nei)（幾周或(huo)幾個月(yue)）降(jiang)低(di)電(dian)芯性能，導(dao)致電(dian)芯或(huo)電(dian)池組不(bu)能使(shi)用(yong)。

造(zao)成微短(duan)路(lu)通(tong)常有如(ru)下(xia)幾個原(yuan)因

1)     粉(fen)塵(chen)或(huo)雜(za)物：電(dian)芯疊片(pian)或(huo)卷片(pian)時(shi)，因(yin)空氣環境不(bu)達標，導(dao)致粉(fen)塵(chen)或(huo)尖銳(rui)雜(za)物附著(zhe)在(zai)電(dian)芯隔膜上(shang)，刺(ci)穿隔膜，形(xing)成微(wei)短路(lu)。

2)     電(dian)芯隔膜錯位：通常是在生(sheng)產(chan)過(guo)程中(zhong)隔膜邊(bian)緣縮(suo)小(xiao)導(dao)致電(dian)芯正負極(ji)直接(jie)接(jie)觸(chu)造(zao)成(cheng)電(dian)芯損(sun)壞(huai)。

3)     隔膜質量(liang)差：由(you)於(yu)電(dian)池組使(shi)用(yong)過(guo)程中(zhong)經常大(da)電(dian)流(liu)充放電(dian)，質量(liang)不(bu)達標的隔膜由(you)於(yu)無(wu)法(fa)承受短(duan)時(shi)間內(nei)巨(ju)大(da)的(de)鋰離子(zi)穿過(guo)而導(dao)致局(ju)部或(huo)大(da)面(mian)積破損(sun)，電(dian)芯劇(ju)烈(lie)發(fa)燙(tang)後(hou)損(sun)壞(huai)。

4)     焊(han)接(jie)工(gong)藝：采用普(pu)通(tong)電(dian)焊(han)或(huo)者點(dian)焊(han)等焊(han)接(jie)方(fang)式時(shi)，會極(ji)耳(er)焊(han)接(jie)點出(chu)現微焊(han)接(jie)或(huo)氣泡(pao)，極(ji)耳(er)容(rong)易脫落(luo)。

微(wei)短路(lu)對電(dian)池危(wei)害(hai)極(ji)大(da)，是引起電(dian)池自(zi)放電(dian)的(de)主要(yao)原(yuan)因，主(zhu)要(yao)表現在(zai)：

1） 鋰電(dian)池、鋰電(dian)池組中單(dan)片(pian)電(dian)芯電(dian)壓放電(dian)時(shi)下(xia)降(jiang)較(jiao)快(kuai)，充電(dian)時(shi)上(shang)升(sheng)快(kuai)。

2） 電(dian)池沒(mei)電(dian)壓或(huo)者無(wu)法(fa)充放電(dian)。 

因(yin)此，在電(dian)池/電(dian)芯測試(shi)過(guo)程中(zhong)，微短路(lu)測試(shi)非(fei)常重要(yao)，常規測試(shi)方(fang)法(fa)通常用大(da)電(dian)壓或(huo)大(da)電(dian)流(liu)測試(shi)，但這(zhe)種(zhong)方(fang)法(fa)極(ji)易直(zhi)接(jie)燒(shao)毀(hui)微短路(lu)部(bu)位而導(dao)致測試(shi)結果為良(liang)品(pin)。

TH2692采用了獨(du)特(te)的設(she)計(ji)，可有效(xiao)規(gui)避(bi)直(zhi)接(jie)使(shi)用(yong)高(gao)壓測試(shi)導(dao)致燒(shao)毀(hui)微短路(lu)部(bu)位的誤判(pan)結果。

5.  主(zhu)副(fu)參數比較(jiao)器，多種(zhong)判(pan)斷結果輸出(chu)方(fang)式，適(shi)合(he)自動(dong)化(hua)系(xi)統(tong)配套(tao)

儀(yi)器可對電(dian)流(liu)或(huo)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)進行(xing)比較(jiao)分選(xuan)，主參數為絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)模(mo)式時(shi)上(shang)下(xia)限(xian)設(she)置(zhi)範(fan)圍(wei)：0.000 - 1000GΩ，主(zhu)參數為電(dian)流(liu)模式，上(shang)下(xia)限(xian)設(she)置(zhi)範(fan)圍(wei)：0.000 - 1000A，主(zhu)副(fu)參數可直接(jie)點擊(ji)屏幕主參數位置(zhi)快(kuai)速(su)切(qie)換。

1） 測試(shi)結果和(he)判(pan)斷結果直接(jie)在儀(yi)器屏幕上顯示

       直(zhi)接(jie)在儀(yi)器屏幕上顯示

        除(chu)了在屏幕上顯示測量(liang)結果外，還(hai)可通過(guo)比較(jiao)訊(xun)響功(gong)能直(zhi)接(jie)用聲(sheng)音(yin)輸出(chu)結果。

2） 測試(shi)過(guo)程中(zhong)數據采集

       TH2692可通過(guo)RS232C或(huo)USB Device接(jie)口自(zi)動(dong)將測量(liang)值(zhi)和(he)判(pan)定結果以(yi)數(shu)據方(fang)式發(fa)送給 PC。

3） 自(zi)動化(hua)測試(shi)交互(hu)信(xin)號(hao)

       對於(yu)自動(dong)化(hua)系(xi)統(tong)自(zi)動(dong)判(pan)斷，則可以(yi)通(tong)過(guo)EXT.I/O接(jie)口接(jie)收自(zi)動(dong)化(hua)產(chan)線(xian)觸(chu)發(fa)信(xin)號(hao)，並將測量(liang)結果直接(jie)通過(guo)I/O信(xin)號(hao)輸出(chu)。

     儀(yi)器更貼心(xin)的(de)設(she)計(ji)了(le)外部接(jie)口測試(shi)器，可對外部接(jie)口信(xin)號(hao)進行(xing)調(tiao)試(shi)與查(zha)看(kan)信(xin)號(hao)狀態(tai)。

      TH2692另(ling)外提供了模擬(ni)輸(shu)出(chu)接(jie)口，可將測試(shi)結果轉化(hua)為(wei)0-4V的(de)電(dian)壓輸出(chu)給數據記錄(lu)儀記錄(lu)